QUANTUM EFFICIENCY MEASURING DEVICE AND QUANTUM EFFICIENCY MEASURING METHOD
    13.
    发明公开
    QUANTUM EFFICIENCY MEASURING DEVICE AND QUANTUM EFFICIENCY MEASURING METHOD 有权
    量子效率测量装置和量子效率测量方法

    公开(公告)号:EP2315003A1

    公开(公告)日:2011-04-27

    申请号:EP09709437.9

    申请日:2009-01-20

    Inventor: OHKUBO, Kazuaki

    Abstract: A sample (OBJ1) that is an object whose quantum efficiency is to be measured, and a standard object (REF1) having a known reflectance characteristic are each attached to a sample window (2) provided in a plane mirror (5). Based on respective spectrums measured by a spectrometer in respective cases where the sample (OBJ1) is attached and the standard object (REF1) is attached, the quantum efficiency of the sample (OBJ1) is measured. The plane of an opening of an observation window (3) is made substantially coincident with the exposed surface of the sample (OBJ1) or standard object (REF1), so that direct incidence, on the observation window (3), of the fluorescence generated from the sample (OBJ1) receiving an excitation light (L1) and the excitation light (L1) reflected from sample (OBJ1) is prevented.

    Abstract translation: 将作为量子效率被测量对象的样品(OBJ1)和具有已知反射特性的标准物(REF1)分别附着到设置在平面镜(5)中的样品窗口(2)。 基于分别安装样本(OBJ1)和标准物体(REF1)的情况下通过光谱仪测量的各个光谱,测量样本(OBJ1)的量子效率。 观察窗(3)的开口的平面基本上与样品(OBJ1)或标准物(REF1)的暴露表面重合,从而在观察窗(3)上直接入射产生的荧光 从接收激发光(L1)的样本(OBJ1)和从样本(OBJ1)反射的激发光(L1)被阻止。

    Messeinrichtung und Verfahren zur spektroskopischen Untersuchung einer Probe

    公开(公告)号:EP2023103A1

    公开(公告)日:2009-02-11

    申请号:EP08013948.8

    申请日:2008-08-04

    Abstract: Eine Messeinrichtung (100) zur spektroskopischen Untersuchung einer Probe (1, 2), insbesondere einer partikulären Pflanzenprobe, einer zusammengesetzten Pflanzenprobe mit festen und flüssigen Bestandteilen oder einer flüssigen Pflanzenprobe, umfasst eine Beleuchtungseinrichtung (10), die zur spektral aufgelösten Beleuchtung der Probe eingerichtet ist, eine Probenhalterungseinrichtung (20), und eine Detektoreinrichtung (30) mit einem ersten Detektor (31), der für eine Transmissionsmessung vorgesehen ist, und mit einem zweiten Detektor (32), der für eine Reflektionsmessung vorgesehen ist, wobei die Beleuchtungseinrichtung (10) und die Detektoreinrichtung (30) so angeordnet sind, dass mit den ersten und zweiten Detektoren (31, 32) die Transmission und die Reflektion der Probe (1, 2) in einem gemeinsamen Messvorgang messbar sind. Es wird auch ein Verfahren zur spektroskopischen Untersuchung einer Probe (1, 2) beschrieben.

    Abstract translation: 测量装置(100)具有用于样品(1)的光谱分散照明的照明装置(10)和用于保持样品的样品保持装置(20)。 检测器装置(30)具有用于测量光的透射的检测器(31)和用于测量由样品池(22)反射的光的反射的另一检测器(32)。 照明装置和检测器装置被布置成使得在通过检测器的公共测量处理中可以同时测量样品的透射率和反射率。 还包括用于样品的光谱分析方法的独立权利要求。

    OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD
    20.
    发明公开
    OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD 审中-公开
    OPTISCHE MESSVORRICHTUNG UND OPTISCHES MESSVERFAHREN

    公开(公告)号:EP3147638A1

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:EP15796210.1

    申请日:2015-04-07

    CPC classification number: G01N21/64 G01J3/0254 G01J3/443 G01N2201/12753

    Abstract: An optical measurement device inputs excitation light to an integrating sphere in which a sample is disposed, irradiates the sample with the excitation light having a predetermined beam cross-section, detects measurement light output from the integrating sphere by a photodetector, and acquires intensity data of the sample. The optical measurement device includes a storage unit in which correction data is stored and an optical characteristic calculation unit for calculating optical characteristics of the sample based on the intensity data of the sample and the correction data. The correction data is calculated based on first corrective intensity data and second corrective intensity data. The predetermined beam cross-section is covered with the first light absorbing member and covers the second light absorbing member.

    Abstract translation: 光学测量装置将激发光输入到其中设置有样品的积分球,用具有预定光束横截面的激发光照射样品,通过光电检测器检测从积分球输出的测量光,并获取强度数据 例子。 光学测量装置包括存储单元,其中存储有校正数据;以及光学特性计算单元,用于基于样本的强度数据和校正数据计算样本的光学特性。 基于第一校正强度数据和第二校正强度数据计算校正数据。 预定的光束横截面被第一光吸收部件覆盖并覆盖第二光吸收部件。

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