一种起落架形位公差检测平台

    公开(公告)号:CN114543672B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202210133911.6

    申请日:2022-02-14

    IPC分类号: G01B11/00 G01B21/00

    摘要: 本发明公开一种起落架形位公差检测平台,其包括:支撑组件包括支撑起落架的第一支撑件和第二支撑件;扫描组件包括扫描件和扫描驱动件,扫描驱动件传动连接扫描件,以驱动扫描件相对第一支撑件移动,扫描件具有一检测第一支撑件的探测端;接触组件包括接触头、接触驱动件和距离传感器,接触驱动件传动连接接触头,以驱动接触头相对第二支撑件移动,接触头具有抵压起落架的接触端,距离传感器探测接触端的空间位置。数据处理器,其分别与扫描件和距离传感器电连接,用于接收扫描件扫描的图像以及距离传感器采集的空间位置信息,以得到起落架的尺寸参数。通过视觉测量起落架的部分尺寸参数,利用接触组件进行补充测量,高效快速的测量起落架的尺寸参数。

    一种轴类零件表面缺陷检测平台
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115165903A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210810302.X

    申请日:2022-07-11

    IPC分类号: G01N21/89 G01N29/04 G01N29/27

    摘要: 本发明公开一种轴类零件表面缺陷检测平台,其包括:基台;扫描组件,其安装于所述基台,其具有检测轴类零件的检测端;转动组件,其包括转动驱动件和沿直线排列的至少两个承托件,所述承托件形成承托轴类零件的承托面,所述转动驱动件传动连接轴类零件或/和至少一个所述承托件,以带动轴类零件相对所述基台转动。首先将轴类零件放置承托件,使得轴类零件能够相对基台转动,并利用转动驱动件带动工件以一定的速度转动。同时将扫描组件架设与轴类零件的上方,并利用扫描组件获知轴类零件得表面。随着轴类零件的不断转动,扫描组件可以完整的轴类零件的外表面,从而可以全面的评估轴类零件的表面缺陷情况。

    一种起落架形位公差检测平台
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114543672A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210133911.6

    申请日:2022-02-14

    IPC分类号: G01B11/00 G01B21/00

    摘要: 本发明公开一种起落架形位公差检测平台,其包括:支撑组件包括支撑起落架的第一支撑件和第二支撑件;扫描组件包括扫描件和扫描驱动件,扫描驱动件传动连接扫描件,以驱动扫描件相对第一支撑件移动,扫描件具有一检测第一支撑件的探测端;接触组件包括接触头、接触驱动件和距离传感器,接触驱动件传动连接接触头,以驱动接触头相对第二支撑件移动,接触头具有抵压起落架的接触端,距离传感器探测接触端的空间位置。数据处理器,其分别与扫描件和距离传感器电连接,用于接收扫描件扫描的图像以及距离传感器采集的空间位置信息,以得到起落架的尺寸参数。通过视觉测量起落架的部分尺寸参数,利用接触组件进行补充测量,高效快速的测量起落架的尺寸参数。