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公开(公告)号：CN101888232A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN200910141026.7
申请日：2009-05-11
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
摘要： 本发明利用自混合型激光计测器，以简单且便宜的构成实现精度良好的反射型光电开关。本发明的反射型光电开关包括：半导体激光器(1)；检测含有干涉波形的电气信号的检测单元(光电二极管(2)、电流-电压变换放大部(5))，该干涉波形由于从该半导体激光器(1)发射出的激光和来自物体(10)的返回光的自混合效应而产生；根据干涉波形的信息，判定到所述物体的距离比预定的基准距离远还是近的距离判定处理单元(过滤部(6)，计数部(7)，判定部(8))。
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公开(公告)号：CN101281031A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200810096322.5
申请日：2008-04-01
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
CPC分类号： G01B9/02007 , G01B9/02004 , G01B9/02092 , G01B2290/45 , G01P3/366 , G01S17/325 , G01S17/87
摘要： 本发明距离/速度计，包括：第1、第2半导体激光器，向测定对象照射平行的激光；第1激光器驱动器，驱动第1半导体激光器使得至少振荡波长连续地单调增加的振荡期间反复地存在；第2激光器驱动器，驱动第2半导体激光器使得振荡波长的增减与第1半导体激光器相反；第1、第2光接收器，至少将第1、第2半导体激光器的光输出变换为电信号；计数机构，对因第1激光和该激光的来自测定对象的返回光所产生的干涉波形的数量，与因第2激光和该激光的来自测定对象的返回光所产生的干涉波形的数量分别计数；以及运算机构，根据第1和第2半导体激光器的最小振荡波长和最大振荡波长与计数机构的计数结果，计算距测定对象的距离和测定对象的速度。
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公开(公告)号：CN102192707A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201010131486.4
申请日：2010-03-04
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
摘要： 本发明的物理量传感器，其以高的分辨能力对物体的位移和速度进行计测，缩短计测所需时间。该物理量传感器包括：对测定对象(10)发射激光的半导体激光器(1)；激光驱动器(4)，其使得所述半导体激光器(1)动作以使振荡波长连续单调增加的第一振动期间和振动波长连续单调减少的第二振荡期间中的至少一种反复出现；光电二极管(2)和电流-电压变换放大部(5)，其检测包含干涉波形的电信号，所述干涉波形由从半导体激光器(1)发射的激光和物体(10)的返回光的自混合效应产生；信号提取部(7)，其对包含在电流-电压变换放大部(5)的输出信号中的干涉波形的周期进行计测；计算部(8)，通过对信号提取部(7)的计测结果和基准周期进行比较来对该计测结果进行修正，并根据修正后的各周期计算物体(10)的位移和速度中的至少一项。
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公开(公告)号：CN101936766A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN201010227099.0
申请日：2010-06-29
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
CPC分类号： G01S17/325 , G01D5/266 , G01R23/16
摘要： 一种张力·速度测量装置，其可以校正计数误差，包括：使半导体激光器(1)振荡的激光器驱动器(4)；计数装置(7)，其对将半导体激光器(1)的输出变换为电信号的光电二极管(2)的输出中所含有的干涉波形进行计数。计数装置(7)测定计数期间中的干涉波形的周期，基于该测定结果生成计数期间中的干涉波形的周期的频数分布，再基于该频数分布，将等级值和频数的积为最大的等级值作为干涉波形的周期的代表值T0，求出没有达到代表值T0的0.5倍的等级的频数的总和Ns、及在代表值T0的(n+0.5)倍以上且没有达到(n+1.5)倍的等级的频数的总和Nwn，并基于这些频数Ns和Nwn校正计数结果。
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公开(公告)号：CN101888230A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN200910141025.2
申请日：2009-05-11
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
IPC分类号： H03K17/78 , H03K17/968 , G01V8/14 , G02B27/00
摘要： 本发明利用自混合型激光计测器，以简单且便宜的结构实现精度良好的反射型光电开关。该反射型观点开关包括：半导体激光器(1)，检测包含由半导体激光器(1)发射的激光和物体(10)返回的光的自混合效应所产生的干涉波形的电信号的检测单元(光电二极管(2)、电流-电压变换放大部(5))，以基于基准周期的值对干涉波形的周期的次数进行区别的周期区别部(7)，根据周期区别部(7)的测定结果判定物体(10)比基准距离近还是远的判定部(8)。
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公开(公告)号：CN102313883A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110192345.8
申请日：2011-06-30
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
IPC分类号： G01S7/486
CPC分类号： G01S17/325 , G01S7/4916 , G01S7/493
摘要： 本发明的信号判定装置以及信号判定方法简单地实现输入信号是否有效的判定。信号判定装置(10)，具有：对输入信号进行二值化的二值化部(100)；游程长度测量部(101)，所述游程长度测量部(101)以所述二值化部(100)的输出作为输入，测量判定期间内的输入信号的游程长度；有效性判定部(103)，所述有效性判定部根据从所述游程长度测量部(101)的测量结果得到的游程长度分布与几何分布之间的一致度来判定输入信号是否有效。有效性判定部(103)，在将测量游程长度的抽样时钟在判定期间内的总数作为Nsamp时，根据判定期间内的总频数与Nsamp/2之间的比值，或者判定期间内的等级值1的频数与Nsamp/4之间的比值，判定输入信号是否有效。
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公开(公告)号：CN102116775A
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN201010583389.9
申请日：2010-11-30
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
IPC分类号： G01P3/36
CPC分类号： G01P3/36 , G01P3/50 , G01S7/4916 , G01S17/325 , G01S17/58
摘要： 本发明的速度测量装置以及方法能够对卷筒材料的速度进行测量。速度测量装置包括：向作为测定对象的卷筒材料(11)发射激光的半导体激光器(1)；将半导体激光器的光输出变换为电信号的光电二极管(2)；透镜(3)，将来自半导体激光器的光聚光并照射，同时将从卷筒材料返回的光聚光并入射到半导体激光器中；驱动半导体激光器的激光驱动器(4)；将光电二极管2的输出电流变换为电压并放大的电流-电压变换放大部(5)；除去电流-电压变换放大部的输出电压中的载波的滤波部(6)；计算滤波部的输出电压中所含有的干涉波形的数量的信号提取部(7)；基于信号提取部的计数结果算出卷筒材料的速度的运算部(8)。
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公开(公告)号：CN102375143A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201110199368.1
申请日：2011-07-05
申请人： 株式会社山武
发明人： 上野达也
IPC分类号： G01S17/32
CPC分类号： G01J1/02 , G01S7/4916 , G01S7/493 , G01S17/325
摘要： 本发明的信号判定装置以及信号判定方法简单地实现输入信号是否有效的判定。信号判定装置(10)，具有：对输入信号进行二值化的二值化部(100)；游程长度测量部(101)，所述游程长度测量部(101)以所述二值化部(100)的输出作为输入，测量判定期间内的输入信号的游程长度；判定单元(几率计算部(103)、噪声频数计算部(104)、有效性判定部(105))，所述判定单元根据该游程长度测量部(101)的测量结果，求出将所述判定期间内所述输入信号所包含的噪声的频数分布假定为几何分布的分布，将所求得的分布与根据所述游程长度测量部(101)的测量结果得到的游程长度的分布进行比较，由此判定输入信号是否有效。
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