System and method for suppressing noise by frequency dither
    102.
    发明公开
    System and method for suppressing noise by frequency dither 审中-公开
    系统和方法,用于通过Frequenzrasterung抑制噪声

    公开(公告)号:EP2166324A3

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:EP09011486.9

    申请日:2009-09-08

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0262 G01J3/42 G01J3/4338

    Abstract: A system for suppressing noise by frequency dither includes a transmitter, receiver and a frequency dither circuit, as well as a cavity along a propagation path of the electromagnetic signal between the transmitter and the receiver. The transmitter is configured to transmit an electromagnetic signal to the receiver at each of one or more selectable frequencies. The frequency dither circuit is configured to apply a frequency dither to the electromagnetic signal transmitted from the transmitter to the receiver at each of the selectable frequencies. In this regard, the applied frequency dither has a span having been selected as a function of a minimum frequency period of an expected standing wave in the system, and a rate having been selected as a function of a signal processing bandwidth for sampling a frequency spectrum including the selectable frequencies.

    Verfahren für einen beschleunigten Anregungswellenlängen-Scan bei einem Fluoreszenzmikroskop
    106.
    发明公开
    Verfahren für einen beschleunigten Anregungswellenlängen-Scan bei einem Fluoreszenzmikroskop 审中-公开
    扫描电子荧光光谱仪(Fluoreszenzmikroskop)(Verregahrenfüreinen beschleunigtenAnregungswellenlängen-Scan bei einem Fluoreszenzmikroskop

    公开(公告)号:EP2365317A1

    公开(公告)日:2011-09-14

    申请号:EP11155130.5

    申请日:2011-02-21

    Inventor: Sieber, Jochen

    Abstract: Zum Ermitteln eines Anregungs- (76) und/oder eines Emissionsspektrums (78) mindestens eines Farbstoffs wird eine Probe (28) mit Hilfe von Anregungslicht (21) einer ersten Anregungswellenlänge beleuchtet und Detektionslicht (29) eines vorgegebenen Detektions-Wellenlängenbereichs wird detektiert. Abhängig von dem detektierten Detektionslicht (29) wird das Anregungs- und/oder Emissionsspektrum (76, 78) ermittelt. Es werden eine erste Beleuchtungsphase (PH_1) und mindestens eine zweite Beleuchtungsphase (PH_2) durchgeführt. In der ersten Beleuchtungsphase (PH_1) wird die Probe (28) mit Hilfe von Anregungslicht (21) der ersten Anregungswellenlänge (40) beleuchtet und es werden Detektionslicht (29) eines ersten Detektions-Wellenlängenbereichs (31) und gleichzeitig mindestens Detektionslicht (29) eines zweiten Detektions-Wellenlängenbereichs (32) detektiert. In der zweiten Beleuchtungsphase (PH_2) wird die Probe (28) mit Hilfe von Anregungslicht (21) einer zweiten Anregungswellenlänge (42) beleuchtet und es wird Detektionslicht (29) mindestens des ersten und/oder zweiten Detektions-Wellenlängenbereichs (31, 32) detektiert.

    Abstract translation: 通过荧光显微镜确定至少一种荧光染料的激发光谱和/或发射光谱包括:用第一激发波长(40)的激发光照射展示荧光染料的样品; 检测从样品发出的给定检测波长范围的检测光; 以及根据检测到的光的检测来确定激发和/或发射光谱。 执行第一照明阶段和至少一个第二照明阶段。 通过荧光显微镜确定至少一种荧光染料的激发光谱和/或发射光谱包括:用第一激发波长(40)的激发光照射展示荧光染料的样品; 检测从样品发出的给定检测波长范围的检测光; 以及根据检测到的光的检测来确定激发和/或发射光谱。 执行第一照明阶段和至少一个第二照明阶段,其中在第一照明阶段中,用第一激发波长的激发光照射样本,并且第一检测波长范围(31)的检测光为 由第一检测器检测,并且同时至少第二检测波长范围(32)的检测光被第二检测器检测。 在第二照明阶段,用第二激发波长的激发光照射样品,并且检测至少第一和/或第二检测波长范围的检测光。

Patent Agency Ranking