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公开(公告)号:CN109216137B
公开(公告)日:2024-04-05
申请号:CN201710554219.X
申请日:2017-06-30
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 新鸿电子有限公司
摘要: 本发明提供一种分布式X射线源及其控制力法。分布式X射线源包括分布式X射线管和阴极控制器。分布式X射线管包括:壳体;包括多个阴极的阴极组;包括多个靶点的阳极,多个靶点与多个阴极一一对准,使得多个靶点接收来自多个阴极的电子束,以产生多束X射线;和阴极引线端子组件组,包括多个阴极引线端子组件,每个阴极引线端子组件包括多个端子,所述端子与所述阴极分别电连接。所述阴极控制器通过所述阴极电缆与阴极引线端子组件电连接并且配置成通过所述阴极电缆分别向所述阴极施加工作电压,以产生所述电子束。
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公开(公告)号:CN109216137A
公开(公告)日:2019-01-15
申请号:CN201710554219.X
申请日:2017-06-30
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 新鸿电子有限公司
摘要: 本发明提供一种分布式X射线源及其控制力法。分布式X射线源包括分布式X射线管和阴极控制器。分布式X射线管包括:壳体;包括多个阴极的阴极组;包括多个靶点的阳极,多个靶点与多个阴极一一对准,使得多个靶点接收来自多个阴极的电子束,以产生多束X射线;和阴极引线端子组件组,包括多个阴极引线端子组件,每个阴极引线端子组件包括多个端子,所述端子与所述阴极分别电连接。所述阴极控制器通过所述阴极电缆与阴极引线端子组件电连接并且配置成通过所述阴极电缆分别向所述阴极施加工作电压,以产生所述电子束。
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公开(公告)号:CN109216991A
公开(公告)日:2019-01-15
申请号:CN201710524577.6
申请日:2017-06-30
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 新鸿电子有限公司
IPC分类号: H01R13/40 , H01R13/405 , H01R13/52
摘要: 本发明公开了一种插座连接器、插头连接器和连接器组件。插座连接器包括:壳体,由金属材料制成,壳体中形成有第一通孔;陶瓷绝缘体,包括基座和一个或者多个凸台,所述基座固定在第一通孔内并与壳体形成密封连接,在基座中设有多个第二通孔,所述凸台从所述基座的两侧中的至少一侧在轴向方向上延伸,每个凸台设有与所述第二通孔连通的辅助通孔;以及多个导电端子,分别穿过所述第二通孔和辅助通孔并且密封地安装到所述陶瓷绝缘体。
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公开(公告)号:CN109870738B
公开(公告)日:2024-06-14
申请号:CN201811654174.4
申请日:2018-12-29
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要: 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及其校正方法,包括壳体、数据处理装置以及位于壳体内的校准源、准光学组件和探测器阵列,壳体上设置有供被检对象自发辐射或反射回来的波束穿过的窗口;准光学组件用于将来自被检对象的波束反射并汇聚至探测器阵列,并包括反射板,其与壳体可转动地连接以对来自被检对象位于视场不同位置的部分的波束进行反射;校准源在准光学组件的物面上;探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束和来自校准源的波束;数据处理装置接收探测器阵列所接收的被检对象的图像数据和校准源的校准数据,并基于校准数据更新图像数据。该成像设备比采用远处的空气进行校正更加稳定可靠且能够实时校正。
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公开(公告)号:CN109459792B
公开(公告)日:2024-05-10
申请号:CN201811626865.3
申请日:2018-12-28
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要: 本公开提供了一种场景监控式毫米波扫描成像系统,包括适于定位在一安检场景中的多个毫米波扫描成像装置,所述多个毫米波扫描成像装置被布置成分别朝向不同的方位定向,以分别对该安检场景中的不同检测区域内的待检目标进行毫米波扫描成像并提供该目标的扫描数据。还提供了利用场景监控式毫米波扫描成像系统进行的安全检查方法。
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公开(公告)号:CN107045138B
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN201710469197.7
申请日:2017-06-20
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号: G01T1/20
摘要: 本发明提出一种背散射探测模块,包括板状的透光载体、两层闪烁体及光传感器;透光载体由可供荧光光子透过的材料制作,具有两个相对的透光平面以及至少一个出光端面,所述出光端面位于两个所述透光平面之间;两层闪烁体分别固定贴合于两个所述透光平面;光传感器耦合于所述出光端面。本发明的背散射探测模块,采用两层闪烁体以及透光载体来吸收X射线,极大地提高了探测效率,本探测模块利用透光载体作为导光材料,并在端面设置光传感器,透光载体不仅能够传输荧光光子,还能够改变光路,极大地减小了背散射探测器的厚度。
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公开(公告)号:CN117706651A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202311695514.9
申请日:2023-12-11
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司
IPC分类号: G01V8/10
摘要: 本发明公开了一种基于太赫兹信号的图像采集方法、图像采集系统,该图像采集方法包括:将两台太赫兹设备分别设置在检查区域的两侧;调节每台太赫兹设备的摆动反射板的姿态,以对检查区域中的待测目标发出的太赫兹波信号进行反射,并且避免两台太赫兹设备中的一台太赫兹设备的摆动反射板反射的待测目标的太赫兹波信号入射到另一台太赫兹设备的摆动反射板;以及基于分别从两台太赫兹设备的摆动反射板反射的太赫兹信号生成待测目标不同的面的太赫兹图像。
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公开(公告)号:CN117687100A
公开(公告)日:2024-03-12
申请号:CN202311695565.1
申请日:2023-12-11
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司
摘要: 一种校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法,该校准装置包括:辐射计阵列,包括多个辐射计通道,辐射计通道适用于对接收的信号波进行探测;在辐射计阵列所处的环境温度变化超过预设阈值的情况下,信号生成机构按时序发出第一驱动信号和第二驱动信号;校准板的温度能够在第一温度和第二温度之间切换;驱动机构被配置为根据第一驱动信号驱动具有第一温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道,使得辐射计阵列的多个辐射计通道对随具有第一温度的校准板发出的信号波分别进行探测,以及根据第二驱动信号驱动具有第二温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道。
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公开(公告)号:CN106769268B
公开(公告)日:2023-11-24
申请号:CN201611255800.3
申请日:2016-12-29
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G01N1/24
摘要: 本发明公开了一种采集进样装置和检查设备。采集进样装置包括:圆筒形外罩和置于圆筒形外罩内的内罩,在所述圆筒形外罩和内罩之间形成旋风腔,以便在旋风腔内充入气流形成龙卷风。采集进样装置还包括外腔体,和设置在所述内罩的第一内罩端开口内的多个气体喷射口,所述多个气体喷射口配置成朝向由圆筒形外罩的第一外罩端开口的端面限定的圆形区域的大体中心喷射气体。
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公开(公告)号:CN109407165B
公开(公告)日:2023-11-03
申请号:CN201811653641.1
申请日:2018-12-29
申请人: 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G01V8/00
摘要: 本发明公开了一种可扩展式毫米波安检系统、一种利用可扩展式毫米波安检系统对人体进行安全检查的方法以及一种可扩展式毫米波扫描单元。所述可扩展式毫米波安检系统包括:至少一条安检通道,每条安检通道的两侧中的至少任一侧上设置有至少一个扫描单元,每个扫描单元包括至少一个毫米波收发模块,所述毫米波收发模块包括用于发射和接收毫米波信号的毫米波天线阵列以及与所述毫米波天线阵列关联的毫米波收发机,所述毫米波收发模块布置成沿着安检通道的延伸方向对安检通道内的待检目标进行毫米波扫描。
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