机载快照式高光谱偏振变焦成像光学系统设计方法

    公开(公告)号:CN119225007A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411337114.5

    申请日:2024-09-25

    Abstract: 本申请公开了一种机载快照式高光谱偏振变焦成像光学系统设计方法,涉及光学领域,该方法包括:根据反远距型变焦物镜光焦度分配模型计算变倍组焦距、前置变焦望远系统后截距、变倍组移动距离、前固定组焦距和后固定组焦距;根据变倍组移动距离设置变倍组和光阑之间的距离;将变倍组以滑动形式设置在前固定组和光阑之间;根据各玻璃组合对应的总光焦度确定最优玻璃组合,根据最优玻璃组合设置各透镜的材料;将各组合进行仿真,得到各组合下偏振探测器可分辨最小波长差,根据最小波长差计算成像镜焦距,根据最小波长差对应的组合以及成像镜焦距设计变焦成像光学系统。本申请可设计出兼顾高空间分辨率及高光谱分辨率快照式高光谱偏振成像仪。

    基于约简泽尼克分解的穆勒瞳的定量分析方法

    公开(公告)号:CN118654764A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202411095879.2

    申请日:2024-08-12

    Abstract: 基于约简泽尼克分解的穆勒瞳的定量分析方法,偏振探测成像技术领域,尤其涉及偏振像差穆勒瞳的定量分析;解决了现有技术所存在的难以对具有复杂自由度的穆勒瞳进行定量分析的问题;所述方法包括以下步骤:分别采用两组约简矩阵约简二向衰减器和相位延迟器,获得其约简形式,并分别从中提取出对应的约简系数;获得二向衰减器和相位延迟器的泽尼克分解结果;根据入射光的Stokes参量以及泽尼克分解结果,对出射光的Stokes参量的PSF的各项参量以及偏振探测精度进行定量分析。所述的基于约简泽尼克分解的穆勒瞳的定量分析方法,适用于对穆勒瞳进行定量分析以及用于光学系统(如天文望远系统)的偏振设计,加工制造和偏振标定。

    一种基于DMD超分辨率成像系统像元对准的标定方法

    公开(公告)号:CN118519281A

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202410986410.1

    申请日:2024-07-23

    Abstract: 一种基于DMD超分辨率成像系统像元对准的标定方法。属于光学系统成像标定领域和光学系统装调技术领域,具体涉及数字微镜器件(Digital Micromirror Devices,DMD)的超分辨率成像系统像面对准的标定技术领域。所述方法包括如下步骤:S1、搭建基于DMD的超分辨成像系统;S2、在DMD上加载标定编码,采集探测器上标定编码所成的像,用matlab读取采集到的标定编码图像数据,将其转化为二维数据矩阵,得到图像矩阵;S3、以标定编码为基础,提取出图像矩阵相应位置目标点灰度数据,并构造像元对准评定指标;S4、以像元对准评定指标为基础对超分辨率成像系统进行调节,直至像元对准评定指标符合要求。

    一种基于宏文件的成像光谱仪光学系统谱线弯曲校正方法

    公开(公告)号:CN116593001A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310877382.5

    申请日:2023-07-18

    Abstract: 一种基于宏文件的成像光谱仪光学系统谱线弯曲校正方法,属于光谱仪技术领域,解决了现有的光学设计软件,难以保证在成像光谱仪光学系统的设计效率提高和像质良好的同时,实现对谱线弯曲的校正的问题。基于对成像光谱仪光学系统谱线弯曲的效正逻辑,获取宏文件的运行逻辑,并编辑出宏文件;选择初始化的成像光谱仪光学系统后,调用出已编辑完成的宏文件;宏文件分别获取初始化的成像光谱仪光学系统在多个视场下的谱线弯曲的曲率,分别判断初始化的成像光谱仪光学系统在多个视场下的谱线弯曲的曲率是否均满足设定值,若满足,则获得最终的成像光谱仪光学系统;对初始化的成像光谱仪光学系统进行优化后,重复上一操作。

    孔径编码偏振光谱成像装置

    公开(公告)号:CN108896183A

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201810700776.2

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 孔径编码偏振光谱成像装置属于光谱成像探测技术领域。现有技术不能实现实时探测。本发明其特征在于,消色差变焦物镜组的后焦面与双光路Offner分合光系统的初始物面重合;所述双光路Offner分合光系统由凹球面反射镜和凸球面反射光栅组成;消色差变焦物镜组与DMD相对于凸球面反射光栅对称,DMD位于双光路Offner分合光系统的像面处;折转镜位于双光路Offner分合光系统二次成像光路上,在折转镜的反射光路中依次排列微偏振片阵列、探测器,微偏振片阵列与探测器的间距为零;微偏振片阵列中的各个单元与探测器中的各个像元一一对应;微偏振片阵列中的一部分单元为空置单元,其他单元为偏振单元;探测器与图像采集卡连接,计算机分别与图像采集卡、DMD连接。

    一种基于DMD超分辨率成像系统像元对准的标定方法

    公开(公告)号:CN118519281B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410986410.1

    申请日:2024-07-23

    Abstract: 一种基于DMD超分辨率成像系统像元对准的标定方法。属于光学系统成像标定领域和光学系统装调技术领域,具体涉及数字微镜器件(Digital Micromirror Devices,DMD)的超分辨率成像系统像面对准的标定技术领域。所述方法包括如下步骤:S1、搭建基于DMD的超分辨成像系统;S2、在DMD上加载标定编码,采集探测器上标定编码所成的像,用matlab读取采集到的标定编码图像数据,将其转化为二维数据矩阵,得到图像矩阵;S3、以标定编码为基础,提取出图像矩阵相应位置目标点灰度数据,并构造像元对准评定指标;S4、以像元对准评定指标为基础对超分辨率成像系统进行调节,直至像元对准评定指标符合要求。

    一种实时边缘提取方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN117934530A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410140620.9

    申请日:2024-02-01

    Abstract: 本发明公开一种实时边缘提取方法、系统及电子设备,涉及图像处理技术领域。本发明将红外图转化为灰度图像后,对其进行形态学滤波而得到去噪图,以防止对后续计算带来影响;且,利用改进的Perona‑Malik模型求取边缘检测的显著性图,并基于去噪图和显著性图得到边缘检测图像,能够较好地提取到整个图像的边缘纹理信息,具有算力低、处理速度快等优点,进而能够解决现有技术存在的边缘检测精度低、速度慢等问题。

    DMD光谱维编码双光路Offner分合光中波红外光谱成像装置

    公开(公告)号:CN108896180B

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201810714460.9

    申请日:2018-06-29

    Abstract: DMD光谱维编码双光路Offner分合光中波红外光谱成像装置属于红外光谱成像技术领域。现有技术不能满足全天候工作需求。本发明其特征在于,中波红外消色差变焦物镜组的后焦面与双光路Offner分合光系统的初始物面重合;所述双光路Offner分合光系统由凹球面反射镜和凸球面反射光栅组成,凹球面反射镜和凸球面反射光栅曲率中心相同,曲率半径之比为2:1;中波红外消色差变焦物镜组与中波红外DMD相对于凸球面反射光栅对称,中波红外DMD位于双光路Offner分合光系统的像面处;折转镜位于双光路Offner分合光系统二次成像光路上,制冷型中波红外探测器位于折转镜的反射光路中;制冷型中波红外探测器与图像采集卡连接,计算机分别与图像采集卡、中波红外DMD连接。

    DMD光谱维编码双光路Offner分合光双色红外光谱成像装置

    公开(公告)号:CN108827468B

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201810698774.4

    申请日:2018-06-29

    Abstract: DMD光谱维编码双光路Offner分合光双色红外光谱成像装置属于红外光谱成像技术领域。现有技术不能满足全天候工作需求。本发明其特征在于,双色红外消色差变焦物镜组的后焦面与双光路Offner分合光系统的初始物面重合;所述双光路Offner分合光系统由凹球面反射镜和凸球面反射光栅组成;双色红外消色差变焦物镜组与双色红外DMD相对于凸球面反射光栅对称,双色红外DMD位于双光路Offner分合光系统的像面处;折转镜位于双光路Offner分合光系统二次成像光路上;在折转镜的反射光路中设置双色红外分光镜;在双色红外分光镜的两条分光光路上分别设置制冷型中波红外探测器、长波红外探测器;所述两个探测器分别与图像采集卡连接,计算机分别与图像采集卡、双色红外DMD连接。

    一种工件边缘弱缺陷位置检测方法及系统

    公开(公告)号:CN119648641A

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202411675663.3

    申请日:2024-11-21

    Abstract: 本申请公开了一种工件边缘弱缺陷位置检测方法及系统,涉及工业视觉检测领域,该方法包括采用Sobel算子对工件图像进行初始边缘位置检测,确定工件图像的初始边缘位置;基于初始边缘位置确定初始边缘位置范围内各中心像素点的梯度幅值,采用质心算法确定边缘亚像素点作为工件图像的目标边缘位置;采用DBSCAN聚类方法对目标边缘位置中的各边缘亚像素点进行封闭区域划分,得到多个封闭区域,并计算当前封闭区域的中心坐标点与各边缘亚像素点之间的距离,根据各距离计算结果判定当前封闭区域对应的工件特征形态,根据工件特征形态,基于各边缘亚像素点检测工件边缘弱缺陷位置,本申请提高了工件边缘弱缺陷位置检测的准确性。

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