用于3D NAND闪存存储器的自对准型纳米点

    公开(公告)号:CN110291634A

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201880011449.4

    申请日:2018-02-06

    摘要: 一种形成具有自对准型纳米点的3D NAND结构的方法包括:在基板上沉积交替的氧化物层和氮化物层;至少部分地将所述氮化物层做成凹处;和在所述氮化物层上形成SiGe纳米点。一种形成具有自对准型纳米点的3D NAND结构的方法包括:在基板上沉积交替的氧化物层和氮化物层;至少部分地将所述氮化物层做成凹处;和通过包括以下步骤的工艺在所述氮化物层上形成SiGe纳米点:将所述基板的温度维持在低于约560℃;使硅外延前驱物流入腔室中;在所述基板上的所述氮化物层处形成硅外延层;使锗气随所述硅外延前驱物一起流入所述腔室中;和在所述基板上的所述氮化物层处形成硅锗外延层。