SiC MOSFET栅极氧化物健康状态在线监测方法

    公开(公告)号:CN117849565B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202311720609.1

    申请日:2023-12-13

    Abstract: 本发明属于智能监测装置技术领域,公开了一种SiC MOSFET栅极氧化物健康状态在线监测方法,借助电流传感器判断负载电流方向,当负载电流反向流过待测器件且待测器件导通时,触发在线监测程序;使用电流源抽取待测器件输入电容的电荷,使待测器件栅极电压在恒定电流作用下不断降低,同时使用运算放大器构成微分运算电路实时测量dVgs/dt;比较器的参考值设置为Vref,当Ciss降低至Cref时,Vdif(dVgs/dt)增大至Vref,比较器输出电压Vcmp拉高,RS锁存器输出信号Q拉低,关断N‑MOSFET S2,切断电流源输出,使得待测器件Vgs锁存在Vref;RS锁存器的反向输出nQ拉高,触发ADC对Vgs进行采样,将此时的Vref采集进入微控制器进行记录,通过和过去值的对比,判断栅极氧化物的健康状态。

    SiC MOSFET栅极氧化物健康状态在线监测方法

    公开(公告)号:CN117849565A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311720609.1

    申请日:2023-12-13

    Abstract: 本发明属于智能监测装置技术领域,公开了一种SiC MOSFET栅极氧化物健康状态在线监测方法,借助电流传感器判断负载电流方向,当负载电流反向流过待测器件且待测器件导通时,触发在线监测程序;使用电流源抽取待测器件输入电容的电荷,使待测器件栅极电压在恒定电流作用下不断降低,同时使用运算放大器构成微分运算电路实时测量dVgs/dt;比较器的参考值设置为Vref,当Ciss降低至Cref时,Vdif(dVgs/dt)增大至Vref,比较器输出电压Vcmp拉高,RS锁存器输出信号Q拉低,关断N‑MOSFET S2,切断电流源输出,使得待测器件Vgs锁存在Vref;RS锁存器的反向输出nQ拉高,触发ADC对Vgs进行采样,将此时的Vref采集进入微控制器进行记录,通过和过去值的对比,判断栅极氧化物的健康状态。

    一种SiC MMC优化调制的方法及装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117318513A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311189619.7

    申请日:2023-09-14

    Abstract: 本发明公开了一种SiC MMC优化调制的方法及装置。该方法包括:选择Nt个桥臂子模块计算待优化调制的SiC MMC的桥臂电压的参考波,其中,Nt=N/2,N为实际的桥臂子模块数量;对各相电压的参考波放大进行补偿,基于桥臂子模块输出电数量压的参考波对应的子模块数量Nt计算得到各相 N*jo;根据各相对应的子模块数量N*jo进行NLM‑PWM调制,分别得到各相对应的上/下桥臂子模块数量;将上/下桥臂子模块数量分别乘以补偿系数2,并进行再调制得到目标上桥臂子模块数量和目标下桥臂子模块数量;根据计算得到的上/下桥臂子模块数量实时控制其对应的桥臂在每一时刻的子模块数量,以使SiC MMC完成优化调制。实现了SiC MMC高频CMV、电能质量与运行效率的综合优化。

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