电路板阻抗线补偿模型的建立方法、补偿方法及装置

    公开(公告)号:CN115052422A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210529422.2

    申请日:2022-05-16

    IPC分类号: H05K3/00 H05K1/02

    摘要: 本申请提供一种电路板阻抗线补偿模型的建立方法、补偿方法及装置。通过获取电路板刻蚀前表面的面铜厚度及电路板刻蚀后表面阻抗线的宽度、阻抗线之间的距离及阻抗线的高度,计算电路板阻抗线的宽度与预设宽度之间的差值,差值用于作为对电路板阻抗线的宽度进行补偿的补偿值。然后将面铜厚度、阻抗线的宽度、阻抗线之间的距离及阻抗线的高度作为变量,将补偿值作为响应量,建立电路板阻抗线的补偿值与面铜厚度、阻抗线的宽度、阻抗线之间的距离及阻抗线的高度之间的补偿模型。通过建立的补偿模型,得到后续电路板阻抗线的补偿值,最终根据补偿值对电路板阻抗线的宽度进行补偿处理。本申请的方法,提高了电路板的生产制造效率,减少了试错成本。

    用于印制电路板的V-cut加工方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115915606A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202111108273.4

    申请日:2021-09-22

    IPC分类号: H05K3/00

    摘要: 本发明提供一种用于印制电路板的V‑cut加工方法,涉及印制电路板技术领域。其中,用于印制电路板的V‑cut加工方法包括:使用第一刀具以第一切割速度在待加工印制电路板的正面切割出上方V型槽;在切割出上方V型槽的待加工印制电路板的正面和背面上形成沉金层;使用第二刀具以第二切割速度在形成有沉金层的待加工印制电路板的背面切割出下方V型槽。上方V型槽和下方V型槽分别单独切割而成,并将沉金操作设置在两次切割操作之间,沉金操作时可以提高待加工印制电路板的刚度,从而在沉金过程中的震动或摇摆并不会使得印制电路板断板。

    测试用电路板
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109788628A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201910016711.0

    申请日:2019-01-08

    IPC分类号: H05K1/02 G01R31/28

    摘要: 本发明提供了一种测试用电路板,包括:基板,基板设有Dk和Df提取区域以及信号损耗区域;信号损耗区域设有用于检测信号损耗的第一电路;Dk和Df提取区域设有用于Dk和Df提取的第二电路;其中,基板为多层结构,多层结构的基板中包括至少一层信号层,第一电路与第二电路设于每层信号层上。本发明提供的测试用电路板,通过在一块基板上,同时设置用于检测信号损耗的第一电路,以及用于Dk和Df提取的第二电路,进而能够对一块PCB板实现信号损耗的检测与Dk和Df的提取,减少了PCB板的制作时间,减少了整个测试过程所用的时间。

    电路板的制作方法及电路板

    公开(公告)号:CN114980511B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202110188812.3

    申请日:2021-02-19

    IPC分类号: H05K3/00 H05K1/09

    摘要: 本发明属于电路板技术领域,具体涉及一种电路板的制作方法及电路板,用于解决电路板的成品率低、拼板利用率低的技术问题。该制作方法包括:提供基材层;计算第1层上线路层的残铜率和第1层下线路层的残铜率的第一差值,根据第一差值判断是否进行铺铜补偿;计算第1至i层上线路层的累积残铜率和第1至i层下线路层的累积残铜率的第二差值,当第二差值大于预设值时,在第i层上线路层的非功能区和/或第i层下线路层的非功能区进行铺铜补偿;在基材层上表面形成n层上线路层,在基材层下表面形成n层下线路层。通过根据第一差值和第二差值进行铺铜补偿,减少了基材层两侧的残铜差异,提高了成品率;电路板没有排版要求,提高了拼板利用率。

    电路板的制作方法及电路板

    公开(公告)号:CN114980511A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202110188812.3

    申请日:2021-02-19

    IPC分类号: H05K3/00 H05K1/09

    摘要: 本发明属于电路板技术领域,具体涉及一种电路板的制作方法及电路板,用于解决电路板的成品率低、拼板利用率低的技术问题。该制作方法包括:提供基材层;计算第1层上线路层的残铜率和第1层下线路层的残铜率的第一差值,根据第一差值判断是否进行铺铜补偿;计算第1至i层上线路层的累积残铜率和第1至i层下线路层的累积残铜率的第二差值,当第二差值大于预设值时,在第i层上线路层的非功能区和/或第i层下线路层的非功能区进行铺铜补偿;在基材层上表面形成n层上线路层,在基材层下表面形成n层下线路层。通过根据第一差值和第二差值进行铺铜补偿,减少了基材层两侧的残铜差异,提高了成品率;电路板没有排版要求,提高了拼板利用率。

    测试用电路板
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109788628B

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN201910016711.0

    申请日:2019-01-08

    IPC分类号: H05K1/02 G01R31/28

    摘要: 本发明提供了一种测试用电路板,包括:基板,基板设有Dk和Df提取区域以及信号损耗区域;信号损耗区域设有用于检测信号损耗的第一电路;Dk和Df提取区域设有用于Dk和Df提取的第二电路;其中,基板为多层结构,多层结构的基板中包括至少一层信号层,第一电路与第二电路设于每层信号层上。本发明提供的测试用电路板,通过在一块基板上,同时设置用于检测信号损耗的第一电路,以及用于Dk和Df提取的第二电路,进而能够对一块PCB板实现信号损耗的检测与Dk和Df的提取,减少了PCB板的制作时间,减少了整个测试过程所用的时间。