等离子体掺入方法和等离子体掺入设备

    公开(公告)号:CN101160643B

    公开(公告)日:2012-04-18

    申请号:CN200680012508.7

    申请日:2006-05-11

    CPC classification number: H01L21/2236 C23C14/48 H01J37/32412

    Abstract: 本发明提供了一种等离子体掺入方法,即使在等离子体处理重复时,每次可以实现从膜到硅基板的相同剂量。在该等离子体掺入方法中,样品安装在真空容器内的样品电极上,且等离子体在真空容器内产生以允许等离子体内的杂质离子碰撞到样品表面且因此在样品表面上形成杂质掺入层。该等离子体掺入方法包括提供真空容器的维护步骤,该真空容器具有设有包含上述杂质的膜的内壁,该膜起作用使得由于等离子体中离子轰击固定于该真空容器内壁上的该包含杂质的膜通过溅射引入样品表面内的杂质的数量保持不变,即使当该包含杂质离子的等离子体在真空容器内重复产生时;将该样品安装于样品电极上的步骤;以及施加该包含杂质离子的等离子体从而将杂质离子注入该样品,以及通过溅射固定到该真空容器内壁的包含杂质的膜而将该杂质引入样品的步骤。

    等离子体显示面板及其制造方法

    公开(公告)号:CN101887831B

    公开(公告)日:2012-04-04

    申请号:CN201010178381.4

    申请日:2010-05-11

    CPC classification number: H01J11/12 H01J9/02 H01J11/38

    Abstract: 本发明提供一种等离子体显示面板以及能够有效地防止或减轻形成电介质层时产生的裂纹,并且防止了等离子体显示面板完成后的亮度劣化的等离子体显示面板的制造方法。一种等离子体显示面板的制造方法,前面板的电介质层的形成包括:(i)制备包括玻璃成分、有机溶剂及二氧化硅粒子的介电原料的工序;(ii)向形成有电极的基板上供给介电原料,从所供给的介电原料中除去有机溶剂而形成介电前体层的工序;(iii)对介电前体层附加热处理,由介电前体层形成第一电介质层的工序;以及(iv)对第一电介质层的表面附加局部性的热处理,在第一电介质层的表面部分形成第二电介质层的工序。

    等离子体显示器面板的制造方法

    公开(公告)号:CN101630617B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200910139979.X

    申请日:2009-07-17

    CPC classification number: H01J11/12 H01J9/261

    Abstract: 本发明提供一种能够以良好的均一性、简单并且低成本地去除保护层表面的变质层的PDP制造方法。该PDP制造方法构成为,包括:(i)准备在基板A上形成电极A、电介质层A和保护层的前面板、以及在基板B上形成电极B、电介质层B、隔壁和荧光体层的背面板的工序,(ii)在基板A或基板B的周边区域涂敷玻璃粉材料,并以夹着玻璃粉材料的方式将前面板与背面板对置配置的工序,(iii)在对前面板以及背面板进行加热的状态下,从前面板以及背面板的横向,向对置配置的前面板与背面板之间吹入气体的工序,以及(iv)使玻璃粉材料熔融,使前面板和背面板密封的工序。

    等离子体显示面板及其制造方法

    公开(公告)号:CN101887831A

    公开(公告)日:2010-11-17

    申请号:CN201010178381.4

    申请日:2010-05-11

    CPC classification number: H01J11/12 H01J9/02 H01J11/38

    Abstract: 本发明提供一种等离子体显示面板以及能够有效地防止或减轻形成电介质层时产生的裂纹,并且防止了等离子体显示面板完成后的亮度劣化的等离子体显示面板的制造方法。一种等离子体显示面板的制造方法,前面板的电介质层的形成包括:(i)制备包括玻璃成分、有机溶剂及二氧化硅粒子的介电原料的工序;(ii)向形成有电极的基板上供给介电原料,从所供给的介电原料中除去有机溶剂而形成介电前体层的工序;(iii)对介电前体层附加热处理,由介电前体层形成第一电介质层的工序;以及(iv)对第一电介质层的表面附加局部性的热处理,在第一电介质层的表面部分形成第二电介质层的工序。

    杂质导入方法和杂质导入装置

    公开(公告)号:CN100555574C

    公开(公告)日:2009-10-28

    申请号:CN200510092358.2

    申请日:2005-08-29

    Abstract: 一种杂质导入方法和装置,其经济地能够精密地控制杂质导入量,并且能够抑制杂质深扩散。非晶质处理室包括:容器(1)、设于容器(1)内的试料台(2)、与试料台(2)相对设置的窗口(3)、隔着窗口(3)与试料台(2)相对的作为紫外线光源的五个Xe灯(4)。在试料台(2)上载置作为试料的硅基板(5),从Xe灯(4)发出的紫外线照射硅基板(5)的表面,则硅基板(5)的表面附近的结晶结构被破坏,而进行非晶质化。然后,在已非晶质化的基板表面上施加离子供给处理、活性化处理,由此,能够在基板表面极浅地导入杂质。

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