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公开(公告)号：CN117828482B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410239217.1
申请日：2024-03-04
申请人： 北京航空航天大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F18/2415 , G06N3/006 , G06F18/2411 , G06F18/214
摘要： 本发明涉及一种基于鸡群算法和马尔科夫法的灰色模型芯片寿命预测方法，涉及结构件寿命预测技术领域，解决了现有技术中的预测精度低、对原始序列的拟合程度差的问题。本发明的方法通过引入鸡群优化算法，在一个算法中以三类不同的寻优个体对灰色模型的参数进行寻优，保证预测效率高的同时，收敛速度快，计算量小，最大程度地降低了预测的平均相对误差；同时还引入干扰项保证了灰色模型最优拟合曲线在不一定经过历史数据中的某一点的情况下也能保证预测的精度。最后，引入马尔科夫法对灰色模型进行修正，有效地减小了传统灰色模型的残差累积效应，进一步地提高预测精度的基础上提高了预测数据对原始数据的拟合程度。
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公开(公告)号：CN117849592B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410239255.7
申请日：2024-03-04
申请人： 北京航空航天大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明涉及一种复杂电磁环境下电力芯片的加速老化测试方法，属于集成电路可靠性试验技术领域。解决了现有技术中的无法测试在复杂电磁环境下的电力芯片、测试准确性低的问题。本发明的方法根据电力芯片使用环境的特点，提取出电磁、湿度、温度三种应力作为加速老化试验的条件，将传统可靠性试验中的温湿加速老化试验与电磁兼容试验中集成电路抗扰度试验相结合，设计了针对复杂电磁环境下电力芯片的加速老化试验方法，解决芯片在加速老化试验中检测不准确的问题。
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公开(公告)号：CN117849592A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410239255.7
申请日：2024-03-04
申请人： 北京航空航天大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明涉及一种复杂电磁环境下电力芯片的加速老化测试方法，属于集成电路可靠性试验技术领域。解决了现有技术中的无法测试在复杂电磁环境下的电力芯片、测试准确性低的问题。本发明的方法根据电力芯片使用环境的特点，提取出电磁、湿度、温度三种应力作为加速老化试验的条件，将传统可靠性试验中的温湿加速老化试验与电磁兼容试验中集成电路抗扰度试验相结合，设计了针对复杂电磁环境下电力芯片的加速老化试验方法，解决芯片在加速老化试验中检测不准确的问题。
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公开(公告)号：CN117828482A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410239217.1
申请日：2024-03-04
申请人： 北京航空航天大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F18/2415 , G06N3/006 , G06F18/2411 , G06F18/214
摘要： 本发明涉及一种基于鸡群算法和马尔科夫法的灰色模型芯片寿命预测方法，涉及结构件寿命预测技术领域，解决了现有技术中的预测精度低、对原始序列的拟合程度差的问题。本发明的方法通过引入鸡群优化算法，在一个算法中以三类不同的寻优个体对灰色模型的参数进行寻优，保证预测效率高的同时，收敛速度快，计算量小，最大程度地降低了预测的平均相对误差；同时还引入干扰项保证了灰色模型最优拟合曲线在不一定经过历史数据中的某一点的情况下也能保证预测的精度。最后，引入马尔科夫法对灰色模型进行修正，有效地减小了传统灰色模型的残差累积效应，进一步地提高预测精度的基础上提高了预测数据对原始数据的拟合程度。
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公开(公告)号：CN114020548A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111226523.4
申请日：2021-10-21
申请人： 北京航空航天大学杭州创新研究院 , 北京航空航天大学
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种远程集成电路系统老化监测方法和系统。存储器在读写过程中，物理特性会发生变化，经过长时间的充放电过后，电压电流等数据便会达到一种可观测程度的变化，本发明将这些数据采集之后我们首先将它存储到存储器中，再通过无线传输系统以非接触形式传输出去，由接收端接收后进行数据处理，利用这种变化就能实现对硬件老化的监测。通过检测传输出来数据中“1”或“0”电位的数量，就可以判断出芯片的老化水平，初始的芯片的“1”与“0”的分布大致在1：1，经过一段时间的使用过后，逐渐偏离50％,偏离的越多使用时间就越长，利用这一特性建立函数关系，从而对芯片的使用寿命进行检测。
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公开(公告)号：CN114021314B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202111228073.2
申请日：2021-10-21
申请人： 北京航空航天大学杭州创新研究院 , 北京航空航天大学
IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/02
摘要： 本发明公开了一种基于动态贝叶斯网络的系统电磁易损性评估方法，属于电磁安全领域。1.根据电子信息系统的外部电磁脉冲环境，建立电磁脉冲与电子系统的相互作用顺序图；2.构建分层静态贝叶斯网络；3.根据需要进行电磁易损性评估的时间区间均选T个时间节点，在电磁脉冲影响下，在每一个时间节点上分析底层节点的失效概率，作为底层节点的观测状态；4.根据T个时间节点的时间顺序，构建离散动态贝叶斯网络；5.将离散动态贝叶斯网络拆分成多个两层结构的动态贝叶斯网络，根据底层节点的观测状态定义前向算子和后向算子，推理顶层隐藏节点的状态，得到系统的失效概率，实现了动态描述电子信息系统整体或部分不同时间的电磁易损性。
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公开(公告)号：CN114705973B
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210614890.X
申请日：2022-06-01
申请人： 北京航空航天大学杭州创新研究院 , 北京航空航天大学
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种非侵入式的复杂环境集成电路老化监测方法，属于硬件老化监测领域。本发明将存储模块老化和读写模块老化的变化特性参数进行采集后，建立特定的老化监测‑预测模型，通过采集外部模块模拟目标集成电路器件运行后的特性参数的变化值，与已建立的模型值相比对得出集成电路的实际寿命与预期寿命。本发明可以对复杂环境下的集成电路设备进行全寿命周期的非侵入式的实时监测，在完全不影响目标集成电路的运行的前提下，只需要消耗很低的功率即可实现寿命监测。可以在目标集成电路正常运行的情况下进行老化监测。
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公开(公告)号：CN118869217A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410945834.3
申请日：2024-07-15
申请人： 北京航空航天大学杭州创新研究院 , 北京航空航天大学
摘要： 本申请涉及一种基于证书的无人机数据审计方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：生成预设证书中心的系统参数和主密钥对；获取至少一个目标无人机的用户密钥对和身份信息，并结合系统参数和主公钥，接收证书中心发送的有效数字证书；通过目标无人机采集相应的无人机数据，并在有效数字证书满足预设证书验证条件的情况下，生成无人机数据的同态可验证标签，且在无人机数据和同态可验证标签满足预设有效性验证时，通过预设的挑战‑响应交互审计机制对单个或多个目标无人机对应的无人机数据进行审计，以得到数据审计结果。由此，解决了现有数据审计方案的密钥泄露风险较高，难以同态聚合来自不同用户的可验证标签，且审计开销较大等问题。
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公开(公告)号：CN114021314A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111228073.2
申请日：2021-10-21
申请人： 北京航空航天大学杭州创新研究院 , 北京航空航天大学
IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/02
摘要： 本发明公开了一种基于动态贝叶斯网络的系统电磁易损性评估方法，属于电磁安全领域。1.根据电子信息系统的外部电磁脉冲环境，建立电磁脉冲与电子系统的相互作用顺序图；2.构建分层静态贝叶斯网络；3.根据需要进行电磁易损性评估的时间区间均选T个时间节点，在电磁脉冲影响下，在每一个时间节点上分析底层节点的失效概率，作为底层节点的观测状态；4.根据T个时间节点的时间顺序，构建离散动态贝叶斯网络；5.将离散动态贝叶斯网络拆分成多个两层结构的动态贝叶斯网络，根据底层节点的观测状态定义前向算子和后向算子，推理顶层隐藏节点的状态，得到系统的失效概率，实现了动态描述电子信息系统整体或部分不同时间的电磁易损性。
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公开(公告)号：CN112444811B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202011301952.9
申请日：2020-11-19
申请人： 北京航空航天大学
IPC分类号： G01S13/90
摘要： 本发明提出一种综合MIMO雷达和ISAR的目标检测和成像方法，涉及雷达的目标检测和成像领域；具体为：首先、构建基于ISAR和MIMO雷达的应用场景，TX射频组件和RX射频组件组成MIMO雷达天线阵面，TX射频组件对待检测目标分时发送线性调频LFM信号；经过时延产生回波信号；通过对回波信号进行去斜操作，得到时域回波信号；然后，对时域回波信号进行MIMO信号处理，得到待检测目标的距离、速度、方位角度和信噪比；同时，对时域回波信号进行ISAR信号处理，得到待检测目标的距离，速度和高度；最后，将MIMO信号处理的结果和ISAR信号处理的结果相结合，得出最终的目标检测结果和成像结果。本发明提高了雷达的空间采样能力，降低了相干积累时间和阵元的复杂度。
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