光刻设备及器件制造方法

    公开(公告)号:CN100570489C

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200510104178.1

    申请日:2005-09-13

    IPC分类号: G03F7/20 G02B27/12 G03F7/207

    摘要: 一种光刻设备,它包括:照射系统,它提供辐射束;折射光栅,它将辐射束分裂成多个子辐射束;单独可控单元阵列,它配置成使多个所述子辐射束射向所述单独可控单元阵列中相关联的单独可控单元,使辐射束图案化;以及投射系统,它将图案化的辐射束投射到衬底的目标部分。所述照射系统提供至少另一个辐射束,把所述辐射束和所述至少另一个辐射束射向所述折射光栅,并且将它们各自分裂成子辐射束,以及把所述辐射束和所述至少另一个辐射束以彼此相关的角度射向所述折射光栅,使得从每一个辐射束导出的子辐射束中至少一个是叠合的。本发明还提供了一种器件制造方法。

    测量装置和曝光装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101581888A

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200910140598.3

    申请日:2009-05-12

    发明人: 古河裕范

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 本发明公开一种测量装置和曝光装置。所述测量装置测量被照明系统照明的照明平面中的空间相干性,包括:测量掩模,其具有至少三个针孔并被布置在照明平面上;检测器,被配置为检测由来自所述至少三个针孔的光形成的干涉图案;和计算器,被配置为基于通过对检测器检测到的干涉图案进行傅立叶变换而获得的傅立叶谱,来计算照明平面中的空间相干性。

    用于把辐射导向层的装置、具有这种装置的设备以及使用这种设备的方法

    公开(公告)号:CN101164111A

    公开(公告)日:2008-04-16

    申请号:CN200680013040.3

    申请日:2006-04-13

    IPC分类号: G11B7/26 G03F7/20

    摘要: 本发明描述了一种用于把辐射导向层(1)的装置。该装置包括:第一光学元件(L1),其用于把源自第一辐射源(S1)的第一辐射束(B1)聚焦到所述层上;第二光学元件(L2),其用于把源自第二辐射源(S2)的第二辐射束(B2)聚焦到所述层上。来自所述第一和所述第二辐射源的辐射波长彼此不同。第一和第二光学元件可以关于所述辐射源联合移动,其中所述两条辐射束的焦点与第一光学元件和第二光学元件关于辐射源的各种移动至少基本上相符。第二光学元件(L2)具有孔径(A2),其允许没有光学干扰地通过第一辐射束(B1)。这样,实现了L1和L2的紧凑而且重量较轻的配置,并且提高了辐射束质量。此外还公开了一种包括所述装置的设备以及一种使用所述设备的方法。

    激光束括束用的系统和方法

    公开(公告)号:CN1434319A

    公开(公告)日:2003-08-06

    申请号:CN02160297.2

    申请日:2002-10-18

    申请人: ASML美国公司

    IPC分类号: G02B27/09 H01S3/00

    CPC分类号: G03F7/70583

    摘要: 本发明涉及一种激光束扩束用的方法和系统。一种照明系统包括一水平反射的多路复用器和一垂直反射的多路复用器。该水平反射的多路复用器沿着第一尺寸复制该输入光束,从而形成第一多路复用光束。该垂直反射的多路复用器沿第二尺寸复制该第一多路复用光束,从而形成第二多路复用光束。在一个例子中,该水平反射的多路复用器包括一第一分束器、第二分束器和反射镜。该垂直反射的多路复用器包括一分束器和反射镜。

    曝光系统、曝光装置及曝光方法

    公开(公告)号:CN107092166A

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201610092322.2

    申请日:2016-02-18

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 本发明提供了一种曝光系统、曝光装置及曝光方法,其曝光系统包括:激光单元、光斑切换单元以及透镜单元;所述激光单元发射激光束;所述光斑切换单元,根据需曝光的加工工件材质对应的光斑尺寸,使所述激光束在不同光路之间进行切换,获得对应光斑尺寸的激光束;所述透镜单元改变所述激光束的方向;通过光斑切换单元的设置,使得激光束在不同光路之间进行切换,从而对光斑的尺寸范围进行切换,满足了不同线宽工件对光斑尺寸的不同要求,提高了对不同工件的加工适应性,有效的节约了成本。