一种基于中子元素分析的料仓式物料成分检测装置

    公开(公告)号:CN118961766A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411063658.7

    申请日:2024-08-05

    摘要: 本发明属于元素检测技术领域,具体涉及一种基于中子元素分析的料仓式物料成分检测装置,包括壳体,所述壳体的内部设有样品室,所述样品室内装有料仓件,所述料仓件内放置有样品,所述壳体的内部设有中子发生器、中子计数仪和两套能谱分析仪;通过对料仓件等部位进行防护,料仓件和其他部件外部均增加了屏蔽机构,这些屏蔽机构可以有效阻止料仓件外部射线对探头的干扰计数,从而提高装置的测量精度和灵敏度;根据中子元素测量原理,装置在设计过程中,打开屏蔽门板,即可对料仓件进行取放,使装置的操作和使用更加方便。

    一种基于TEM的纳米摩擦学定量检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN118914255A

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202411226002.2

    申请日:2024-09-03

    申请人: 东南大学

    IPC分类号: G01N23/20 G01N23/20025

    摘要: 本发明公开了一种基于TEM的纳米摩擦学定量检测装置及检测方法,检测装置包括微悬臂梁,微悬臂梁的一端设置与其互相垂直的微悬臂梁针尖,另一端设置微悬臂梁基座;微悬臂梁针尖与样品的尖端相对正,与电子束互相垂直;样品与位移控制机构相连,微悬臂梁针尖与样品的尖端置于透射电子显微镜下通过实时采集图像观察其法向位移变化和横向位移变化。本发明通过改变微悬臂梁在TEM中的安装方式实现了法向和横向两个方向的协同测量,不仅可对摩擦界面的原子动态变化进行实时追踪,而且还能够使纳米摩擦过程中正压力和摩擦力的测量均达到纳牛精度,从而能够满足各种纳米摩擦、磨损以及超润滑实验的定量测量。

    针对射线的在线检测方法及系统

    公开(公告)号:CN117849891B

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202311761631.0

    申请日:2023-12-20

    IPC分类号: G01V5/22 G01N23/20

    摘要: 本发明公开了一种针对射线的在线检测方法及系统,其中,获取车辆的到位信号,基于车辆的到位信号触发对车辆中的射线进行在线检测;定位车辆的外轮廓,并针对车辆进行全区域射线检测;获取车辆中射线的反射信号;对射线的反射信号进行信号解析,并输出射线的反射结果;实时采集射线的反射结果,并形成射线的反射结果集合;基于射线的反射结果集合进行成分分析,并确定车辆的整体射线情况,避免车辆中射线的局部检测,此时,基于车辆的外轮廓范围对车辆中的射线进行在线检测,并且根据射线的反射信号所解析的反射结果进行成本分析,以便于确定车辆的整体射线情况,避免车辆中射线的局部检测,从而提高了安检检测的可靠性。

    控制装置、系统、方法以及程序
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118901001A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202380028093.6

    申请日:2023-02-21

    IPC分类号: G01N23/20

    摘要: 提供一种能够高效地取得对于以超过#imgabs0#的分辨率确定溶液中的高分子的结构而言有意义的数据的控制装置、系统、方法以及程序。控制X射线分析装置的控制装置(200)具备:数据转换部(223),其在各时间将从X射线分析装置取得的试样溶液数据和基准溶液数据转换为分布图;第一指标算出部(232),其基于所述转换的分布图中的至少一方溶液数据的分布图,算出表示时间轴方向的强度的波动的第一指标;第一指标判定部(234),其判定所算出的第一指标是否处于规定范围内;以及装置控制部(268),其在第一指标不处于规定范围内的情况下,使由X射线分析装置进行的测定结束。

    基于热场发射电子枪的超快透射电子显微镜及其使用方法

    公开(公告)号:CN118841300A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202410868542.4

    申请日:2024-07-01

    申请人: 南开大学

    发明人: 付学文 童玲

    摘要: 本发明涉提供一种基于热场发射电子枪的超快透射电子显微镜及其使用方法,超快激光系统产生的激光转换为泵浦激光和探测激光,分别用于激发样品室内样品、激发电子枪产生光电子;电子枪将超快探测激光转化为脉冲光电子源并加速到特定电压;照明系统调整与样品作用前的光电子状态,并将光电子引入样品室;样品室为放置样品且对样品施加外激励的腔体;成像系统捕获与样品相互作用的脉冲电子,并将之生成放大的显微图像或衍射图像;探测器记录显微图像或衍射图像;谱图系统记录与样品作用后的电子的能量分布谱图和成像;真空系统使整个装置保持高真空度。本发明能够在各时间尺度下全面观测样品在原子级分辨率尺度下各种物态动力学变化。

    一种丰富活性位点的高熵金属氧化物制备方法

    公开(公告)号:CN118561323B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202411060403.5

    申请日:2024-08-05

    发明人: 汤金强

    摘要: 本申请涉及高熵材料制备技术领域,具体涉及一种丰富活性位点的高熵金属氧化物制备方法,该方法包括:将配位剂、催化剂、铝源、铌源、钼源、钛源、锆源以及表面活性剂溶解在有机溶剂中,得到混合液后,进行干燥处理,得到有序介观结构固体,进行焙烧处理,调整焙烧处理温度区间,得到高熵金属氧化物。本申请旨在避免有序介观结构固体焙烧处理不充分导致介观骨架的坍塌、表面活性剂去除不彻底与高熵金属氧化物比表面积较低的弊端,使得制备获得的高熵金属氧化物活性位点暴露充分,介孔结构完整均匀。

    粒子束扫描过程中粒子束变化的成像方法及装置

    公开(公告)号:CN118817741A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410909127.9

    申请日:2024-07-08

    申请人: 清华大学

    发明人: 于荣 杨文峰

    IPC分类号: G01N23/20

    摘要: 本申请涉及一种粒子束扫描过程中粒子束变化的成像方法及装置,其中,方法包括:采集在每个目标扫描位置处预设样品的衍射强度数据;确定每个目标扫描位置的多个待优化参数,以得到每个目标扫描位置的束斑函数,且计算损失函数;基于衍射强度数据,计算损失函数关于每个待优化参数的参数梯度,并对相应的待优化参数进行参数优化操作,得到每个待优化参数对应的优化参数,且根据优化参数迭代执行损失函数和参数梯度计算操作以及参数优化操作,并在损失函数满足预设迭代结束条件时,得到每个待优化参数对应的变化图像,消除位置依赖的粒子束对样品势函数重构的影响。由此,解决了现有技术无法测量和消除扫描过程中粒子束像差和强度变化等问题。

    用于高能量损失下的电子能量损失光谱的技术

    公开(公告)号:CN118800636A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410440504.9

    申请日:2024-04-12

    申请人: FEI 公司

    摘要: 描述了用于相对大的能量损失下的能量损失光谱的系统、设备、方法和技术。带电粒子显微镜系统可以包括光束镜筒区段。该光束镜筒区段可以包括针对第一能量校准的一个或多个带电粒子光学元件以及针对第二能量校准的一个或多个带电粒子光学元件。带电粒子显微镜系统可以包括检测器区段。该检测器区段可以设置在光束镜筒区段下游的位置处。检测器区段可以包括静电或磁棱镜以及针对第二能量校准的一个或多个带电粒子光学元件。第一能量和第二能量可以是不同的。