包括非易失性存储单元的半导体逻辑电路

    公开(公告)号:CN116711011A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202280009500.4

    申请日:2022-01-04

    IPC分类号: G11C11/21

    摘要: 一种相变存储器(PCM)装置,所述装置包括底部电极、在所述底部电极上方的底部加热器、在所述底部加热器上方的底部缓冲层、在所述底部缓冲层上方的PCM区域、在所述PCM区域上方的顶部缓冲层、在所述顶部缓冲层上方的顶部加热器、以及在所述顶部加热器上方的顶部电极。

    双栅极场效应晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN100337334C

    公开(公告)日:2007-09-12

    申请号:CN200310121549.8

    申请日:2003-12-18

    IPC分类号: H01L29/772 H01L21/336

    摘要: 一种双栅极场效应晶体管(DGFET)结构及其这种结构的形成方法,其中源/漏区下的寄生电容显著减少。本发明引入了两个新措施,以减小源/漏区下的寄生电容。首先,将栅极外的硅区转变成氧化物,用具有第一横向厚度的第一间隔层保护了与栅极相邻的硅凸缘。使用自对准的氧注入或其它粒种注入促进氧化。其次,除去第一间隔层,用横向厚度小于第一间隔层的横向厚度的第二间隔层代替,通过使用横向选择性外延过生长并使用现在露出的硅凸缘作为籽晶在自对准的隔离区上生长新的硅源/漏区。这样可以获得到背平面的低电容,同时可以保持控制阈值电压。

    多级铁电场效应晶体管器件
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116649003A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202180083411.X

    申请日:2021-11-19

    IPC分类号: H10B51/00

    摘要: 一种器件包括非易失性存储器和控制系统。该非易失性存储器包括非易失性存储器单元的阵列,其中至少一个非易失性存储器单元包括铁电场效应晶体管(FeFET)器件。FeFET器件包括第一和第二源极/漏极区,以及包括铁电层和设置在铁电层之上的栅极电极的栅极结构。铁电层包括邻近于第一源极/漏极区的第一区和邻近于第二源极/漏极区的第二区。控制系统可操作地耦合到所述非易失性存储器,以将FeFET器件编程为具有多个不同逻辑状态中的逻辑状态。多个不同逻辑状态中的至少一个逻辑状态对应于FeFET器件的极化状态,其中铁电层的第一区和第二区具有极性相反的相应剩余极化。