用于显微镜的改进的检测器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118280797A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202311847483.4

    申请日:2023-12-29

    申请人: FEI 公司

    IPC分类号: H01J37/244

    摘要: 本文描述了用于显微镜的改进的检测器。在一个方面,一种装置可以包括:以阵列布置的多个电子单元;多个像素,该多个像素中的每个像素耦合到多个电子单元中的相关联的电子单元,其中多个像素的第一像素子集由第一材料形成,并且其中多个像素的第二像素子集由第二材料形成,第二材料不同于第一材料;和多个电连接件,该多个电连接件设置在多个电子单元与多个像素之间,其中每个电连接件将相应的电子单元与相关联的像素连接。

    带电粒子源的排放噪声校正

    公开(公告)号:CN108447758A

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201810146111.1

    申请日:2018-02-12

    申请人: FEI公司

    摘要: 本发明涉及一种操作带电粒子显微镜的方法,包括:-在样本架上设置样本;-使用源来产生受束流电流波动影响的带电粒子束;-使用位于所述源和样本架之间的电子束电流传感器来拦截一部分电子束,并且产生与电子束的拦截部分的电流成比例的拦截信号,所述电子束电流传感器包括布置成使具有相关探针电流的电子束探针穿过的孔;-在样本上扫描所述探针,从而以样本电流照射样本,其中停留时间与样本上的每个扫描位置相关联;-使用检测器检测响应于所述探针的照射而从样本放射的辐射,并且产生相关联的检测器信号;-使用所述拦截信号作为补偿器的输入,以抑制所述检测器信号中所述电流波动的影响;其中:-电子束电流传感器配置为具有朝向源定向的传感层的半导体器件,其中:■电子束的所述拦截部分的每个带电粒子在所述传感层中产生电子/空穴对;■产生的电子被吸引到半导体器件的阳极;■产生的空穴被吸引到半导体器件的阴极;从而产生所述拦截信号。