在写入大型基板时运用偏移修正的多光束图案产生器以及相关方法

    公开(公告)号:CN106133875A

    公开(公告)日:2016-11-16

    申请号:CN201580009495.7

    申请日:2015-03-11

    IPC分类号: H01L21/027

    CPC分类号: G03F7/70275 G03F7/70291

    摘要: 本发明公开了在写入大型基板时运用偏移修正的多光束图案产生器以及相关方法。多光束图案产生器可包括空间光调制器(SLM),空间光调制器具有独立可控制的反射镜以将光反射至基板上,以写入图案。图案可在写入周期中写入,其中基板移动至写入周期区域位置。通过在作用位置中的SLM的反射镜,SLM将光反射至基板上,以写入图案于基板上。通过确定在每一个写入周期中基板相对于SLM的位置与偏移,SLM的一些反射镜可数字地受控制至非作用位置或作用位置,以补偿基板的偏移。以此方式,利用偏移补偿,写入在基板上的图案可准确地写入。

    一种光学加工系统和方法

    公开(公告)号:CN103424996B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201310395256.2

    申请日:2013-09-03

    申请人: 苏州大学

    IPC分类号: G03F7/20

    CPC分类号: G03F7/70291

    摘要: 一种光学加工系统和方法,该系统包括光学系统、载台、驱动系统,以及控制系统,该光学系统包括一空间光调制器作为该光学系统图形发生装置,所述空间光调制器具有若干像素单元,每个像素单元为反射镜,所述空间光调制器在进行图形生成时,参与构建图形的像素单元的反射镜统一翻转相同的角度γ,使得该空间光调制器构成一个以γ为闪耀角的光栅结构,所述光栅结构对入射光进行衍射分光,使光学系统获得至少两束能够形成干涉的相干光,所述光学系统利用上述相干光完成干涉直写复合光刻,从而使普通的激光直写技术的分辨率大大提高。

    曝光光学系统、曝光头以及曝光装置

    公开(公告)号:CN105074573A

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201480009463.2

    申请日:2014-02-19

    发明人: 小森一树

    摘要: 提供一种具备校正成像光学系统的像差的微透镜阵列的曝光光学系统、曝光头以及曝光装置。曝光光学系统(100)包括:排列有对来自光源的光(B)进行调制的像素部(74)的空间光调制元件(34)、在平面上排列有对由所述空间光调制元件(34)调制过的光进行聚光的微透镜(64a)的微透镜阵列(64)、将通过所述空间光调制元件(34)调制过的光(B)在所述微透镜阵列(64)上成像的第1成像光学系统(52)以及将由所述微透镜阵列(64)聚光的光(B)在感光材料P上成像的第2成像光学系统(58),所述微透镜阵列(64)根据与所述第2成像光学系统(58)的光轴(58C)的距离,排列有形状不同的多个种类的微透镜(64a)。

    曝光装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103168275B

    公开(公告)日:2015-06-24

    申请号:CN201180049634.0

    申请日:2011-11-04

    发明人: 李德 田端秀敏

    IPC分类号: G03F7/20 H01L21/027

    摘要: 本发明提供能够一边适当地变更信息数据一边曝光电路图案的曝光装置。该曝光装置具备:第1光源(20),其放射包含紫外线的第1光;投影曝光单元(70),其使用第1光,将描绘于光掩膜上的电路图案曝光到基板上;基板工作台(60),其载置基板;架台(11),其配置基板工作台;与第1光源不同地配置的第2光源(41),其放射包含紫外线的第2光;空间光调制单元(40),其使用第2光,将以电子方式制作的信息数据曝光到基板上;以及空间光调制单元移动部(50),其配置在壳体(11)上,使空间光调制单元在与基板工作台的移动方向平行的方向上移动。