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公开(公告)号：CN114218139A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111539544.1
申请日：2021-12-15
申请人： 北京航天控制仪器研究所 , 北京控制工程研究所
摘要： 本发明公开了一种基于实时操作系统和FPGA的仿真转台高速同步采集方法，包括：通过定时循环L1从转台角位置反馈信号中实时读取得到转台各轴当前的角位置反馈值，并将各角位置反馈值依次寄存到位置寄存器A中；通过外/内同步方式产生同步采集信号；在每个同步采集信号的上升沿或下降沿，从位置寄存器A中采集一次角位置反馈值，并与计数次数i一起写入FIFO中；实时操作系统计算机将从FIFO中读取的数据通过通讯接口发送给上位机。本发明通过将转台各轴的角位置反馈信号和同步采集信号一起引入FPGA中，并在FPGA中利用同步采集信号触发采样转台各轴的角位置反馈信号，以达到精确按照同步采集信号的时刻同步采集转台各角位置反馈值的目的。
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公开(公告)号：CN114218139B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202111539544.1
申请日：2021-12-15
申请人： 北京航天控制仪器研究所 , 北京控制工程研究所
摘要： 本发明公开了一种基于实时操作系统和FPGA的仿真转台高速同步采集方法，包括：通过定时循环L1从转台角位置反馈信号中实时读取得到转台各轴当前的角位置反馈值，并将各角位置反馈值依次寄存到位置寄存器A中；通过外/内同步方式产生同步采集信号；在每个同步采集信号的上升沿或下降沿，从位置寄存器A中采集一次角位置反馈值，并与计数次数i一起写入FIFO中；实时操作系统计算机将从FIFO中读取的数据通过通讯接口发送给上位机。本发明通过将转台各轴的角位置反馈信号和同步采集信号一起引入FPGA中，并在FPGA中利用同步采集信号触发采样转台各轴的角位置反馈信号，以达到精确按照同步采集信号的时刻同步采集转台各角位置反馈值的目的。
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公开(公告)号：CN117990011B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410151841.6
申请日：2024-02-02
申请人： 北京控制工程研究所
摘要： 本发明提供了一种角度编码器的倾斜角度测量方法及装置，其中方法包括：在角度编码器的圆柱状码盘沿旋转中心轴进行旋转的过程中，利用摄像机获取多个编码图像；旋转中心轴与摄像机的拍摄方向垂直；圆柱状码盘的周向上设置有角度编码图案；基于多个编码图像中的角度编码图案对多个编码图像进行去重处理；基于去重处理后剩余的多个编码图像，确定圆柱状码盘在旋转过程中的最低点位置对应的第一编码图像和最高点位置对应的第二编码图像；根据第一编码图像和第二编码图像计算角度编码器在竖直方向上的位移；利用位移和圆柱状码盘的直径进行反正弦计算，得到角度编码器的倾斜角度。本方案，能够在角度编码器安装完成后准确测量出倾斜角度。
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公开(公告)号：CN118243000A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202410151900.X
申请日：2024-02-02
申请人： 北京控制工程研究所
IPC分类号： G01B11/16
摘要： 本发明提供了一种构件变形量检测方法及装置，其中方法包括：构件的观测位置表面设置有观测条纹，获取观测条纹在初始状态下的第一观测图像，以及获取观测条纹在观测状态下的第二观测图像；根据所述第一观测图像和所述第二观测图像，确定观测条纹在横向上对应的偏移方向；将所述第一观测图像和所述第二观测图像中的观测条纹进行对齐；根据观测条纹的对齐结果和所述偏移方向，测量并计算观测条纹向所述偏移方向偏移的变形量。本方案，能够准确测量计算出观测条纹向偏移方向偏移的变形量。
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公开(公告)号：CN117949015A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410151870.2
申请日：2024-02-02
申请人： 北京控制工程研究所
IPC分类号： G01C25/00
摘要： 本发明提供了一种星敏感器测量误差校正方法及装置，其中方法包括：利用预先搭建的星点模拟系统输出基准星点状态下的模拟星点以及分别输出多个测试星点状态下的模拟星点，获取星敏感器针对基准星点状态的模拟星点测量得到的星点基准质心位置，以及针对每一个测试星点状态下的模拟星点测量得到的星点测试质心位置；星点状态包括：星等和色温；利用基准质心位置和测试质心位置，生成位置误差校正数据；获取星敏感器实际观星时所识别星点在星表中的星等和色温，利用位置误差校正数据确定所识别星点在星表中的星等和色温所对应的目标位置误差，利用目标位置误差对所识别星点的质心位置进行校正。本方案，能够提高星敏感器的测量精度。
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公开(公告)号：CN117889953A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202410033902.9
申请日：2024-01-09
申请人： 北京控制工程研究所
摘要： 本发明涉及光照设备技术领域，特别涉及一种光束照度均匀性测试装置及方法。该装置包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元，每个光源均位于一个平行光管的入光侧，光源用于为平行光管提供照明，以使平行光管发出平行光束；光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器；聚光器用于将平行光束汇聚在分光镜上；分光镜用于对平行光束进行分束，得到两个分束光，一个分束光在第一光学探测器上形成第一光斑，另一个分束光在第二光学探测器上形成第二光斑；第一光学探测器设置于聚光器的基准焦平面；第二光学探测器设置于聚光器的焦面前半个波长的离焦处。本方案能够提高光束照度均匀性测试的效率。
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公开(公告)号：CN117318667A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311161832.7
申请日：2023-09-08
申请人： 北京控制工程研究所
摘要： 一种单光子信号高斯成形滤波装置，包括微分放大单元、增益调节单元和成形放大电路单元三部分，其中微分放大单元和成形放大单元采用的是双极点多重反馈型电路拓扑结构。输入脉冲小信号经过微分后连接到双极点多重反馈型电路拓扑结构的成形放大器，实现微分和滤波；增益调节单元，与微分放大单元相连，采用同相放大器实现增益调节；成形放大电路单元，与增益调节单元相连，采用双极点多重反馈型电路拓扑结构的成形放大器，经过成形滤波后，获得高斯成形输出波形，进一步提高脉冲信号的信噪比。本发明的成形滤波器采用双极点多重反馈型电路拓扑结构，具有电路级数少、稳定性好、噪声低的特点。
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公开(公告)号：CN112882483A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110037424.5
申请日：2021-01-12
申请人： 北京控制工程研究所
IPC分类号： G05D1/08
摘要： 本发明公开一种星敏感器在轨标定方法、装置和存储介质。该方法包括：从对整个视场进行成像得到的星图中提取并存储多个第一观测星的星点信息；将所述提取的多个第一观测星与预存的导航星表中的导航星进行匹配操作，查找出与所述导航星相匹配的第二观测星；采用加权系数法计算所述多个第二观测星的平均位置信息；计算所述每一第二观测星的位置与平均位置的差分值；根据所述第二观测星对应的星点信息执行多项式曲面拟合计算或插值计算得到所述整个视场的畸变值。利用本发明的技术方案，可以对星敏感器进行在轨标定，提高星敏感器标定的精度。
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公开(公告)号：CN111913190A
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN202010725490.7
申请日：2020-07-24
申请人： 北京控制工程研究所
摘要： 本发明一种基于彩色红外光谱共孔径成像的临近空间暗弱目标定向装置，包括彩色红外共孔径成像敏感器、二维伺服指向机构、综合控制单元、二次电源等。本发明采用基于彩色红外共孔径光学系统的多光谱探测方案，集成了可见光探测和红外探测两种探测方案的优点，采用了图像压缩空域滤波与高速信号处理技术，基于单帧多光谱图像数据融合处理算法、多帧序列动目标滤波匹配算法，实现了临近空间暗弱目标的全天时跟踪。
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公开(公告)号：CN111126131A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911043739.X
申请日：2019-10-30
申请人： 北京控制工程研究所
摘要： 一种高效率暗弱空间目标识别方法，步骤为：1)星图成像，获得包含暗弱目标的一系列星空图；2)星图处理，提取块状亮点。3)恒星剔除，主要将大部分恒星元素从所有亮点中去除；4)获得疑似目标队列中每个块状亮点的运动特征；5)确定有序特征集；6)目标跟踪，对已建立的确认目标队列进行跟踪，预测下一帧该目标位置，成功则计算目标参数，提取精确的方位信息，将其加入确认目标队列。本发明方法能最大程度从提取亮点中去除干扰元素、如恒星和噪点等，最终实现空间暗弱目标的探测、提取、识别、跟踪等任务，特别适用于信噪比低、复杂星图背景、多种多样目标信息未知的场合。
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