公开(公告)号：CN111048432A

公开(公告)日：2020-04-21

申请号：CN201910974383.5

申请日：2019-10-14

Applicant: 株式会社高永科技

Inventor： 李撰权 ,  全文营 ,  许贞 ,  洪德和 ,  赵银河

IPC: H01L21/66 ,  G01B11/26

Abstract: 本发明公开了一种检查装置，包括：结构光源，其依次照射具有一个相位范围的多个结构光；至少一个透镜，其针对所述多个结构光，分别调整与所述相位范围中各个相位对应的光的路径，使得与所述相位范围中的一个相位对应的光到达对象体上一部分区域的各点；图像传感器，其捕获(capture)所述多个结构光分别从所述一部分区域反射而生成的多个反射光；及处理器，其与所述结构光源、所述至少一个透镜及所述图像传感器电气连接；所述处理器可以从所述图像传感器获得关于所述多个反射光各自的光量值，以关于所述多个反射光各自的光量值为基础，导出所述多个反射光的相位值，导出所述对象体表面的角度。

公开(公告)号：CN107438762A

公开(公告)日：2017-12-05

申请号：CN201680020799.8

申请日：2016-04-11

Applicant: 株式会社高永科技

Inventor： 全文营 ,  金弘珉

IPC: G01N21/95 ,  G01B11/25

Abstract: 三维形状测量装置包括多个主图案照明部、多个主拍摄部及控制部。多个主图案照明部朝向测量对象物，在互不相同方向倾斜地照射格子图案光。多个主拍摄部拍摄从各主图案照明部照射的格子图案光被测量对象物倾斜地反射而生成的格子图案图像。控制部利用多个主拍摄部拍摄的多个格子图案图像，算出测量对象物的三维形状。因此，能够提高测量的准确度及精密度。

公开(公告)号：CN107735645A

公开(公告)日：2018-02-23

申请号：CN201680033600.5

申请日：2016-06-03

Applicant: 株式会社高永科技

Inventor： 全文营

IPC: G01B11/25 ,  G01B11/06

CPC classification number: G01B11/2513 ,  G01B11/02 ,  G01B11/245 ,  G01B11/254 ,  G01B11/2545 ,  G01N21/95684 ,  G01N2021/95638 ,  G06T7/521 ,  G06T7/593 ,  H04N13/239 ,  H04N13/243 ,  H04N13/254 ,  G01B11/25 ,  G01B11/0608

Abstract: 三维形状测量装置包括主图案照明部、主拍摄部及控制部。主图案照明部朝向测量对象物，在互不相同方向倾斜地照射格子图案光。主拍摄部接受提供从主图案照明部向测量对象物照射并被测量对象物倾斜地反射的格子图案光的反射光，获得测量对象物的格子图案图像。控制部利用测量对象物的格子图案图像，算出测量对象物的高度数据，或利用测量对象物的平面图像的成像位置及测量对象物的纹理信息，算出测量对象物的高度数据，且将照射于测量对象物的格子图案用作纹理信息，算出测量对象物的高度数据。因此，能够更容易、准确地测量三维形状。

公开(公告)号：CN208678394U

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201690000935.2

申请日：2016-06-30

Applicant: 株式会社高永科技

Inventor： 裵荣宪 ,  李承埈 ,  金廷烨 ,  洪德和 ,  全文营 ,  姜俊求 ,  郑仲基 ,  郑载润 ,  李宗辉

IPC: A99Z99/00

CPC classification number: G06T7/001 ,  G01B11/24 ,  G01B11/25 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/9515 ,  G01N2021/8874 ,  G01N2021/8887 ,  G06T7/0006 ,  G06T2207/10024

Abstract: 物品检查装置包括图像获得部及控制部。图像获得部获得对物品至少一部分的拍摄图像。控制部利用物品的拍摄图像，判定物品的不良与否。控制部执行对第一要素及第二要素中至少一者的位置、形状及大小中至少一者的第一检查及对所述物品的异物附着、划痕及表面斑痕中至少一者的第二检查，其中，所述第一要素具有预定形状，在所述物品上形成，所述第二要素包括在所述物品上形成的开口部、凹陷部及通孔中至少一者。因此，可以更精密、有效地执行不良检查。