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公开(公告)号：CN119376117A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411567469.3
申请日：2024-11-05
Applicant: 上海交通大学 , 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 中国科学院物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于X射线条纹相机的在线辅助瞄准装置，包括：读出相机、光学耦合镜头、镜头连接件、倾斜角度调整平台、真空窗口法兰、反射镜与闪烁体组件。光学耦合镜头分别与读出相机和镜头连接件连接；镜头连接件设置在倾斜角度调整平台上；倾斜角度调整平台设置在真空窗口法兰上，通过调节角度调整读出相机的视场；真空窗口法兰用于将大气与真空环境隔绝；反射镜设置在真空窗口法兰中的真空环境中；闪烁体组件设置在预设的条纹相机的阴极狭缝处。本发明能够为调节提供参考，提高瞄准精度，缩短瞄准时间，提升实验效率。
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公开(公告)号：CN116952377A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310794004.0
申请日：2023-06-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 上海交通大学
Abstract: 本发明为了解决目前在真空环境下无法在线调节光纤与条纹相机狭缝的耦合、对准、以及位置调控的技术问题，从而提供了一种可三维调节的条纹相机时标光系统及使用方法。本发明包括条纹相机、真空装置、电控三维位移台、时标光聚焦组件和光纤；所述条纹相机的输入端和真空装置的连接，且在条纹相机的连接位置上设置有阴极狭缝；所述电控三维位移台安装在所述真空装置内，所述时标光聚焦组件与电控三维位移台的输出端连接，所述电控三维位移台的输入端与外部控制程序连接；所述光纤的一端与外部提供时标光信号的装置连接，另一端伸入时标光聚焦组件中，且与阴极狭缝对应。
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公开(公告)号：CN119544954A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411384392.6
申请日：2024-09-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于条纹相机慢扫描档位的动态性能标定系统，主要用于解决现有延长光路的方法较为复杂，通常需要延长60米以上，实验平台占用面积过大，实现难度大，且会导致光强衰减较高的技术问题。本发明一种用于条纹相机慢扫描档位的动态性能标定系统中，激光器输出的光脉冲进入条纹相机输出成像，在慢扫描档位下激光器输出的电脉冲信号进入数字延时器，数字延时器对电脉冲信号进行延时调节，使调节后的触发信号与光脉冲保持同步，读出相机读取条纹相机所输出的图像并分析。本发明还提供一种用于条纹相机慢扫描档位的动态性能标定方法。
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公开(公告)号：CN112509111B
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202011156312.3
申请日：2020-10-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供一种实时三维显微成像装置及方法，解决现有三维扫描成像方法，存在扫描周期较长，不能实时将目标物体三维结构记录并呈现的问题。该装置包括编码板、多焦点透镜、光学显微成像系统、成像面接收机构、计算机；编码板用于将待测物体三维信息进行空间编码；多焦点透镜包括N个透镜区域，N个透镜区域光轴平行且焦距不同；多焦点透镜N个透镜区域对编码后三维信息按照不同景深进行成像，获得待测物体不同深度的二维图像；光学显微成像系统对不同深度二维图像进行优化；成像面接收机构接收光学显微成像系统优化后的二维图像，且不同深度成像于成像面接收机构不同位置；计算机实时对成像面接收机构获取的图进行解调及重构，获得重构三维图像。
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公开(公告)号：CN112034505B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202010897910.X
申请日：2020-08-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明提供一种闪烁体余辉精确测量装置及方法，解决现有余辉测试装置存在余辉时间测量精度较低的问题。装置包括X射线屏蔽壳体、X射线发生机构、测试屏蔽壳体、探测器、时间处理单元；X射线发生机构包括光源、真空壳体、输入窗、光电阴极、聚焦极和阳极靶及光源控制电路，光源控制电路控制光源通断及向时间处理单元发送起始信号；光源外侧设有隔离密封套筒；真空壳体侧壁和X射线屏蔽壳体之间设X射线输出窗口；X射线屏蔽壳体、隔离密封套筒、真空壳体、X射线输出窗口形成腔体内充有绝缘散热介质；探测器设在测试屏蔽壳体内，用于向时间处理单元发送终止信号和获得待测闪烁体余辉的强度信息，时间处理单元用于获得待测闪烁体的余辉时间信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111352144B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202010229863.1
申请日：2020-03-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01T1/16
Abstract: 本发明涉及一种X射线超快检测装置及方法，以解决真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备体积大，成本高，且控制较为复杂；超快半导体二极管无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测的问题。该装置包括激光器、波长转换机构、时域放大机构、光电探测器、读出电路。激光器发出的测试激光传输至波长转换机构，波长转换机构将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光，再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构，时域放大机构对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后，输出至光电探测器，光电探测器将接收到的光信号转换为电信号，并通过读出电路显示。
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公开(公告)号：CN117970420A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410036968.3
申请日：2024-01-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及光电倍增管测试装置及方法，具体涉及一种微通道板型光电倍增管寿命测试装置及方法，解决了现有微通道板型光电倍增管寿命测试装置无法实时评估自身暗发射对阳极累积输出的影响，也无法评估暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化的技术问题。本发明在暗箱环境下，采用脉冲信号发生器、光源、漫透射光学部件、功分器、高压源、鉴别器、电荷数字转换器、延时电缆、计算机及采集软件等构建微通道板型光电倍增管寿命测试装置，可以同时记录光响应信号和暗发射信号，从而实时评估微通道板型光电倍增管自身暗发射对阳极累积输出的影响，以及暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化。
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公开(公告)号：CN113589320B
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202110785551.3
申请日：2021-07-12
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01S17/894 , G01S7/481 , G01S7/483 , G01S7/484
Abstract: 本发明公开了一种非扫描式单次三维激光雷达成像方法及装置，主要解决现有激光雷达成像技术中无法实现动态目标三维数据获取，无法单次三维成像，且成像装置结构复杂等问题。其中该方法包括：激光器发射出脉冲激光给分束镜,同时发射脉冲电信号经数字延迟器延迟发送给条纹相机；脉冲激光经分束镜反射、扩束镜或望远镜扩束后到达目标位置，目标位置反射的光信号经扩束镜或望远镜收束后，返回分束镜并透射；光学掩模板将投射的脉冲激光编码成伪随机编码；条纹相机将伪随机编码的光信号转换为电信号，然后通过压缩感知算法对目标位置的三维图像进行重构，最后通过荧光屏显示目标位置的三维图像。
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公开(公告)号：CN116466385A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202310477642.X
申请日：2023-04-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01T1/29
Abstract: 本发明涉及辐射流探测器及探测方法，具体涉及一种基于电子信号拉伸的高时间分辨辐射流探测器及探测方法，解决了现有的辐射流探测器时间响应慢的技术问题。本发明提供的辐射流探测器包括轴向磁场，以及沿径向方向依次设置在轴向磁场内的光电阴极、栅网、微通道板和集电阳极，光电阴极与栅网之间施加用于加速光电子的动态衰减电场，通过动态衰减电场对光电子进行加速，并在漂移区进行一段时间的运动拉伸后再入射至微通道板上，利用电子拉伸在有限的时间内将超快光信号转换为较长的时间尺度，提高了系统的时间分辨率，通过调节动态衰减电场可获得不同的拉伸放大倍数，从而适应不同的系统需求。
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公开(公告)号：CN115863137A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211486084.5
申请日：2022-11-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种高时间分辨率光电倍增管及实现方法，主要解决现有光电倍增管在电子倍增过程中存在渡越时间弥散，导致脉冲宽度较小的电子脉冲经过电子倍增后产生数倍的脉宽展宽，使得探测结果较原始信号产生探测失真，或者间隔时间短的两束电子脉冲在倍增过程中，前一脉冲的后沿部分与后一脉冲的前沿部分产生重叠，最终在阳极处同一输出导致难以识别两个脉冲的时间以及强度信息，进而影响了光电倍增管时间分辨率的技术问题。包括N个读出电极，以及设置于真空环境中的阴极、电子倍增器、N个选通电极和N个阳极，N为大于1的整数。
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