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公开(公告)号：CN119440750A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411318411.5
申请日：2024-09-20
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F9/48
Abstract: 本发明提供一种接口通信方法、装置、系统、存储介质及电子设备，属于通信技术领域。所述接口通信方法应用于主控设备，所述主控设备通过通信接口连接有多个外部设备，包括：获取多个业务指令，每一个业务指令均包括外部设备信息；分别基于各个业务指令，在预置的业务线程集中确定出对应的业务线程，所述预置的业务线程集包括多个业务线程，每一个业务线程对应一个外部设备；由所述对应的业务线程调用驱动接口，并通过所述驱动接口与对应的外部设备进行数据交互。自动合理的多任务调度处理，实现自动配置支持多个外部设备的数据传输的要求，从而实现通过多线程技术完成多个外部设备的并行访问，增加了数据交互的性能，提高了通信效率。
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公开(公告)号：CN115834215A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211493584.1
申请日：2022-11-25
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网山东省电力公司电力科学研究院
Abstract: 本申请公开了一种终端可信接入控制方法及装置，该终端中的可信检验程序可以在处理器启动之后基于开机引导程序的第一可信度值确定是否禁止可执行程序，由此在开机引导程序的第一可信度值与第一基准可信度值不同的情况下，终端中的可信检验程序也能够发出告警信息，以便于维护人员对终端进行维修，提高了对终端接入控制的可靠性和灵活性。且由于无需物联网平台对终端进行身份验证，由此降低了物联网平台的计算压力。
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公开(公告)号：CN110008169A
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201910288665.X
申请日：2019-04-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06F13/42
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的通信方法，其中，安全芯片与主控芯片通过SPI接口进行通信，通信方法包括：主控芯片对SPI接口进行初始化；主控芯片将SIP接口的片选信号置低，向安全芯片发送指令信息，发送完成后将该片选信号置高，其中，指令信息包括起始标识以及指令内容；安全芯片执行指令内容，在执行完成后，发送响应信息，其中，响应信息包括：起始标识以及响应状态字；主控芯片将片选信号置低，获取安全芯片的响应信息；主控芯片判断响应信息的起始标识是否为第一预设标识，若是则读取响应信息，并将片选信号置高。本发明提供的安全芯片的通信方法，提高了安全芯片的处理效率，提高数据传输的安全性。
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公开(公告)号：CN114880102B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210777766.5
申请日：2022-07-04
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片及其多任务调度方法和装置、存储介质，所述方法包括：获取当前线程在执行任务时的时间阶段，其中，时间阶段包括协处理器计算时间阶段；在当前线程处于协处理器计算时间阶段时，获取系统当前时间，并根据多个线程的优先级顺序或时间片轮转顺序确定下一个待切换线程；在系统当前时间与下一个待切换线程的上次退出时间之差大于或等于下一个待切换线程的协处理器计算时间时，切换至下一个待切换线程。本发明的调度方法，能够实现安全芯片各协处理器和CPU并行运算，提高芯片利用率和处理速度，避免出现因多任务调度而引起的资源浪费，效率低下和CPU闲置等待的问题。
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公开(公告)号：CN109254929B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201811029997.8
申请日：2018-09-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F12/0811 , G06F12/0877 , G06F11/14
Abstract: 本发明公开了一种实现数据被可靠写入芯片的方法。该方法包括：将写保护标志位进行置位，将数据写入RAM缓冲区，若完成该写入操作，则将该写保护标志清除；将写入RAM缓冲区的数据提交到镜像缓冲区；将镜像缓冲区保护标记进行置位，将所述镜像缓冲区的数据写入目标区，该目标区具有一个或多个目标地址。根据本发明的实现数据被可靠写入芯片的方法能够避免发生意外掉电时写入芯片的数据不可靠。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112235268B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202011048705.2
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: H04L9/40
Abstract: 本发明提供一种安全通信方法、系统及装置，属于通信技术领域。所述方法包括：接收业务请求，并获得所述业务请求中的命令字和业务号；确定与所述命令字的类型对应的接收缓冲区和发送缓冲区的联合空闲状态；按所述业务号对所述接收缓冲区和所述发送缓冲区执行空闲状态查询；在所述接收缓冲区和所述发送缓冲区的空闲状态符合所述联合空闲状态时，执行与所述业务号和所述命令字的类型匹配的业务数据响应，或者，在所述接收缓冲区和所述发送缓冲区的空闲状态不符合所述联合空闲状态时，响应状态字。本发明用于实现多安全业务的融合。
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公开(公告)号：CN113641614A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110767579.4
申请日：2021-07-07
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网山东省电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F13/42
Abstract: 本发明涉及业务处理技术领域，其实施方式提供了一种基于SPI的单通道多业务并行处理方法及芯片。其中基于SPI的单通道多业务并行处理方法包括：将从SPI通道获取的数据缓存至所述SPI设备的第一随机存储器，采用数据接收线程将所述第一随机存储器中的数据转存至所述SPI设备的第二随机存储器中；采用业务处理线程对所述第二随机存储器中的数据进行处理，将处理结果存入所述第二随机存储器；采用数据发送线程将所述第二随机存储器中的处理结果转存至所述第一随机存储器；所述数据接收线程、业务处理线程和数据发送线程为并行关系。本发明提供的实施方式提升了SPI接口的系统对于从SPI接口接收的数据的响应速度和处理效率。
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公开(公告)号：CN109254929A
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201811029997.8
申请日：2018-09-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F12/0811 , G06F12/0877 , G06F11/14
Abstract: 本发明公开了一种实现数据被可靠写入芯片的方法。该方法包括：将写保护标志位进行置位，将数据写入RAM缓冲区，若完成该写入操作，则将该写保护标志清除；将写入RAM缓冲区的数据提交到镜像缓冲区；将镜像缓冲区保护标记进行置位，将所述镜像缓冲区的数据写入目标区，该目标区具有一个或多个目标地址。根据本发明的实现数据被可靠写入芯片的方法能够避免发生意外掉电时写入芯片的数据不可靠。
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公开(公告)号：CN117041373A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310779533.3
申请日：2023-06-28
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H04L69/12 , H04L69/06 , H04L67/125
Abstract: 本发明涉及USB业务处理技术领域，实施例提供了一种基于USB的单通道多业务并行处理方法及装置。其中，一种基于USB的单通道多业务并行处理方法包括：接收到用于触发中断处理的Setup数据包后，触发对应的第一线程接收扩充指令；在确定接收的扩充指令为业务指令时，由业务处理线程处理所述扩充指令中的数据，得到结果数据；采用第二线程将所述结果数据存储至指定位置，并标识所述结果数据与扩充指令的对应关系；采用第三线程将结果数据作为对于对应扩充指令的响应进行发送。本发明提供的实施方式提升了单通道USB的数据处理效率。
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公开(公告)号：CN112416669B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202011171244.8
申请日：2020-10-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。
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