公开(公告)号：CN118113593A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202311435710.2

申请日：2023-10-31

申请人： 北京微电子技术研究所 ,  北京时代民芯科技有限公司

发明人： 李晓龙 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  武昊男 ,  魏晓飞 ,  冯国兵 ,  吕冰 ,  王高原 ,  贾森 ,  张昊

IPC分类号： G06F11/36 ,  G06F30/34

摘要： 一种针对FPGA的ATE测试向量快速迁移方法，包括：(1)根据测试需求，修改Vivado工程源文件，每个工程形成一个文件夹，多个工程形成源文件集；(2)利用FPGA批量仿真工具将步骤(1)的源文件集批量并行运行，生成Vivado工程并进行综合、实现，生成FPGA配置文件，生成仿真相关脚本文件；(3)批量并行运行步骤(2)中的仿真相关脚本文件，生成仿真波形文件。本发明方法通过简洁的人机交互界面，批量并行生成FPGA配置文件，脚本化进行Vivado与ModelSim联合仿真，批量并行生成仿真波形文件，自动化迁移FPGA测试向量，克服了通过IDE或手工输入脚本进行仿真耗时、不友好的缺点，提高了FPGA的ATE测试向量开发效率。

公开(公告)号：CN116609637A

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202310476572.6

申请日：2023-04-27

申请人： 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

发明人： 武昊男 ,  王勇 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  程长征 ,  魏晓飞 ,  李晓龙 ,  贾森 ,  黄耀慷 ,  张昊

IPC分类号： G01R31/28 ,  G11C29/56

摘要： 一种针对微系统内FPGA及FLASH单元的测试方法，采用由PXI测试仪、多个通用IO测试板卡以及测试夹；PXI测试仪对测试向量进行编码，控制通用IO板卡提供测试通道，测试夹具保障测试对象的电气连接。测试系统具备针对测试对象的自动化测试能力，主要包含以SELECTMAP模式对FPGA编程的能力；以测试向量的形式提供FPGA、FLASH的测试激励的能力；采集并判断FPGA、FLASH测试响应的能力。此外，在FLASH测试过程中，可以使用专用测试适配板进行多路并行测试，有效减少FLASH测试时间，提高测试效率。