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公开(公告)号:CN107180787B
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN201710082515.4
申请日:2017-02-15
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
IPC: H01L21/78 , H01L27/12 , B23K26/364 , B23K10/00
Abstract: 一种元件芯片及其制造方法。元件芯片的制造方法包括激光划片工序,对具备第1层和第2层的基板的分割区域从第2层侧照射激光,从而在分割区域形成具备露出第1层的露出部的开口,并且在包含露出部的第1层的表层部形成第1损伤区域,在第1损伤区域的附近且被第2层覆盖的第1层的表层部形成第2损伤区域。而且,包括各向同性蚀刻工序,在激光划片工序之后,通过使基板暴露于第1等离子体从而各向同性地蚀刻第1层,从而除去第1损伤区域和第2损伤区域。还包括等离子体切割工序,在各向同性蚀刻工序之后,在用支承构件支承了第2主面的状态下,将基板暴露于第2等离子体,各向异性地蚀刻第1层,从而将基板分割为具备元件区域的多个元件芯片。
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公开(公告)号:CN102240850B
公开(公告)日:2016-02-24
申请号:CN201110128797.X
申请日:2011-05-11
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 本发明提供一种接合方法、接合装置、以及接合体。由于使用因吸收激光(1)而被加热的加压工具(2),一边对一个构件进行挤压,一边照射激光,以将两个构件进行接合,从而能在扩大了接合面积的状态下进行热扩散接合,因此,也能以简便的结构,高速且高质量、高稳定地将激光反射率高的镀金或铜等各种接合材料进行接合。
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公开(公告)号:CN107180787A
公开(公告)日:2017-09-19
申请号:CN201710082515.4
申请日:2017-02-15
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
IPC: H01L21/78 , H01L27/12 , B23K26/364 , B23K10/00
CPC classification number: H01L23/3192 , H01L21/268 , H01L21/31116 , H01L21/56 , H01L21/6836 , H01L21/78 , H01L23/544 , H01L23/562 , H01L2221/68318 , H01L2221/68327 , H01L2221/68381 , B23K10/00 , B23K26/364 , H01L27/1207
Abstract: 一种元件芯片及其制造方法。元件芯片的制造方法包括激光划片工序,对具备第1层和第2层的基板的分割区域从第2层侧照射激光,从而在分割区域形成具备露出第1层的露出部的开口,并且在包含露出部的第1层的表层部形成第1损伤区域,在第1损伤区域的附近且被第2层覆盖的第1层的表层部形成第2损伤区域。而且,包括各向同性蚀刻工序,在激光划片工序之后,通过使基板暴露于第1等离子体从而各向同性地蚀刻第1层,从而除去第1损伤区域和第2损伤区域。还包括等离子体切割工序,在各向同性蚀刻工序之后,在用支承构件支承了第2主面的状态下,将基板暴露于第2等离子体,各向异性地蚀刻第1层,从而将基板分割为具备元件区域的多个元件芯片。
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公开(公告)号:CN107180745A
公开(公告)日:2017-09-19
申请号:CN201710082551.0
申请日:2017-02-15
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
CPC classification number: H01L21/78 , H01J2237/334 , H01L21/268 , H01L21/3065 , H01L21/30655 , H01L21/31116 , H01L21/67069 , H01L21/67109 , H01L21/67115 , H01L21/6831 , H01L21/02 , H01L21/56 , H01L23/28 , H01L23/562
Abstract: 一种元件芯片的制造方法。元件芯片的制造方法包括准备基板的工序,基板具备第1主面及第2主面,并且具备作为半导体层的第1层和包含绝缘膜的第2层。包括激光划片工序,对分割区域从第1主面侧照射激光从而形成具备露出第1层的露出部的开口,在露出部以外的开口的周围形成残留了分割区域中的第2层的残留区域,在分割区域中的第1层形成包含露出部的第1层的表层部的第1损伤区域和被残留区域覆盖的第1层的表层部的第2损伤区域。包括:露出工序,使第2损伤区域露出;和等离子体切割工序,在支承构件支承了第2主面的状态下,将开口暴露于第1等离子体,与第1损伤区域以及第2损伤区域一起蚀刻第1层,分割为具备元件区域的多个元件芯片。
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