烧结过程异常原因分析方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN118092362A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410467719.X

    申请日:2024-04-18

    IPC分类号: G05B19/418

    摘要: 本发明公开了一种烧结过程异常原因分析方法、装置及设备,涉及烧结过程异常分析技术领域,可解决根据人工经验无法及时、快速且准确的定位到导致烧结过程异常的原因,导致烧结过程能耗升高与产质量降低的技术问题。其中方法包括:确定烧结状态质量异常参数以及异常时刻;获取与烧结状态质量异常参数第一预设相关的烧结操作参数,根据异常时刻确定待分析的烧结操作时段,获取烧结操作时段对应的烧结状态质量异常参数数据以及烧结操作参数数据;根据烧结状态质量异常参数数据与烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间;根据烧结状态质量异常参数区间与目标烧结操作参数区间分析烧结过程异常原因。

    烧结过程异常原因分析方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN118092362B

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410467719.X

    申请日:2024-04-18

    IPC分类号: G05B19/418

    摘要: 本发明公开了一种烧结过程异常原因分析方法、装置及设备,涉及烧结过程异常分析技术领域,可解决根据人工经验无法及时、快速且准确的定位到导致烧结过程异常的原因,导致烧结过程能耗升高与产质量降低的技术问题。其中方法包括:确定烧结状态质量异常参数以及异常时刻;获取与烧结状态质量异常参数第一预设相关的烧结操作参数,根据异常时刻确定待分析的烧结操作时段,获取烧结操作时段对应的烧结状态质量异常参数数据以及烧结操作参数数据;根据烧结状态质量异常参数数据与烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间;根据烧结状态质量异常参数区间与目标烧结操作参数区间分析烧结过程异常原因。

    一种Bi2GeTe4基热电材料的制备方法

    公开(公告)号:CN117729828A

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202311655063.6

    申请日:2023-12-05

    IPC分类号: H10N10/01 H10N10/852

    摘要: 本发明涉及一种Bi2GeTe4基热电材料的制备方法。本发明采用熔融法制备了一系列Bi2GexTe4(x=1‑1.6)的样品。本方法通过按照Bi:Ge:Te=2:x:4(x=1‑1.6)的摩尔比例,把相应含量的Bi粉,Ge粉,Te粉均匀混合,装入石英管内,在真空条件下进行石英管融封,并依次通过熔炼,淬火,退火,放电等离子体烧结等步骤,得到不同Ge空位和Bi2GeTe4和Bi2Ge2Te5相含量的热电材料,从而实现载流子浓度优化和高热电性能的Bi2GeTe4基热电材料。本方法操作简单,可重复性强,制备的Bi2GeTe4基热电材料性能高,具有良好的应用前景。