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公开(公告)号：CN102192723A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110009510.1
申请日：2011-01-18
Applicant: 夏普株式会社 , 原相科技股份有限公司
IPC: G01C3/00
CPC classification number: G01C3/085
Abstract: 本发明提供了一种光学式测距传感器，其包括：发光部，对被测定物体照射光束；光接收部，形成上述被测定物体对上述光束的反射光的光斑；以及处理电路部，对来自上述光接收部的输出信号进行处理，从而检测到上述被测定物体的距离。上述光接收部包括在第一方向和正交于该第一方向的第二方向上以矩阵状配置多个光接收单元的有效光接收部，该第一方向是当上述被测定物体在上述发光部的光轴方向上移动时上述光斑的位置所移动的方向。上述有效光接收部在上述第二方向上的尺寸为，上述光斑的半径以上并且直径以下。
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公开(公告)号：CN102192723B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201110009510.1
申请日：2011-01-18
Applicant: 夏普株式会社 , 原相科技股份有限公司
IPC: G01C3/00
CPC classification number: G01C3/085
Abstract: 本发明提供了一种光学式测距传感器，其包括：发光部，对被测定物体照射光束；光接收部，形成上述被测定物体对上述光束的反射光的光斑；以及处理电路部，对来自上述光接收部的输出信号进行处理，从而检测到上述被测定物体的距离。上述光接收部包括在第一方向和正交于该第一方向的第二方向上以矩阵状配置多个光接收单元的有效光接收部，该第一方向是当上述被测定物体在上述发光部的光轴方向上移动时上述光斑的位置所移动的方向。上述有效光接收部在上述第二方向上的尺寸为，上述光斑的半径以上并且直径以下。
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公开(公告)号：CN101408622A
公开(公告)日：2009-04-15
申请号：CN200810170140.8
申请日：2008-10-13
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山口阳史
CPC classification number: G01S7/491 , G01S7/4813 , G01S17/026 , G01S17/48
Abstract: 本发明提供一种光学式测距传感器。该光学式测距传感器具备：发出照射光的发光元件、把照射光会聚并向测距对象物照射的发光侧透镜、把照射光被测距对象物反射的反射光进行会聚的受光侧透镜、接受被会聚的反射光来检测测距对象物位置的位置检测受光元件、控制发光元件的发光并处理位置检测受光元件的检测电流的控制处理用集成电路。发光元件由面发光激光器构成。
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公开(公告)号：CN101839709A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN201010120521.2
申请日：2010-02-22
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01C3/00
CPC classification number: G01S17/48 , G01S7/4813
Abstract: 光学式测距传感器具有：用第1透光性树脂部分密封的红外LED；用第2透光性树脂部分密封的光接收元件；接触到所述第1、第2透光性树脂部分的遮光性树脂部分；驱动红外LED的驱动电路单元；控制光接收元件的光接收元件控制单元；以及用于控制所述驱动电路单元和光接收元件控制单元的控制单元。在该控制单元的控制下，使红外LED的驱动时间和光接收元件侧的曝光时间为同一定时，而且在不驱动红外LED的期间使光接收元件曝光与所述曝光时间相同的时间。求基于驱动红外LED时的曝光的输出和基于不驱动红外LED时的曝光的输出之间的输出差，根据该输出差进行测距。
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公开(公告)号：CN1766521A
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN200510118168.3
申请日：2005-10-26
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山口阳史
CPC classification number: G01C3/08 , G01S7/4813 , G01S7/4815 , G01S7/491 , G01S7/4911 , G01S17/42 , G01S17/48
Abstract: 一种光学式测距传感器，具有：基板(10)；多个发光元件(1)，其安装于上述基板(10)上；多个发光侧透镜(2)，其与上述发光元件(1)对应配置；一个位置检测光接收元件(3)，其安装于上述基板(10)上；一个光接受侧环形透镜(4)，其与上述位置检测光接收元件(3)对应配置；控制部(6)，其安装于上述基板(10)上。该控制部(6)以规定的定时驱动上述各发光元件(1)，同时，处理从上述位置检测光接收元件(3)输出的信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1595308A
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：CN200410074925.7
申请日：2004-09-01
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山口阳史
CPC classification number: B41J11/009 , G01N21/21 , G01N21/55 , G01N21/86 , G01N2021/217 , G01N2021/556
Abstract: 一种光学物体识别装置，包括发光装置、第一光电探测器和第二光电探测器。在该光学物体识别装置中，形成于发光装置的光学轴线和待检薄片表面之间的角度为10至30度，形成于第一光电探测器的光学轴线和薄片表面之间的角度为10至30度，形成于第二光电探测器的光学轴线和薄片表面之间的角度大约为90度。于是，发光装置、第一光电探测器和第二光电探测器被设置在最佳位置，使得第一光电探测器和第二光电探测器可以获得随着各种薄片而不同的两个输出值。
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公开(公告)号：CN102096464B
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201010267419.5
申请日：2010-08-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G06F3/01
CPC classification number: G06F3/011 , G06F3/0304
Abstract: 本发明涉及光学式检测装置及电子设备。一种光学式检测装置，具备：面传感器即发光元件(2)、将从发光元件(2)射出的光束照射到测定对象物(20)的发光透镜部(4a)、对来自测定对象物(20)的反射光进行聚光的光接收透镜部(5a)、对由光接收透镜部(5a)聚光的来自测定对象物(20)的反射光进行检测的光接收元件(3)、以及对来自光接收元件(3)的光接收信号进行处理的信号处理部(7)。上述信号处理部(7)基于来自光接收元件(3)的光接收信号，根据光接收元件(3)上的光点位置或光点形状的其中至少一项检测出xy坐标平面上的测定对象物(20)的x坐标或y坐标的其中至少一项。
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公开(公告)号：CN102853809B
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201210222556.6
申请日：2012-06-28
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01C3/00
CPC classification number: G01C3/085
Abstract: 本发明提供一种光学式测距装置及电子设备。该光学式测距装置中，在由遮光性树脂形成的二次模制件（9）及三次模制件（10）之间保持透镜架（11），该透镜架（11）由金属形成，保持发光透镜（5）及受光透镜（6）。透镜架（11）在表面及背面具有凹凸结构（11b）。因为大幅提高发光透镜（5）及受光透镜（6）与透镜架（11）的紧密结合力，所以能够防止发光透镜（5）、受光透镜（6）与透镜架（11）之间发生滑动。
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公开(公告)号：CN100344998C
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200510081017.5
申请日：2005-06-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01C3/08 , G01S7/481 , G01S7/4814 , G01S17/48
Abstract: 本发明涉及一种光学测距传感器，具有多个发光元件(51-55)、发光透镜(1)、具有光接收面的光电检测器(4)、顺序地驱动所述发光元件的发光驱动部分(31)、和距离信号输出部分(31)。从每个发光元件发射的光穿过发光透镜，然后被检测物体(32)反射，再入射到所述光电检测器的光接收面，其输出与在所述光接收面中的入射光的位置相对应的信号。当接收到该信号时，所述距离信号输出部分输出代表到该物体距离的距离信号。
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公开(公告)号：CN1550752A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN200410038456.3
申请日：2004-04-26
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01B11/024 , B41J11/0095
Abstract: 使来自光发射器的光线变成在平行于检测物体的移动方向的方向上延伸的线性光束，并且该光束被投射到该检测物体上。使线性反射光束入射到光接收器上，该线性反射光束是从所述检测物体反射的线性光束。因此，在第一时间点来自所述光接收器的第一输出波形信号和在第二时间点来自所述光接收器的第二输出波形信号被存到存储单元中。移动量检测单元，用于检测在所述第一输出波形信号和第二输出波形信号之间的变化量，并且根据所述变化量来计算所述检测物体的移动量。因而，提供一种能够精确地测量具有光滑表面的检测物体的移动量的光移动量检测装置。
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