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公开(公告)号：CN116931008A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310855572.7
申请日：2023-07-12
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 本发明公开了一种基于多芯片封装的抗辐射星载导航模块，属于导航技术领域，包括射频处理芯片、基带处理芯片、FLASH存储芯片、模数转换芯片；射频处理芯片、基带处理芯片、FLASH存储芯片、模数转换芯片均为裸芯片，通过引线键合工艺连接在基板上，选用的裸芯片具有抗辐射功能，使其能够满足空间轨道应用。抗辐射星载导航模块可以提供实时的导航、定位、测姿、测向、授时功能，满足通讯卫星、遥感卫星及各类型航天器的导航控制和空间探测应用。同时克服现有星载导航模块体积大，走线难，成本高等问题。
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公开(公告)号：CN114137582A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111327908.X
申请日：2021-11-10
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01S19/37
摘要： 一种基于可重构模块化的星载GNSS接收机，采用模块化设计，包括射频模块、导航模块、控制模块以及底板；其中，射频模块、导航模块、控制模块采用标准化结构设计，模块间可重构组合，可支持多天线输入、多机冗余备份并适用于星载场景。射频模块接收多路天线GNSS射频信号输入，并完成放大、合路与功分处理；导航模块基于一体化导航芯片完成GNSS信号的捕获、跟踪与定位；控制模块基于主控CPU完成与星上分系统间的通信及控制指令接收与执行等；底板用于提供模块间互联、对外接口以及基本供电。本发明适用于复杂星载场景，具有可重构特性，兼具灵活性、通用性与可靠性，能够大幅降低设计成本，实现批量化生产能力。
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公开(公告)号：CN112445748A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202011181739.9
申请日：2020-10-29
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F15/163
摘要： 一种面向微纳卫星的国产可控高可靠星务计算机，由国产高可靠的核心主控单元、可编程逻辑单元、存储单元、供电单元、接口单元和监控单元组成。主控单元基于SPARC V8体系结构，执行数据处理和任务调度；可编程逻辑单元由主控单元控制，用于灵活的可编程配置；存储单元挂载在主控单元上，负责对代码和数据的存储；供电单元实现电源保护以及电平转换，用于满足整个系统的供电需求；接口单元由主控单元和可编程逻辑单元的接口及外围电路组成，实现与星上其他分系统和载荷的通信；监控单元监测系统电压、电流、温度并反馈给主控单元。本发明面向微纳卫星应用，与传统星上计算机相比，采用国产可控器件，具有可靠性高、体积小、功耗低、灵活性佳等优点。
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公开(公告)号：CN107422254A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710619528.0
申请日：2017-07-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317 , G01R19/25
CPC分类号： G01R31/31702 , G01R19/2509 , G01R31/31704 , G01R31/31726
摘要： 本发明涉及一种面向集成微系统的内建芯片健康状态自监测方法，在集成微系统内设置电压采集电路、电流采集电路、实时时钟电路；集成微系统包括处理器、状态显示电路、通信电路、存储电路；将采集的电源电压、工作电流进行健康分析，如果数据在正确的阈值范围内，则在状态标记数组中进行正确信息记录，记录运行时间；如果数据不在正确的阈值范围内，表明错误发生，在状态标记数组中进行错误信息记录；驱动状态显示电路进行显示。本发明在集成微系统内部，构建了健康状态自检测方法，使得集成微系统在装机后，仍然能够对电特性的检测，实现对自身健康状态的分析和预测，解决了集成微系统在应用后，工作电流无法精确测试的问题。
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公开(公告)号：CN104459518B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201410706874.9
申请日：2014-11-27
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供了一种基于SoPC芯片的功能性测试系统及其测试方法，该系统包括串行通信接口测试模块、I2C测试模块、中断处理测试模块、定时器测试模块、计数器测试模块、总线测试模块、模拟开关/ADC测试模块、GPIO测试模块、FPGA配置模块、通信模块和测试控制模块；本发明的自动化测试方法在同一个测试系统中，按照测试需求在一个测试程序中完成SoPC芯片的各个功能模块的测试，避免了传统测试方法中对同一个SoPC芯片不同功能进行测试时，针对各测试项目返回进行编译，可有效缩短测试时间，并降低测试难度和测试操作复杂度。
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公开(公告)号：CN104572326A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410789605.3
申请日：2014-12-18
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F11/07
摘要： 一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法，针对传统的辐射加固的FPGA在太空中每天会发生多次粒子翻转的问题，提供了一种在不增加SoPC芯片面积的前提下，基于回读自重构的方式实现芯片的自主故障检测及故障修复的方法。本发明方法首先读取FPGA配置存储器中的配置数据和Flash中存储的原始配置数据，然后将两者逐位进行比较，通过比较文件格式上的差异能够验证回读的配置数据是否发生了故障并定位故障，最后根据原始配置文件将故障纠正。本发明方法在不增加外围检测设备和检测电路的情况下完成了故障检测、故障判读、故障修复，提高了SoPC芯片在外太空环境应用中的可靠性，推动了SoPC芯片的发展。
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公开(公告)号：CN107423397B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201710619530.8
申请日：2017-07-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F16/13 , G06F16/174
摘要： 本发明涉及一种面向多任务微系统的自适应压缩存储及解压提取方法，压缩过程中对读入的原始任务文件的数据，进行稀疏性分析，当数组的稀疏性大于等于90％时，采用改进三元法对原始任务文件的数据进行压缩；当数组的稀疏性小于90％时，采用改进Huffman方法进行压缩；解压缩过程中，读取待解压缩文件的第一个字节，如果标识为1，则执行改进三元法解压算法进行解压操作，如果标识为2，不为1，则执行改进的Huffman解压算法进行解压操作。本发明最大限度地节省了存储空间，多任务文件压缩过程中需要更大的存储空间，对于存储空间要求的降低，使的文件存储数量增加，能够执行多任务存储，解决了多个任务的任务文件存储受限的问题。
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公开(公告)号：CN104572326B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201410789605.3
申请日：2014-12-18
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F11/07
摘要： 一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法，针对传统的辐射加固的FPGA在太空中每天会发生多次粒子翻转的问题，提供了一种在不增加SoPC芯片面积的前提下，基于回读自重构的方式实现芯片的自主故障检测及故障修复的方法。本发明方法首先读取FPGA配置存储器中的配置数据和Flash中存储的原始配置数据，然后将两者逐位进行比较，通过比较文件格式上的差异能够验证回读的配置数据是否发生了故障并定位故障，最后根据原始配置文件将故障纠正。本发明方法在不增加外围检测设备和检测电路的情况下完成了故障检测、故障判读、故障修复，提高了SoPC芯片在外太空环境应用中的可靠性，推动了SoPC芯片的发展。
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公开(公告)号：CN104459518A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410706874.9
申请日：2014-11-27
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供了一种基于SoPC芯片的功能性测试系统及其测试方法，该系统包括串行通信接口测试模块、I2C测试模块、中断处理测试模块、定时器测试模块、计数器测试模块、总线测试模块、模拟开关/ADC测试模块、GPIO测试模块、FPGA配置模块、通信模块和测试控制模块；本发明的自动化测试方法在同一个测试系统中，按照测试需求在一个测试程序中完成SoPC芯片的各个功能模块的测试，避免了传统测试方法中对同一个SoPC芯片不同功能进行测试时，针对各测试项目返回进行编译，可有效缩短测试时间，并降低测试难度和测试操作复杂度。
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公开(公告)号：CN107422254B
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201710619528.0
申请日：2017-07-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/317 , G01R19/25
摘要： 本发明涉及一种面向集成微系统的内建芯片健康状态自监测方法，在集成微系统内设置电压采集电路、电流采集电路、实时时钟电路；集成微系统包括处理器、状态显示电路、通信电路、存储电路；将采集的电源电压、工作电流进行健康分析，如果数据在正确的阈值范围内，则在状态标记数组中进行正确信息记录，记录运行时间；如果数据不在正确的阈值范围内，表明错误发生，在状态标记数组中进行错误信息记录；驱动状态显示电路进行显示。本发明在集成微系统内部，构建了健康状态自检测方法，使得集成微系统在装机后，仍然能够对电特性的检测，实现对自身健康状态的分析和预测，解决了集成微系统在应用后，工作电流无法精确测试的问题。
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