公开(公告)号：CN1344416A

公开(公告)日：2002-04-10

申请号：CN00805160.7

申请日：2000-03-13

申请人： 因芬尼昂技术股份公司

发明人： O·克尼夫勒 ,  G·迪舍尔

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/36 ,  G01R31/318547 ,  G11C29/40

摘要： 本发明涉及既包含组合逻辑电路10也包含存储器12的电子电路的内装的自测试装置和方法,其中,为逻辑电路10和存储器12提供一公共自测试电路,并且同时进行逻辑电路和存储器的自测试。

公开(公告)号：CN1251244C

公开(公告)日：2006-04-12

申请号：CN00805160.7

申请日：2000-03-13

申请人： 因芬尼昂技术股份公司

发明人： O·克尼夫勒 ,  G·迪舍尔

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/36 ,  G01R31/318547 ,  G11C29/40

摘要： 本发明涉及既包含组合逻辑电路10也包含存储器12的电子电路的内装的自测试装置和方法，其中，为逻辑电路10和存储器12提供一公共自测试电路，并且同时进行逻辑电路和存储器的自测试。

公开(公告)号：CN1169053C

公开(公告)日：2004-09-29

申请号：CN00806480.6

申请日：2000-04-05

申请人： 因芬尼昂技术股份公司

发明人： J·诺勒斯 ,  G·迪舍尔 ,  W·加特纳

IPC分类号： G06F11/26 ,  G01R31/3185 ,  G01R31/3187

CPC分类号： G01R31/3187 ,  G01R31/3025 ,  G01R31/31719 ,  G01R31/318555

摘要： 本发明涉及具有内部自测试的电路，其中通过使用固定给出的标准接口(S1)可以为要测试的逻辑电路(LM)实现改善的测试覆盖面。为此，该具有内部自测试的电路含有：要测试的逻辑电路(LM)；通过直接接口(S2)运行所述逻辑电路(LM)的功能电路(FS)，其中功能电路(FS)具有标准接口(S1)以将具有内部自测试的电路(1)与外部测试装置(ET)连接起来；用于对逻辑电路(LM)进行结构测试的结构测试装置(ST)；用于间接地运行所述逻辑电路的间接接口，该间接接口将功能电路(FS)与结构测试装置(ST)连接起来，其中由功能电路将从外部测试装置(ET)施加在标准接口上的测试指令至少部分地传送给间接接口。

公开(公告)号：CN1347503A

公开(公告)日：2002-05-01

申请号：CN00806480.6

申请日：2000-04-05

申请人： 因芬尼昂技术股份公司

发明人： J·诺勒斯 ,  G·迪舍尔 ,  W·加特纳

IPC分类号： G01R31/3185 ,  G01R31/3187

CPC分类号： G01R31/3187 ,  G01R31/3025 ,  G01R31/31719 ,  G01R31/318555

摘要： 本发明涉及具有内部自测试的电路,其中通过使用固定给出的标准接口(S1)可以为要测试的逻辑电路(LM)实现改善的测试覆盖面。为此,复合电路(1)除了直接接口(S2)以外,还具有另一个间接接口(S3),该接口将结构测试装置(ST)与功能电路(FS)连接起来。