公开(公告)号：CN116202613A

公开(公告)日：2023-06-02

申请号：CN202211510072.1

申请日：2022-11-29

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 林畅仁 ,  山田耕平

IPC分类号： G01H9/00

摘要： 本发明提供激光干涉仪，能够实现光学系统的小型化及对准作业的容易化。激光干涉仪的特征在于具备：激光光源，射出第一激光；光调制器，具备振动元件，使用振动元件对第一激光进行调制，生成包含调制信号的第二激光；受光元件，接收第二激光及第三激光并输出受光信号，第三激光包含第一激光被测定对象物反射而生成的采样信号；光耦合器，具有使第一激光分叉的功能、以及使第二激光与第三激光的合流光分叉的功能；第一准直器，使被光耦合器分叉的第一激光平行化；第二准直器，使被光耦合器分叉的第一激光平行化；第一光布线；第二光布线；第三光布线；以及第四光布线。

公开(公告)号：CN104422682B

公开(公告)日：2019-04-19

申请号：CN201410449622.2

申请日：2014-09-04

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田耕平

IPC分类号： G01N21/65

摘要： 本发明提供一种可高灵敏度地检测来自分析对象物质的拉曼散射光的拉曼分光装置、拉曼分光方法和电子设备。本发明涉及的拉曼分光装置100是对分析对象物质进行分析的拉曼分光装置，包括：射出第一波长的光的光源；吸附分析对象物质、并被照射第一波长的光的光学元件10；以及接收光学元件10放射的光的光检测器，光学元件10具有：通过第一波长的光产生电荷转移共振的第一结构体14；与第一结构体14间隔5nm以下地配置、并通过第一波长的光产生表面等离子体共振的第二结构体16，第一结构体14的材质是金属或半导体，第二结构体16的材质是与上述第一结构体的材质不同的金属。

公开(公告)号：CN108209899A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201711159997.5

申请日：2017-11-20

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田明子 ,  山田耕平

IPC分类号： A61B5/026

CPC分类号： A61B5/0261 ,  A61B5/02007 ,  A61B5/02108 ,  A61B5/02125 ,  A61B5/0285 ,  A61B5/681 ,  A61B2562/043 ,  A61B2562/046

摘要： 本发明提供一种即使在测定装置相对于测定部位内的特定部分的位置发生了偏离的情况下，也会高精度地对生物体信息进行测定的测定装置及测定方法。测定装置具备：多个检测部，其分别包括发光部和受光部，所述发光部向测定部位射出光，所述受光部生成与从所述发光部射出并通过了所述测定部位内的所述光的受光能级相对应的检测信号；以及选择部，其从所述多个检测部的各自中的所述受光部所生成的检测信号中，根据表示各所述检测信号的信号强度的强度指标，而选择一部分检测信号。

公开(公告)号：CN104422682A

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201410449622.2

申请日：2014-09-04

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田耕平

IPC分类号： G01N21/65

CPC分类号： G01J3/44 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01N21/658 ,  G01N33/0047

摘要： 本发明提供一种可高灵敏度地检测来自分析对象物质的拉曼散射光的拉曼分光装置、拉曼分光方法和电子设备。本发明涉及的拉曼分光装置100是对分析对象物质进行分析的拉曼分光装置，包括：射出第一波长的光的光源；吸附分析对象物质、并被照射第一波长的光的光学元件10；以及接收光学元件10放射的光的光检测器，光学元件10具有：通过第一波长的光产生电荷转移共振的第一结构体14；与第一结构体14间隔5nm以下地配置、并通过第一波长的光产生表面等离子体共振的第二结构体16，第一结构体14的材质是金属或半导体，第二结构体16的材质是与上述第一结构体的材质不同的金属。

公开(公告)号：CN104246480A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201380021341.0

申请日：2013-04-23

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田明子 ,  山田耕平

IPC分类号： G01N21/65

CPC分类号： G01N21/658 ,  B01J2219/00612 ,  B01J2219/00637 ,  B01J2219/00641 ,  B82Y15/00 ,  B82Y20/00 ,  B82Y30/00 ,  G01N21/554 ,  G01N21/648 ,  G01N2610/00 ,  G02B6/1226

摘要： 提供光学器件及检测装置，其在金属纳米结构间的电介质上形成有机分子膜，并且采用使金属纳米结构间的间隔变窄但使目标分子容易进入的形状，能提高灵敏度。光学器件10具有：在表面具有电介质16的基板12、由形成在电介质上的多个金属纳米结构18构成的金属细微结构20、形成在多个金属纳米结构间的电介质上且捕捉目标分子的有机分子膜30。多个金属纳米结构在俯视观察时的直径为1～500nm，相邻的金属纳米结构间的间隔为0.1nm以上不足10nm。多个金属纳米结构中，与在离电介质的表面第一高度位置H1相邻的金属纳米结构间的第1间隔W1相比，在离电介质的表面第二高度位置H2(H2＞H1)相邻的金属纳米结构间的间隔W2较宽。

公开(公告)号：CN102735563A

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN201210104227.1

申请日：2012-04-10

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田耕平 ,  桥元伸晃

IPC分类号： G01N5/02

CPC分类号： G01N21/553 ,  G01N5/02 ,  G01N21/474 ,  G01N21/55 ,  G01N21/554 ,  G01N21/658 ,  G01N29/022 ,  G01N2291/0215 ,  G01N2291/02809

摘要： 本发明公开了一种检测装置，包括：流体样本的流路；吸引部，向流路吸引流体样本；光学器件，配置在流路内；光源，向光学器件照射光；光检测部，检测从光学器件射出的光；微天平传感器芯片，被配置在流路内，并在压电基板上形成振荡电极；以及定量分析部，基于来自光检测部及微天平传感器芯片的输出，对所述样本进行定量分析。光学器件具备具有1nm～1000nm的凸部的金属纳米结构，射出反映出吸附在金属纳米结构上的流体样本的光。

公开(公告)号：CN102269833A

公开(公告)日：2011-12-07

申请号：CN201110124499.3

申请日：2011-05-13

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 尼子淳 ,  山田耕平

IPC分类号： G02B5/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G03F7/00

CPC分类号： G01J3/1804 ,  G01J3/44 ,  G02B5/1857 ,  G02B5/1866 ,  G02B27/4261

摘要： 本发明公开了一种光谱装置、检测装置以及光谱装置的制造方法。该光谱装置包括透射入射光的透射型衍射光栅。透射型衍射光栅具有由第一电介质形成的倾斜面，倾斜面相对于基准线倾斜排列。将向透射型衍射光栅入射的入射光相对于基准线的入射角度设为角度α，且将衍射光相对于基准线的衍射角度设为角度β。在这种情况下，入射角度α是比相对于倾斜面的布拉格角度θ小的角度，衍射角度β是比布拉格角度θ大的角度。

公开(公告)号：CN118111549A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202311605071.X

申请日：2023-11-28

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田耕平 ,  松尾敦司

IPC分类号： G01H9/00 ,  G01S17/58 ,  G01S17/08 ,  G01S7/48 ,  G01S7/495 ,  G01S7/481

摘要： 本发明提供激光干涉仪，具备不使用衍射光栅就能够使激光发生频移的光调制器，实现了低成本化。该激光干涉仪其特征在于，具备：激光光源，向对象物射出激光；光调制器，具备被照射激光的振动元件，该光调制器使用振动元件对激光进行调制，使调制信号与激光重叠；受光元件，接收包括源自对象物的采样信号和调制信号的激光，并输出受光信号；解调电路，根据基准信号从受光信号解调采样信号；以及振荡电路，将振动元件作为信号源进行动作，并向解调电路输出基准信号，振动元件包括振动基板，振动基板具有基部和与基部连接的振动部，振动部沿振动基板的面内方向进行振动，振动部包括与面内方向交叉的侧面，激光照射到侧面。

公开(公告)号：CN117471703A

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202310922035.X

申请日：2023-07-25

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田耕平

IPC分类号： G02B27/14 ,  G02B7/182 ,  G02B26/08 ,  G01N21/01 ,  G01N21/25 ,  G01N21/33 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/65 ,  G01N21/31 ,  G01N21/64 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59

摘要： 本发明涉及光学器件及光谱装置。光学器件具备第一光学系统和第二光学系统，第一光学系统具备：第一光分割元件，将从第一光源射出的测定光进行分割、混合；第一镜，向一方测定光的入射方向移动，且通过使其反射而附加第一调制信号；第二镜，使另一方测定光反射；以及第一受光元件，接收包含来自样品的信号以及第一调制信号的测定光并输出第一受光信号，第二光学系统具备：第二光源，射出激光；光调制器，对激光附加第二调制信号；以及第二受光元件，接收包含通过第一镜的反射而生成的位移信号以及第二调制信号的激光，并输出第二受光信号。

公开(公告)号：CN115406481A

公开(公告)日：2022-11-29

申请号：CN202210576935.9

申请日：2022-05-25

申请人： 精工爱普生株式会社

发明人： 山田耕平 ,  清水武士

IPC分类号： G01D21/02

摘要： 本发明提供一种激光干涉仪，无论振动元件的振动条件如何，都能够更正确地解调来自测定对象物的多普勒信号。该激光干涉仪具备：光源，射出激光；光分割器，将从光源射出的激光分为第一光路和第二光路；光调制器，具备设置在第一光路或第二光路上、通过流过电流而振动的振动元件，并利用振动元件调制激光；受光元件，接收由设置在第一光路或第二光路上的测定对象物反射的激光，并输出受光信号；以及解调电路，基于基准信号及调制信号，从受光信号解调来自测定对象物的多普勒信号，其中在将流过正在振动的振动元件的电流的振幅值设为Iq[A]、将振动元件的振动频率设为f[Hz]时，满足Iq/f≤1×10‑7。