利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

25 条记录 (耗时 0.026 秒)

    用于检查电路的方法和设备
    2.
    发明公开
    用于检查电路的方法和设备 有权 转让

    公开(公告)号：CN105026942A

    公开(公告)日：2015-11-04

    申请号：CN201480007978.9

    申请日：2014-02-05

    申请人： 德国捷德有限公司

    发明人： K.芬肯泽勒 ,  M.鲍尔迪施韦勒

    IPC分类号： G01R31/315 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/315 ,  H04B5/0075 ,  H04B17/16

    摘要： 本发明涉及一种用于检查构建为用于进行无接触的数据通信的电路(20)的方法，该电路包括天线(22)和与天线(22)耦合的电子组件(24)，因此该方法包括如下步骤：产生(S1)一个场强的交变磁场并且将电路(20)布置(S2)在交变场区域中。然后，借助能量脉冲激励(S3)该电子电路(20)。在另一步骤中，响应于通过能量脉冲激励该电路而采集(S4)电路(20)的振荡。最后，尤其在电路(20)的固有谐振频率方面评估(S5)所采集的电路(20)的振荡。

    故障解析方法及故障解析装置
    4.
    发明公开
    故障解析方法及故障解析装置 失效 转让

    公开(公告)号：CN101354366A

    公开(公告)日：2009-01-28

    申请号：CN200810129552.7

    申请日：2008-06-30

    申请人： 恩益禧电子股份有限公司

    发明人： 二川清

    IPC分类号： G01N25/72 ,  G01N27/82 ,  H01L21/66

    CPC分类号： G01R31/311 ,  G01R31/315

    摘要： 本发明提供一种故障解析方法及故障解析装置，在解析半导体芯片的故障时，不需要与外部进行端子连接，能以亚微米的空间分辨率将电流路径及缺陷可视化。本发明包含：用光电流产生用激光束(2)对LSI芯片(1)进行固定照射的工序；用加热用激光束(3)对LSI芯片(1)的被观测区域扫描并照射的工序；用SQUID磁通计(4)检测由于光电流产生用激光束(2)及加热用激光束(3)的照射而在LSI芯片(1)上产生的电流变化的工序；及根据SQUID磁通计(4)检测到的电流变化，解析LSI芯片(1)的故障的工序。光电流产生用激光束(2)及加热用激光束(3)的照射从LSI芯片(1)的背面侧进行，SQUID磁通计(4)进行的检测在LSI芯片(1)的表面侧进行。LSI芯片(1)的故障的解析中，进行使从SQUID磁通计(4)输出的信号与扫描点对应的图像处理。

    有电源测试接口的集成电路
    6.
    发明公开
    有电源测试接口的集成电路 失效 转让

    公开(公告)号：CN1460184A

    公开(公告)日：2003-12-03

    申请号：CN02801103.1

    申请日：2002-03-28

    申请人： 皇家菲利浦电子有限公司

    发明人： F·G·M·德乔格 ,  R·F·舒特特 ,  J·德威尔

    IPC分类号： G01R31/316

    CPC分类号： G01R31/315 ,  G01R31/2853

    摘要： 一个集成电路组件包含载体和半导体集成电路芯片(10)。在载体上的电流路径把功率供给芯片上的电源连接。提供的磁场传感器处在载体上电流路径的附近，用于读出由通过电流路径的电流产生的磁场。组件也包含用于探测电流存在的可测试存取磁场传感器的电子接口。优选地，传感器集成在载体上，采用淀积磁阻材料并图形在该材料，以便在电流路径附近提供传感器。优选地，载体是具有连接线的插入器(12)，在插入器安装到印刷电路板(19)上之前，插入器与一个或多个集成电路芯片封装在一起。

    基于单向探头对电子装置进行多维测试的方法和机器
    8.
    发明授权
    基于单向探头对电子装置进行多维测试的方法和机器 失效

    公开(公告)号：CN102105806B

    公开(公告)日：2014-12-24

    申请号：CN200980129201.9

    申请日：2009-06-24

    申请人： 法国国家太空研究中心

    发明人： P·佩迪

    IPC分类号： G01R31/302 ,  G01R31/315 ,  G01R31/265

    CPC分类号： G01R31/302 ,  G01R31/265 ,  G01R31/315

    摘要： 本发明涉及一种用于测试电子装置的方法和机器，其中由单向测量探头(46)测量所发射的磁场，其特征在于：由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第一值(Bz1)并对其进行记录，然后通过绕着与所述轴ZZ’正交的轴XX’根据小于90°的角幅度相对枢转使所述探头(46)和所述电子装置彼此相对移动，同时针对轴ZZ’的每个位置(x，y)保持在同一距离d0处，由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第二值(Bz2)并对其进行记录，然后基于已经获得的第一值Bz1和第二值Bz2确定所述磁场沿着与所述轴ZZ’和XX’正交的轴YY’的分量By的值并对其进行记录。

    检测装置及其方法
    9.
    发明公开
    检测装置及其方法 有权

    公开(公告)号：CN101726683A

    公开(公告)日：2010-06-09

    申请号：CN200810186220.2

    申请日：2008-12-17

    申请人： 德律科技股份有限公司

    发明人： 叶尚苍 ,  陈家铭

    IPC分类号： G01R31/02

    CPC分类号： G01R31/312 ,  G01R31/2806 ,  G01R31/304 ,  G01R31/315

    摘要： 本发明是有关于一种检测装置及其方法，用以检测一印刷电路，其具有至少一电子元件，其中该电子元件为主动元件、被动元件或线路。该检测装置包含：一感测器，配置于该电子元件上方；一电源，用以提供电力至该印刷电路，藉以启动该印刷电路；以及一测量器，用以当该印刷电路启动时，经由该感测器去测量一感测信号。该检测方法包括以下步骤：配置一感测器在该电子元件上方；提供电力至该印刷电路，藉以启动该印刷电路；以及当该印刷电路启动时，经由该感测器去测量一感测信号。藉此本发明的检测装置及其方法无须植针至印刷电路，对电子元件提供额外的电子信号；而是将印刷电路启动，检测装置及其方法即可测量到感测信号。

    用于检验平板显示器的方法和设备
    10.
    发明授权
    用于检验平板显示器的方法和设备 有权

    公开(公告)号：CN1325923C

    公开(公告)日：2007-07-11

    申请号：CN200310104291.0

    申请日：2003-11-06

    申请人： LG.菲利浦LCD株式会社

    发明人： 金钟淡 ,  李炫揆 ,  赵容振 ,  郑时和

    IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R33/09 ,  G11B5/39

    CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R31/315 ,  G09G3/3648 ,  G09G2300/0426

    摘要： 本发明一个方面的一种用于检测平板显示装置中不同层信号线之间短路的检验方法，包括：在检测装置上设置平板显示装置；向一条或多条第一信号线的焊盘以及一条或多条第二信号线的焊盘施加不同的电压，其中第一和第二信号线形成在不同的层中并且由一绝缘层分隔开，第二信号线叠置在第一信号线其中至少之一上；利用磁传感器扫描第一信号线的焊盘和第二信号线的焊盘；检测磁传感器的电阻变化，以感知第一与第二信号线之间的层间短路；以及将检测数据发送到检测装置以确定发生短路的信号线。