金属膜的形成方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101365821B

    公开(公告)日:2011-10-05

    申请号:CN200680052501.8

    申请日:2006-07-27

    申请人: JSR株式会社

    IPC分类号: C23C16/18 H01L21/285

    摘要: 本发明涉及一种使形成有选自钴化合物、钌化合物和钨化合物中的至少一种金属化合物的膜的基体上的金属化合物升华,将该升华气体向用于形成金属膜的基体供给并分解,由此在基体表面上形成金属膜的方法。提供一种能简单形成下述金属膜的方法:在绝缘体基板的沟槽内,采用镀敷法将金属特别是铜埋入之际,在形成种子层的同时,还起到防止金属原子向绝缘膜迁移的阻挡层的作用,且和绝缘体的密合性优良的金属膜。

    钌膜形成用材料及钌膜形成方法

    公开(公告)号:CN102753724A

    公开(公告)日:2012-10-24

    申请号:CN201180008881.6

    申请日:2011-02-08

    申请人: JSR株式会社

    IPC分类号: C23C16/18 H01L21/285

    摘要: 本发明提供即使在氧等氧化剂非存在下也能容易分解的钌膜形成用材料。发明涉及一种含有下述式(1)表示的化合物的钌膜形成用材料。Ru(PR13)l(L1)m(L2)n(1)(所述式(1)中,R1各自独立地为氢原子、卤素原子、碳原子数为1~4的烃基、或者碳原子数为1~4的卤代烃基,L1是氢原子或者卤素原子,L2是具有至少两个双键的碳原子数为4~10的不饱和烃化合物,l是1~5的整数,m是0~4的整数,n是0~2的整数。其中,l+m+2n=5或者6)。

    金属膜的形成方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101365821A

    公开(公告)日:2009-02-11

    申请号:CN200680052501.8

    申请日:2006-07-27

    申请人: JSR株式会社

    IPC分类号: C23C16/18 H01L21/285

    摘要: 本发明涉及一种使形成有选自钴化合物、钌化合物和钨化合物中的至少一种金属化合物的膜的基体上的金属化合物升华,将该升华气体向用于形成金属膜的基体供给并分解,由此在基体表面上形成金属膜的方法。提供一种能简单形成下述金属膜的方法:在绝缘体基板的沟槽内,采用镀敷法将金属特别是铜埋入之际,在形成种子层的同时,还起到防止金属原子向绝缘膜迁移的阻挡层的作用,且和绝缘体的密合性优良的金属膜。

    钌膜形成用材料及钌膜形成方法

    公开(公告)号:CN102753724B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201180008881.6

    申请日:2011-02-08

    申请人: JSR株式会社

    IPC分类号: C23C16/18 H01L21/285

    摘要: 本发明提供即使在氧等氧化剂非存在下也能容易分解的钌膜形成用材料。发明涉及一种含有下述式(1)表示的化合物的钌膜形成用材料。Ru(PR13)l(L1)m(L2)n(1)(所述式(1)中,R1各自独立地为氢原子、卤素原子、碳原子数为1~4的烃基、或者碳原子数为1~4的卤代烃基,L1是氢原子或者卤素原子,L2是具有至少两个双键的碳原子数为4~10的不饱和烃化合物,l是1~5的整数,m是0~4的整数,n是0~2的整数。其中,l+m+2n=5或者6。)