Abstract:
A system for suppressing noise by frequency dither includes a transmitter, receiver and a frequency dither circuit, as well as a cavity along a propagation path of the electromagnetic signal between the transmitter and the receiver. The transmitter is configured to transmit an electromagnetic signal to the receiver at each of one or more selectable frequencies. The frequency dither circuit is configured to apply a frequency dither to the electromagnetic signal transmitted from the transmitter to the receiver at each of the selectable frequencies. In this regard, the applied frequency dither has a span having been selected as a function of a minimum frequency period of an expected standing wave in the system, and a rate having been selected as a function of a signal processing bandwidth for sampling a frequency spectrum including the selectable frequencies.
Abstract:
Zum Ermitteln eines Anregungs- (76) und/oder eines Emissionsspektrums (78) mindestens eines Farbstoffs wird eine Probe (28) mit Hilfe von Anregungslicht (21) einer ersten Anregungswellenlänge beleuchtet und Detektionslicht (29) eines vorgegebenen Detektions-Wellenlängenbereichs wird detektiert. Abhängig von dem detektierten Detektionslicht (29) wird das Anregungs- und/oder Emissionsspektrum (76, 78) ermittelt. Es werden eine erste Beleuchtungsphase (PH_1) und mindestens eine zweite Beleuchtungsphase (PH_2) durchgeführt. In der ersten Beleuchtungsphase (PH_1) wird die Probe (28) mit Hilfe von Anregungslicht (21) der ersten Anregungswellenlänge (40) beleuchtet und es werden Detektionslicht (29) eines ersten Detektions-Wellenlängenbereichs (31) und gleichzeitig mindestens Detektionslicht (29) eines zweiten Detektions-Wellenlängenbereichs (32) detektiert. In der zweiten Beleuchtungsphase (PH_2) wird die Probe (28) mit Hilfe von Anregungslicht (21) einer zweiten Anregungswellenlänge (42) beleuchtet und es wird Detektionslicht (29) mindestens des ersten und/oder zweiten Detektions-Wellenlängenbereichs (31, 32) detektiert.
Abstract:
Devices and methods for hyperspectral and multispectral imaging are discussed. In particular, Image Mapping Spectrometer systems, methods of use, and methods of manufacture are presented. Generally, an image mapping spectrometer comprises an image mapping field unit, a spectral separation unit, and a selective imager. Image mapping spectrometers may be used in spectral imaging of optical samples. In some embodiments, the image mapping field unit of an image mapping spectrometer may be manufactured with surface shaped diamond tools.
Abstract:
Method and apparatus for imaging a target area. The apparatus comprises an adjustable light emitting device that provides a light beam with a user-defined spectrum. A filter mechanism receives the light beam and directs the light beam towards a target area. A light collection device collects an amount of light reflected from a target area and generates an image from the reflected light.
Abstract:
The invention generally relates to spectrometers and optical systems useful therein. More particularly, the invention generally relates to optical systems and systems having improved functionalities, flexibilities, and design options. For example, optical systems of the invention employ an aberration-corrected concave grating along with one or more transmissive aberration correctors.