全自动AOI检测设备
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107202794A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201710436363.3

    申请日:2017-06-12

    发明人: 张方德

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/84 G01N21/01

    摘要: 本发明提供了一种全自动AOI检测设备,其包括框架,在所述框架上设置光学检测机构,光学检测机构包括至少两组传送带,在传送带的上下侧之间设置可升降的检测平台,所述检测平台上方设置光学成像装置,所述检测平台上对应设有至少两个凹槽,所述检测平台具有下降后与传送带不接触的第一位置以及上升将传送带置于凹槽内且与传送带上的PCB板接触的第二位置,采用传送带传送的方式输送PCB板,而在进入检测平台的范围时,通过平台的上升来使得PCB板脱离传送带,直接置于所述平台上,保证在光学扫描时,该板不会出现抖动、晃动等现象,从而影响光学扫描的精准性,且采用该方式,可以省去对光学成像的清晰度分析的算法设计。

    光学特性测量装置及光学特性测量方法

    公开(公告)号:CN105473999B

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201480045838.0

    申请日:2014-08-13

    发明人: 小野修司

    IPC分类号: G01N21/47

    摘要: 本发明提供一种能够减轻材料光学特性的测量负荷并在短时间内进行简便且高精度的测量的光学特性测量装置及光学特性测量方法。光学特性测量装置例如BRDF测量装置(11)具备对试料(16)照射光的光照射单元例如光源部(40)及点光源(42)及接收来自试料(16)的光的受光单元。受光单元具有包含多个受光体的受光传感器例如传感器阵列(26)及将来自试料(16)的光引导至受光传感器的导光部例如拍摄透镜(25)。导光部将来自试料(16)的光根据该光在试料(16)上的位置及行进方向引导至多个受光体中的不同的受光体。

    检测样品微阵列中的分析物的方法和实施所述方法的装置

    公开(公告)号:CN102171568A

    公开(公告)日:2011-08-31

    申请号:CN200980139247.9

    申请日:2009-10-09

    发明人: 于常海 刘乐庭

    IPC分类号: G01N33/53 G01N21/00 C12Q1/00

    摘要: 一种用于检测样品微阵列中与含有纳米-尺寸的金-和/或银-的检测标记物相关的目标分析物的方法,其中该标记物指示样品中目标分析物的存在或不存在,所述方法包括(i)使用至少两种不同的单色光相继照射至少两个样品组,所述的样品组包括(a)包含至少一个潜在含有目标分析物的样品的第一样品组,和(b)用作阳性对照或阴性对照的第二样品组,(ii)检测当使用每种所述单色光照射时由每组所述样品组反射、吸收或发出的光的强度,(iii)记录与由该样品组反射、吸收或发出的光强度相关的数值组,其中每个数值组对每组样品组而言与每种单色光相关,(iv)比较与所述样品组和每种所述单色光相关的数值组;和(v)基于步骤(iv)中的比较确定目标分析物的存在或不存在,其中所述单色光至少包括蓝色单色光或具有范围在10nm至100nm的频率的单色光。还公开了用于执行所述方法的装置。

    全自动玻璃表面瑕疵检测机

    公开(公告)号:CN107831172A

    公开(公告)日:2018-03-23

    申请号:CN201710651699.1

    申请日:2017-08-02

    发明人: 于海波 吴勇胜

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/94

    摘要: 本发明涉及一种玻璃表面瑕疵检测设备,尤其涉及一种全自动玻璃表面瑕疵检测机。它包括机台、用于承载待检测玻璃的载具、用于获取待检测玻璃的图像的CCD相机、背光源组件以及侧光源组件;该载具、CCD相机、背光源组件以及侧光源组件均安装于机台上;该背光源组件和CCD相机位于载具的上方,且背光源组件位于CCD相机与载具之间;该侧光源组件位于载具的侧方。本发明通过设置背光源组件和侧光源组件,其中,该背光源组件用于照亮待检测玻璃朝向上的正面,该侧光源组件用于照亮待检测玻璃的侧面边缘,由此可以让整个待检测玻璃都能清晰的呈现在CCD相机的视野内,以提高检测的可靠性和准确性。

    环形光源钻石测量仪及钻石测量方法

    公开(公告)号:CN107807130A

    公开(公告)日:2018-03-16

    申请号:CN201711230615.3

    申请日:2017-11-29

    IPC分类号: G01N21/87 G01N21/47 G01N21/01

    摘要: 本发明涉及宝石检测领域,提供一种环形光源钻石测量仪及钻石测量方法。一种环形光源钻石测量仪,包括处理器、光源组件、图像采集装置及用于放置样品的样品台,所述光源组件提供照射在位于样品台上样品的入射光线,所述图像采集装置用于采集样品反射所述入射光线所形成的图像;所述处理器用于接收由图像采集装置采集到的图像并利用该图像处理分析得到样品的光学参数;所述光源组件为环形光源;所述环形光源钻石测量仪还包括用于驱动样品台进行转动的驱动机构。该环形光源钻石测量仪能直接测定样品的光学参数,可以有效地、客观地评价钻石的光学效果。一种钻石测量方法,利用上述的环形光源钻石测量仪对样品进行光学参数的测量。

    光学特性测量装置及光学特性测量方法

    公开(公告)号:CN105473999A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201480045838.0

    申请日:2014-08-13

    发明人: 小野修司

    IPC分类号: G01N21/47

    摘要: 本发明提供一种能够减轻材料光学特性的测量负荷并在短时间内进行简便且高精度的测量的光学特性测量装置及光学特性测量方法。光学特性测量装置例如BRDF测量装置(11)具备对试料(16)照射光的光照射单元例如光源部(40)及点光源(42)及接收来自试料(16)的光的受光单元。受光单元具有包含多个受光体的受光传感器例如传感器阵列(26)及将来自试料(16)的光引导至受光传感器的导光部例如拍摄透镜(25)。导光部将来自试料(16)的光根据该光在试料(16)上的位置及行进方向引导至多个受光体中的不同的受光体。