一种铜靶材及其制备方法

    公开(公告)号:CN112795876B

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202011645165.6

    申请日:2020-12-31

    IPC分类号: C23C14/34

    摘要: 本申请提供一种铜靶材及其制备方法,属于溅射材料领域。铜靶材包括沿靶材厚度方向层叠设置的多个无晶界铜层,每个无晶界铜层的晶格取向相同且均为Cu(111)、Cu(110)、Cu(211)和Cu(100)中的一种。铜靶材的制备方法包括:将多个无晶界铜层沿靶材厚度方向层叠设置,然后进行加热辊压。该铜靶材制备方便,铜靶材整体一致性较好,且能有效改善铜靶材局部杂质和裂纹严重的问题。

    铜箔的纯化方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114672878B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202210357816.4

    申请日:2022-04-06

    IPC分类号: C30B27/00 C30B29/02

    摘要: 一种铜箔的纯化方法,属于材料纯化领域。铜箔的纯化方法包括:在管式炉的中心温区放置组件,在惰性气体及氢气的混合气氛下,保持中心温区的温度为1050‑1070℃的条件下退火至少5h,获得纯化的单晶铜箔,其中,组件由含有杂质的多晶铜箔以及支撑多晶铜箔的载体构成,多晶铜箔为压延铜箔,惰性气体的流量为500‑600sccm,氢气的流量为30‑100sccm。该纯化方法不仅能够针对工业多晶铜箔直接净化,改善现有的纯化方法能耗大、制备难度高的问题,同时能够使工业多晶铜箔单晶化,提高产品性能。

    耐弯折铜箔及其制备方法和FPC挠性电路板

    公开(公告)号:CN112064071A

    公开(公告)日:2020-12-11

    申请号:CN202010939817.0

    申请日:2020-09-09

    摘要: 本申请提供一种耐弯折铜箔及其制备方法和FPC挠性电路板,涉及电子电路领域。耐弯折铜箔包括:单晶耐弯折铜箔或大晶畴耐弯折铜箔。单晶耐弯折铜箔为:在200*200mm至250*300mm的范围内没有晶界存在,只有唯一晶畴且晶畴的尺寸不小于200*200mm。大晶畴耐弯折铜箔由大晶畴铜箔进行电镀铜和/或压延处理后获得,大晶畴铜箔为:在200*200mm范围内存在一个以上的晶畴或存在一个以上的晶界,且200*200mm范围内的晶畴个数<500个。通过合理光学仪器检查、筛选并分类别获得大晶畴铜箔和单晶耐弯折铜箔,同时对大晶畴铜箔后处理提高其耐弯折性,满足FPC挠性电路板的需求。