一种Cu@In核壳结构微米金属互连工艺

    公开(公告)号:CN116504654A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202310045231.3

    申请日:2023-01-30

    IPC分类号: H01L21/60 B23K3/08

    摘要: 本发明提供了一种核壳结构的微米金属互连工艺,包括使用化学镀的方法得到Cu@In核壳结构粉末,将Cu@In核壳结构粉体与不同种类的助焊膏混合制备成钎焊膏,通过丝网印刷将上述钎焊膏印刷至基板上,静置15‑60min后将芯片从互连材料上方缓慢压入覆盖在其表面,再将其整体置于200‑250℃空气环境下保温2‑60min得到互连器件;本发明制备的壳层金属形态致密、尺寸均匀可控,易在较低温度下发生原子扩散,与微米铜颗粒连接在一起,形成互连体系,不仅提高了核层微米铜颗粒的抗氧化性与稳定性,还大大降低了互连温度和互连条件;可在低温无压条件下将芯片与基板互连,完成半导体器件的连接封装,能够较好的应用于半导体器件的制造和微电子封装、电力电子封装等领域。

    一种微纳米银铜合金焊料及其制备方法

    公开(公告)号:CN113798730A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202111158493.8

    申请日:2021-09-30

    IPC分类号: B23K35/30 B23K35/40

    摘要: 本发明公开了一种微纳米银铜合金焊料及其制备方法,所述焊料包括如下组分:20~60wt.%纳米银铜固溶体粉末,30~72wt.%微米铜银核壳颗粒粉末,1~5wt.%分散剂,1~5wt.%粘结剂,1~5wt.%稀释剂,1~5wt.%助焊剂。本发明可实现纳米颗粒和微米颗粒的均匀混合,有效提高焊点强度,降低孔隙率,具备良好的抗氧化性和抗电迁移特性,并获得均匀的组织、高的钎料合金强度。

    一种掺杂多孔碳纳米球的二氧化锡基气敏涂料的制备方法及应用

    公开(公告)号:CN116790140A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202310759097.3

    申请日:2023-06-26

    IPC分类号: C09D1/00 C09D7/61 G01N27/12

    摘要: 一种掺杂多孔碳纳米球的二氧化锡基气敏涂料的制备方法及应用。所述方法为:将多孔碳纳米球分散在去离子水中,加入二氧化锡粉末,先后进行搅拌、超声和涡旋振荡得到均匀的混合溶液;在混合溶液中加入硝酸银,在60℃下搅拌反应,随后进行离心、洗涤,得到SnO2/多孔碳纳米球@Ag材料;将所得材料溶解于无水乙醇中混匀,将混匀后的气敏涂料涂覆至带电极的陶瓷管表面,待涂料干燥后重复数次,得到SnO2/多孔碳纳米球@Ag气敏传感器。本发明的纳米涂料可在100℃的温度下对异丙醇具备良好的传感特性,可有效解决目前的传感器工作温度较高的问题。具有工艺简单、成本低廉的特点。

    面向激光辐照第一壁材料温度场分布的激光参数优化方法及其优化系统

    公开(公告)号:CN116564453A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310641666.4

    申请日:2023-06-01

    摘要: 本发明属于聚变装置壁材料燃料滞留的激光辅助原位诊断技术领域,具体涉及面向激光辐照第一壁材料温度场分布的激光参数优化方法。确定仿真使用的激光模型,根据第一壁材料热传导系数与环境温度的变化规律,进行设定函数;基于函数,确定毫秒激光在第一壁材料上的作用位置,构建激光与材料相互作用的;基于得到的空间表达式、根据毫秒激光功率密度分布特点,得到温度场分布规律;基于温度场分布规律进行激光辐照材料的理论模型设计;基于理论模型,改变毫秒激光的相关参数,得到实验要求的毫秒激光不同脉宽及光斑直径条件下的材料烧蚀阈值;根据材料烧蚀阈值得到激光脉宽2ms及光斑直径2mm情况下的第一壁材料内部无损实验的温度场分布形式。本发明针对现有激光加热材料过程中科学性选取激光参数的问题。

    一种微纳米合金接头的多场耦合快速制备方法

    公开(公告)号:CN116275058A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310314039.X

    申请日:2023-03-28

    摘要: 本发明公开了一种微纳米合金接头的多场耦合快速制备方法,所述方法将微纳米金属粉末与分散剂、粘结剂、稀释剂以及助焊剂混合,得到混合焊膏;用常规的方法印刷或滴涂于待焊部位;用加热平台对基板预热去除部分水和有机物;采用电磁或激光与加热平台耦合、或激光、电磁感应与传统热场三场耦合加热焊接,形成接头。该方法将激光、电磁场与传统的热场耦合,三维立体烧结微纳混合颗粒,实现其瞬态、芯片区域的局部键合,攻克微纳米颗粒键合需要整体加热、键合效率低下的问题。多场耦合快速加热条件下,混合颗粒的原子和缺陷运动、扩散行为、填充行为,能够降低孔隙率,对接头微观组织结构和力学行为产生巨大影响。

    一种电路板焊点缺陷红外热透视方法

    公开(公告)号:CN116008306A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202310097703.X

    申请日:2023-02-10

    IPC分类号: G01N21/956 G01J5/48

    摘要: 一种电路板焊点缺陷红外热透视方法,属于电路板焊点质量检测技术领域,具体方案包括以下步骤:步骤一、利用红外激光分别照射标准虚焊电路板和合格电路板的局部或全部,停止照射后,红外热像仪对准红外激光照射光斑的位置拍摄红外热图;步骤二、利用红外激光照射待测电路板的局部或全部,停止照射后,红外热像仪对准红外激光照射光斑的位置拍摄待测电路板红外热图;以标准虚焊电路板上某一元器件焊点部分最高温度值作为待测电路板红外热图中的温标上限H,以合格电路板上同一个元器件焊点的最低温度值作为待测电路板红外热图中的温标下限L,即得到待测电路板上该元器件的红外热透视图,判断待测电路板上该元器件的焊点是否存在缺陷。

    高密度封装电路板焊点虚焊红外快速筛查系统和筛查方法

    公开(公告)号:CN115684270A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211362956.7

    申请日:2022-11-02

    IPC分类号: G01N25/72

    摘要: 一种高密度封装电路板焊点虚焊红外快速筛查系统和筛查方法,属于电路板焊点虚焊检测领域,具体方案如下:所述筛查系统包括红外热像仪和热源;红外热像仪设置在待测电路板的正上方且镜头正对待测电路板,热源位于红外热像仪的旁侧,使用热源加热待测电路板的整体或局部,停止加热的同时,红外热像仪对待测电路拍照得到热像图;待测电路板的热像图中,若某个元器件的整体或者局部的温度比标准合格样板的热像图中相对应的元器件的温度高于设定值,则该元器件存在焊点虚焊或者缺陷。本发明彻底突破了高密度封装电路板元器件焊点虚焊检测这一行业难题,可检测的元器件涵盖了各种现有芯片及阻容器件,同时其高效性有助于将本发明应用于生产线上。