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公开(公告)号:CN114752976B
公开(公告)日:2024-08-13
申请号:CN202210460141.6
申请日:2022-04-28
申请人: 株式会社荏原制作所
摘要: 提供对基板高效地进行前置处理的预湿模块、脱气液循环系统和预湿方法。预湿模块(200)包括:脱气槽(210),其收容脱气液;处理装置(258),其包括喷嘴(268),其对被处理面向上的基板的被处理面供给清洗液;基板保持架(220),其具有配置于脱气槽与处理装置之间且保持第1基板的第1保持构件(222)和保持第2基板的第2保持构件(224);以及驱动机构(230),其使基板保持架旋转和升降,驱动机构(230)包括:旋转机构(240),其使基板保持架在使第1基板的被处理面与脱气槽内的脱气液相向的第1状态和使第2基板的被处理面与脱气槽内的脱气液相向的第2状态之间旋转;和升降机构(248),其使基板保持架升降。
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公开(公告)号:CN117500959B
公开(公告)日:2024-08-06
申请号:CN202280040544.3
申请日:2022-12-09
申请人: 株式会社荏原制作所
发明人: 关正也
摘要: 在杯式镀覆装置中抑制搅拌桨的中央部垂下。包括:镀覆槽(410),其用于收容镀覆液;阳极,其配置于镀覆槽(410)内;基板支架,其构成为在使被镀覆面(Wf‑a)朝向下方的状态下保持基板(Wf);搅拌桨(460),其配置于阳极与基板(Wf)之间;驱动机构(462),其构成为支承搅拌桨(460)的基端部(460A),使搅拌桨(460)沿着基板(Wf)的被镀覆面(Wf‑a)往复移动;第1磁铁(464),其设置于搅拌桨(460);以及第2磁铁(468),其设置为与第1磁铁(464)对置,第1磁铁(464)以及第2磁铁(468)构成为相互带来磁力,以使搅拌桨(460)的基端部(460A)与前端部(460B)之间的中央部(460C)接近基板(Wf)的被镀覆面(Wfa)。
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公开(公告)号:CN116097077B
公开(公告)日:2024-02-27
申请号:CN202280006005.8
申请日:2022-06-17
申请人: 株式会社荏原制作所
摘要: 提供一种判定镀覆液向触点部件的配置区域的泄漏的有无的技术。泄漏判定方法包括:排出步骤(120),在该排出步骤中,在将被基板保持器保持的基板浸渍于镀覆液并进行镀覆处理之后,对基板保持器的触点部件排出清洗液;测量步骤(122),在该测量步骤中,测量清洗触点部件之后的清洗液的导电率;以及判定步骤(128),在该判定步骤中,基于针对成为基准的基板保持器预先测量出的清洗液的第1导电率与通过测量步骤(122)测量出的清洗液的第2导电率的比较来判定镀覆液向触点部件的配置区域的泄漏的有无。
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公开(公告)号:CN110732944B
公开(公告)日:2023-10-20
申请号:CN201910645186.9
申请日:2019-07-17
申请人: 株式会社荏原制作所
摘要: 本发明提供一种能够在晶片等基板的边缘部形成具有直角截面的阶梯形状的凹陷的研磨装置及研磨方法。研磨装置在基板(W)的边缘部形成阶梯形状的凹陷。研磨装置具备使基板(W)以旋转轴心CL为中心旋转该基板旋转装置(3);具有将研磨带(38)按压于基板(W)的边缘部的第一外周面(51a)的第一辊(51);以及具有与第一外周面(51a)接触的第二外周面(54a)的第二辊(54),第二辊(54)具有限制研磨带(38)向远离旋转轴心CL的方向的运动的带止挡面(75),带止挡面(75)位于第一外周面(51a)的半径方向外侧。
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公开(公告)号:CN105500154B
公开(公告)日:2018-06-12
申请号:CN201610036726.X
申请日:2008-12-02
申请人: 株式会社荏原制作所
CPC分类号: B24B21/002 , B24B9/065 , B24B21/004 , B24B21/008 , B24B21/20 , B24B27/0076 , B24B37/042 , B24B37/30 , B24B41/068 , B24B49/00 , Y10T428/24777
摘要: 本发明提供一种用于抛光基片的外周的抛光装置。该抛光装置包括配置成水平地保持基片并转动基片的旋转保持机构、设置在基片周围的多个抛光头组件、配置成将抛光带供给到多个抛光头组件并从多个抛光头组件收回抛光带的多个带供给与收回机构、以及配置成沿旋转保持机构保持的基片的径向方向移动多个抛光头组件的多个移动机构。所述带供给与收回机构沿着基片径向方向设置在多个抛光头组件的外侧,且所述带供给与收回机构被固定在位。
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公开(公告)号:CN102941522B
公开(公告)日:2015-04-01
申请号:CN201210398644.1
申请日:2008-12-02
申请人: 株式会社荏原制作所
IPC分类号: B24B21/00 , B24B21/18 , B24B21/20 , H01L21/304
CPC分类号: B24B21/002 , B24B9/065 , B24B21/004 , B24B21/008 , B24B21/20 , B24B27/0076 , B24B37/042 , B24B37/30 , B24B41/068 , B24B49/00 , Y10T428/24777
摘要: 本发明提供一种用于抛光基片的外周的抛光装置。该抛光装置包括配置成水平地保持基片并转动基片的旋转保持机构、设置在基片周围的多个抛光头组件、配置成将抛光带供给到多个抛光头组件并从多个抛光头组件收回抛光带的多个带供给与收回机构、以及配置成沿旋转保持机构保持的基片的径向方向移动多个抛光头组件的多个移动机构。所述带供给与收回机构沿着基片径向方向设置在多个抛光头组件的外侧,且所述带供给与收回机构被固定在位。
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公开(公告)号:CN103962939A
公开(公告)日:2014-08-06
申请号:CN201410043555.4
申请日:2014-01-29
申请人: 株式会社荏原制作所
IPC分类号: B24B37/07 , B24B37/005
CPC分类号: B24B21/002 , B24B9/065 , B24B21/004 , B24B21/18
摘要: 一种研磨装置,具有:对基板(W)进行保持并使其旋转的基板保持部(3);将研磨件(38)按压抵接于基板(W)而对该基板进行研磨的按压部件(51);对按压部件(51)的按压力进行控制的按压力控制机构(56);以及对按压部件(51)的研磨位置进行限制的研磨位置限制机构(65)。作为研磨件(38),使用研磨带或固定磨料。采用本发明,能精密地控制基板的研磨量。
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公开(公告)号:CN101450457B
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN200810183331.8
申请日:2008-12-02
申请人: 株式会社荏原制作所
CPC分类号: B24B21/002 , B24B9/065 , B24B21/004 , B24B21/008 , B24B21/20 , B24B27/0076 , B24B37/042 , B24B37/30 , B24B41/068 , B24B49/00 , Y10T428/24777
摘要: 本发明提供一种用于抛光基片的外周的抛光装置。该抛光装置包括配置成水平地保持基片并转动基片的旋转保持机构、设置在基片周围的多个抛光头组件、配置成将抛光带供给到多个抛光头组件并从多个抛光头组件收回抛光带的多个带供给与收回机构、以及配置成沿旋转保持机构保持的基片的径向方向移动多个抛光头组件的多个移动机构。所述带供给与收回机构沿着基片径向方向设置在多个抛光头组件的外侧,且所述带供给与收回机构被固定在位。
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公开(公告)号:CN101522368B
公开(公告)日:2012-11-14
申请号:CN200780037179.6
申请日:2007-10-02
申请人: 株式会社荏原制作所
IPC分类号: B24B21/20 , B24B21/18 , H01L21/304
CPC分类号: B24B21/20 , B24B21/004 , B24B21/04
摘要: 本发明提供一种能够在研磨前通过简单的操作算出研磨带供给卷轴和研磨带回收卷轴的研磨带卷绕体的外径,能够根据该外径算出研磨带的剩余量、使用量等的研磨装置及研磨方法。研磨装置具有研磨带供给卷轴(46)、研磨头(44)和研磨带拉出机构(G1),并且具有经过研磨头(44)从研磨带供给卷轴(46)回收研磨带(43)的研磨带供给/回收机构(45)。研磨带供给/回收机构(45)具有给研磨带供给卷轴(46)施加旋转转矩、给经过研磨头(44)的研磨带(43)施加预定张力的马达(Mb),以及检测该研磨带供给卷轴(46)的旋转角度的旋转角度检测器(REa)。
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公开(公告)号:CN101687305A
公开(公告)日:2010-03-31
申请号:CN200880023985.2
申请日:2008-07-08
IPC分类号: B24B21/08 , B24B9/00 , B24B21/16 , H01L21/304
CPC分类号: B24B21/002 , B24B9/065 , H01L21/02021
摘要: 本发明的研磨装置具有:基板保持部(32),保持基板(W)并使其旋转;加压垫(50),将研磨带(41)的研磨面按压到基板保持部所保持的基板的坡口部上;以及进给机构(45),使研磨带在其长度方向行进。加压垫(50)具有:硬质部件(51),具有隔着研磨带按压基板的坡口部的按压面(51a);和至少1个弹性部件(53),将硬质部件隔着研磨带而向基板的坡口部按压。
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