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公开(公告)号:EP4034864B1
公开(公告)日:2024-10-09
申请号:EP20758145.5
申请日:2020-08-14
IPC: G01N21/31 , G01N21/47 , G01N21/51 , G01J3/02 , G01J3/42 , G01N33/487 , A61B5/00 , A47G19/22 , A61B10/00 , A61C17/22 , A61B5/1455 , A61B5/02 , A46B15/00 , A61C19/04 , G01N21/01
CPC classification number: A61B5/4552 , A61B5/682 , A61B5/0088 , A61B10/0051 , G01N21/31 , G01N33/487 , A61C17/22 , A47G19/2227 , A47G2019/223820130101 , A61B5/0075 , A61C17/225 , A61C19/04 , G01J3/42 , G01N21/474 , G01N21/51 , G01N2021/013120130101 , G01N2021/475720130101 , G01N2021/476920130101 , G01N2201/022120130101 , A46B2200/106620130101 , A46B15/0004 , A46B15/0034 , G01J3/0291 , G01J3/0272 , G01J3/0267 , A61B5/14552 , A61B5/02042
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公开(公告)号:EP4439024A1
公开(公告)日:2024-10-02
申请号:EP22915502.3
申请日:2022-10-27
Applicant: Hamamatsu Photonics K.K.
Inventor: NOZAKI Makoto , SAKURAI Naoto , IWASAKI Norihiro
Abstract: A spectroscopic device includes a swing element having a swing surface, a diffraction grating configured to disperse measurement light reflected by the swing surface, a first light detection unit including a first light detector that detects a part of the measurement light dispersed by the diffraction grating, a light source configured to emit inspection light, and a second light detection unit including a second light detector configured to detect the inspection light reflected by the swing surface. The swing element includes a support portion, a movable portion having the swing surface, and a coupling portion coupling the support portion and the movable portion such that a swing angle of the swing surface changes with a predetermined axis as a center line. The second light detection unit has an elongated light receiving region in which a moving direction of the inspection light is a longitudinal direction.
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公开(公告)号:EP3175225B1
公开(公告)日:2024-10-02
申请号:EP14899024.5
申请日:2014-08-01
CPC classification number: G01N2021/55620130101 , G01N2201/069120130101 , H02S50/10 , G01J3/0264 , G01J3/10 , G01J3/433 , G01J2003/10420130101 , G01J2003/28320130101 , G01J2003/283620130101 , G01J2003/433420130101 , G01N21/55 , Y02E10/50
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公开(公告)号:EP4433786A1
公开(公告)日:2024-09-25
申请号:EP22812686.8
申请日:2022-11-15
Applicant: Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Inventor: SAARI, Heikki , HOLMLUND, Christer , STUNS, Ingmar
CPC classification number: G01J3/10 , G01J2003/10220130101 , G01J2003/121320130101 , G01J2003/124320130101 , G01J2003/124720130101 , G01J3/32 , G01J3/2823
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公开(公告)号:EP4432818A1
公开(公告)日:2024-09-25
申请号:EP22818278.8
申请日:2022-11-15
Applicant: KWS SAAT SE & Co. KGaA
Inventor: LAGE, Jacob , UTSCHIG, Christian , HIRSCHMANN, Christian Bernd
CPC classification number: A01H1/04 , G01N21/359 , G01N2021/846620130101
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67.
公开(公告)号:EP4398021A3
公开(公告)日:2024-09-11
申请号:EP24170457.6
申请日:2019-05-03
Applicant: Siemens Healthcare Diagnostics, Inc.
Inventor: Jasperse, Jeffrey R.
IPC: G01J3/427 , G01S7/481 , G01N21/21 , G01N21/88 , G01J3/02 , G01J3/10 , G01N21/31 , G01N21/25 , G01N21/27 , G02B5/00 , G02B27/14 , G02B27/10
CPC classification number: G01N21/31 , G01N2021/314420130101 , G01N21/255 , G01N21/274 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/10 , G01J2003/10220130101 , G01J3/0291 , G02B27/143 , G02B5/005
Abstract: An illumination unit is described that includes a first light source positioned on a first axis and a second light source on a second axis that intersects and is angularly offset with respect to the first axis. The illumination unit includes a reflector having an aperture through which the first axis extends and a reflective surface angled with respect to the first axis and second axis.
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公开(公告)号:EP3417299B1
公开(公告)日:2024-09-04
申请号:EP17704212.4
申请日:2017-02-07
CPC classification number: G01J3/42 , G01J9/04 , G01R23/165 , G01R23/17
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公开(公告)号:EP4421461A1
公开(公告)日:2024-08-28
申请号:EP24159117.1
申请日:2024-02-22
Applicant: THALES , Centre National de la Recherche Scientifique
Inventor: BILLUART, Jules , HÉRON, Sébastien , VIARD, Thierry , BENARD, Hervé , LEQUIME, Michel
CPC classification number: G02B2207/10120130101 , G01J2003/282620130101 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G02B1/002 , G01J3/2823
Abstract: L'invention se rapporte à un système d'imagerie permettant de détecter une image d'un objet, le système d'imagerie comprenant : un imageur configuré pour recevoir un faisceau lumineux provenant de l'objet ; une fente configuré pour recevoir le faisceau lumineux provenant de l'imageur ; le système d'imagerie étant caractérisé en ce qu'il comprend : une matrice de collimateurs comprenant N × M collimateurs placés dans un premier plan et configurée pour collimater le faisceau lumineux provenant de la fente en une pluralité de N × M sous-faisceaux; une matrice de métasurfaces comprenant N × M métasurfaces placées dans un deuxième plan , le deuxième plan étant parallèle au premier plan, une des métasurfaces de la matrice de métasurfaces étant configurée pour recevoir un des sous-faisceaux provenant d'un collimateur associé de la matrice de collimateurs, chaque métasurface comprenant un substrat et des nano-éléments ; et un ou plusieurs détecteurs ; les nano-éléments d'une des métasurfaces de la matrice de métasurfaces étant agencées de façon à focaliser et disperser le sous-faisceau associé dans un plan du ou des détecteurs.
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公开(公告)号:EP4419894A1
公开(公告)日:2024-08-28
申请号:EP22790052.9
申请日:2022-09-30
Applicant: FOSS Analytical A/S
Inventor: ADÉN, Daniel , BORK, Nicolai
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