消除GaN厚膜材料表面缺陷的方法

    公开(公告)号:CN101724910A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910232185.8

    申请日:2009-12-02

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种消除GaN厚膜材料表面缺陷的方法,工艺简单、有效。所述消除GaN厚膜材料表面缺陷的方法为:将GaN厚膜材料置于含氢气和氨气的混合气体气氛中,进行退火处理。其中,混合气体气氛中,氢气体积百分比为0.1%-99.9%,氨气体积百分比为0.1%-99.9%,退火处理在气压为1K~1MPa的混合气体气氛中进行。退火处理的温度为500~1500℃,时间为5秒到500分钟。GaN厚膜材料厚度为5~1000微米之间时,特别适用于本发明。本发明的有益效果有:一、可有效消除GaN厚膜材料表面的缺陷态和抛光损伤;二、可去除GaN厚膜材料表面氧化薄层;三、可使GaN厚膜材料内部可能存在的应力得到一定程度的释放。

    一种场板结构的氮化镓基肖特基二极管

    公开(公告)号:CN101752430B

    公开(公告)日:2011-11-09

    申请号:CN201010017259.9

    申请日:2010-01-06

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 一种场板结构的氮化镓基肖特基二极管,肖特基金属电极外围有一层绝缘介质薄膜,将肖特基金属电极延伸到绝缘介质薄膜上方并部分覆盖介质薄膜,即在肖特基电极外围形成一圈金属-绝缘介质层-半导体(MIS)场板结构,所述的场板结构的绝缘介质层包含至少一层具有高介电常数的绝缘材料,其厚度介于0.01-2微米之间,介电常数大于6。欧姆接触层、GaN有源层、绝缘介质场板,肖特基金属电极和欧姆接触电极。使用本发明所述设计的具有高介电常数材料场板的GaN肖特基二极管整流器件,比传统结构器件有着更均匀的电场分布和更大的反向击穿电压。

    一种场板结构的氮化镓基肖特基二极管

    公开(公告)号:CN101752430A

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN201010017259.9

    申请日:2010-01-06

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 一种场板结构的氮化镓基肖特基二极管,肖特基金属电极外围有一层绝缘介质薄膜,将肖特基金属电极延伸到绝缘介质薄膜上方并部分覆盖介质薄膜,即在肖特基电极外围形成一圈金属-绝缘介质层-半导体(MIS)场板结构,所述的场板结构的绝缘介质层包含至少一层具有高介电常数的绝缘材料,其厚度介于0.01-2微米之间,介电常数大于6。欧姆接触层、GaN有源层、绝缘介质场板,肖特基金属电极和欧姆接触电极。使用本发明所述设计的具有高介电常数材料场板的GaN肖特基二极管整流器件,比传统结构器件有着更均匀的电场分布和更大的反向击穿电压。

    消除GaN厚膜材料表面缺陷的方法

    公开(公告)号:CN101724910B

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN200910232185.8

    申请日:2009-12-02

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种消除GaN厚膜材料表面缺陷的方法,工艺简单、有效。所述消除GaN厚膜材料表面缺陷的方法为:将GaN厚膜材料置于含氢气和氨气的混合气体气氛中,进行退火处理。其中,混合气体气氛中,氢气体积百分比为0.1%-99.9%,氨气体积百分比为0.1%-99.9%,退火处理在气压为1K~1MPa的混合气体气氛中进行。退火处理的温度为500~1500℃,时间为5秒到500分钟。GaN厚膜材料厚度为5~1000微米之间时,特别适用于本发明。本发明的有益效果有:一、可有效消除GaN厚膜材料表面的缺陷态和抛光损伤;二,可去除GaN厚膜材料表面氧化薄层;三,可使GaN厚膜材料内部可能存在的应力得到一定程度的释放。

    一种金属衬底的氮化镓肖特基整流器及其制备方法

    公开(公告)号:CN101908511B

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN201010237851.X

    申请日:2010-07-27

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 一种金属衬底的氮化镓肖特基整流器及其制备方法,整流器包括金属衬底、金属键合层和氮化镓肖特基整流器晶片,金属衬底作为支撑衬底,氮化镓肖特基整流器晶片包括氮化镓外延层、氮化镓肖特基电极和欧姆电极,氮化镓外延层通过金属键合层与金属衬底键合,氮化镓肖特基电极与欧姆电极相对金属衬底在外延层的另一侧呈横向分布,制备时把欧姆电极与肖特基接触电极先后制备在外延片的正面,之后再在另一面通过激光将蓝宝石衬底剥离,再与金属衬底键合。本发明可解决GaN肖特基整流器的金属化方案与蓝宝石衬底剥离的工艺兼容性问题,以高导热性金属衬底作为支撑载体及热沉,解决了器件的散热问题,可有效提高器件的性能和可靠性。

    一种金属衬底的氮化镓肖特基整流器及其制备方法

    公开(公告)号:CN101908511A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010237851.X

    申请日:2010-07-27

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 一种金属衬底的氮化镓肖特基整流器及其制备方法,整流器包括金属衬底、金属键合层和氮化镓肖特基整流器晶片,金属衬底作为支撑衬底,氮化镓肖特基整流器晶片包括氮化镓外延层、氮化镓肖特基电极和欧姆电极,氮化镓外延层通过金属键合层与金属衬底键合,氮化镓肖特基电极与欧姆电极相对金属衬底在外延层的另一侧呈横向分布,制备时把欧姆电极与肖特基接触电极先后制备在外延片的正面,之后再在另一面通过激光将蓝宝石衬底剥离,再与金属衬底键合。本发明可解决GaN肖特基整流器的金属化方案与蓝宝石衬底剥离的工艺兼容性问题,以高导热性金属衬底作为支撑载体及热沉,解决了器件的散热问题,可有效提高器件的性能和可靠性。

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