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公开(公告)号：CN109142404A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC分类号： G01N23/203
CPC分类号： G01N23/203
摘要： 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN109142404B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC分类号： G01N23/203
摘要： 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN209148568U
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201821785397.X
申请日：2018-11-01
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC分类号： G01N23/203
摘要： 本实用新型公开了一种背散射成像系统和扫描检查系统。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本实用新型获得的背散射图像更加清晰。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN118362587A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410353825.5
申请日：2024-03-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提出了一种校准控制方法、装置和系统，涉及安检技术领域。其中，校准控制方法由校准控制装置执行，包括：在辐射检查系统中的射线源与准直器对准的情况下，控制所述射线源与所述辐射检查系统中的探测器相对运动；记录所述探测器在所述相对运动中多个位姿下检测到的射线强度数据；根据所述探测器在所述相对运动中多个位姿下检测到的射线强度数据，确定使所述射线源与所述探测器对准的位姿调节参数，并根据所述位姿调节参数控制所述射线源与所述探测器对准。通过以上方法，能够在改善射线源、准直器和探测器的对准效果的同时，提高校准效率，节省人力物力。
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公开(公告)号：CN116413822A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202111668982.8
申请日：2021-12-30
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及一种扫描检查装置，包括第一旋转架(1)、第一驱动装置、射线源(2)、探测器(3)、用于冷却射线源(2)的冷却装置和第二驱动装置，第一旋转架(1)的中心设有用于供被检物(6)通过的输送通道，第一驱动装置与第一旋转架(1)驱动连接以驱动第一旋转架(1)转动，射线源(2)、探测器(3)、用于冷却射线源(2)的冷却装置均安装在第一旋转架(1)上并随第一旋转架(1)转动，第二驱动装置被配置为驱动冷却装置朝着与第一旋转架(1)的旋转方向相反的方向转动，以使冷却装置在随第一旋转架(1)转动的过程中保持固定的姿态。本发明能够实现对射线源的冷却，同时使冷却装置在旋转过程中能够保持固定的姿态，防止冷却装置倾斜或倒置。
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公开(公告)号：CN115855990B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310112882.X
申请日：2023-02-15
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/203
摘要： 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。
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公开(公告)号：CN114146942A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111613455.7
申请日：2021-12-27
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开一种矿物分选系统，包括输送带以及至少两套成像装置，每套成像装置包括位于输送带上方的射线源和位于输送带下方的射线探测器，每套成像装置的射线源和射线探测器在垂直于输送带的方向上正对设置，各个射线源在输送带的长度方向、宽度方向上均错开布置，各个射线源发出的射线束的投射区域互不交叠；各个射线源发出的射线束沿着输送带的长度方向的正投影存在交叠部分。该矿物分选系统中不同的成像装置从不同的角度对同一矿物进行成像，能够提高对矿物进行成分分析的准确性。
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公开(公告)号：CN113238297A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110777658.3
申请日：2021-07-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V11/00
摘要： 本公开涉及一种辐射检查系统及方法。辐射检查系统包括：单射线源（10），具有多个加速管（13），所述多个加速管（13）分别产生多条具有不同能量的射线，且所述多个加速管（13）的出束方向包括至少两种不同的出束方向；多个探测器（30），被配置为探测所述单射线源（10）发出的射线作用于被检物（40）时的信号；和处理器（20），与所述单射线源（10）通讯连接，被配置为分别对所述多个加速管（13）进行控制。本公开实施例能够在满足多视角扫描的需求的同时，降低系统复杂度。
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公开(公告)号：CN108732192A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810436690.3
申请日：2018-05-09
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/203 , G01N23/20 , G01N23/20025 , G01N23/20066 , G01N23/04
摘要： 本发明涉及安全检查技术领域，特别涉及一种安全检查系统。本发明所提供的安全检查系统，其包括背散射扫描装置和支撑装置，支撑装置形成允许被检物通过的检查通道，背散射扫描装置设置在支撑装置的上部并包括背散射射线源装置和背散射探测装置，且支撑装置调节背散射扫描装置的高度。在本发明中，安全检查系统的支撑装置可以调节安装在支撑装置上的背散射扫描装置的高度，由于便于在扫描过程中根据被检物的高度来调节背散射的飞点光斑投影大小和张角大小，因此，能够有效提升背散射图像的成像质量。
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公开(公告)号：CN104634796A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201410767544.0
申请日：2014-12-11
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： G01V5/0016 , G01V5/0008 , G21K1/02
摘要： 本发明公开了一种用于集装箱或车辆检查系统的对准系统、检查系统和对准方法。检查系统包括射线源、准直器以及安装在探测器臂上的探测器模块，射线源、准直器以及探测器模块布置成形成检查通道，射线源发射的射线束经过准直器入射到被检查物体，由探测器模块收集被衰减的射线束以完成检查。对准系统包括测量模块，所述测量模块布置成接收从准直器发出的射线束并通过测量射线束确定射线源和准直器的位置和方向。该对准方法可以更加准确地测量射线源中心点、探测器笔端中心线及准直器中心线的对准程度。
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