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    PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE
    1.
    发明公开
    PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE 审中-公开

    公开(公告)号：EP3418788A1

    公开(公告)日：2018-12-26

    申请号：EP18000486.3

    申请日：2011-10-14

    Applicant: Bioaxial SAS

    Inventor： SIRAT, Gabriel Y.

    IPC: G02B21/00

    CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/25 ,  G01N21/64 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6458 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12 ,  G02B21/0056 ,  G02B21/0072 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/16

    Abstract: L'invention propose un procédé optique de mesure et un appareil optique pour déterminer la position spatiale d'au moins un nanoémetteur lumineux d'un échantillon, le procédé comportant : la projection d'une séquence d'au moins deux distributions lumineuses compactes de familles topologiques différentes sur l'échantillon, la détection de la lumière réémise par ledit au moins un nanoémetteur lumineux de l'échantillon ; la génération, d'au moins une image optique pour chaque distribution lumineuse, à partir de la lumière détectée ; et l'analyse algorithmique des images optiques pour obtenir une information de localisation dudit au moins un nanoémetteur lumineux. L'invention concerne en outre un procédé optique de mesure and un appareil optique pour déterminer la position spatiale d'une pluralité de sources lumineuses ponctuelles le procédé comportant la détection de la lumière émise par la pluralité des sources lumineuses ponctuelles ; et la séparation de la lumière émise sur une pluralité de détecteurs pour des détections simultanées ou séquentielles ; la proportion de la lumière émise par un source lumineuse ponctuelle, canalisée vers un détecteur spécifique, étant dépendant de la position spatiale dudit source lumineuse ponctuelle; et la génération, des images optiques, à partir de la lumière détectée ; et l'analyse algorithmique des images optiques pour obtenir une information de localisation de la pluralité des sources lumineuses ponctuelles.

    MICROSCOPE APPARATUS
    3.
    发明公开
    MICROSCOPE APPARATUS 审中-公开

    公开(公告)号：EP3385769A1

    公开(公告)日：2018-10-10

    申请号：EP15909328.5

    申请日：2015-11-27

    Applicant: Nikon Corporation

    Inventor： SASE Ichiro ,  KANEKO Yasutoshi ,  FUKUI Tatsuo

    IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64 ,  H04N5/225

    CPC classification number: G01N21/6458 ,  G01N21/64 ,  G01N2201/06113 ,  G02B21/00 ,  G02B21/0076 ,  H04N5/225

    Abstract: A microscope apparatus including: an illumination optical system that radiates activation light to activate some of fluorescent materials included in a sample and excitation light to excite at least some of the activated fluorescent materials; an image forming optical system that: has an objective lens and an astigmatic optical system that generates astigmatism to at least part of fluorescence from the fluorescent materials; and forms an image of the fluorescence; an image-capturing unit that captures an image formed by the image forming optical system; a drive unit that moves an image-capturing position in the sample along an optical axis-direction of the objective lens; and a control unit, wherein the control unit causes the image-capturing unit to capture images in a plurality of numbers of frames respectively at a first image-capturing position and at a second image-capturing position different from the first image-capturing position.

    METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING SMALL LEAKS FROM CARBON DIOXIDE SEQUESTRATION FACILITIES
    6.
    发明公开
    METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING SMALL LEAKS FROM CARBON DIOXIDE SEQUESTRATION FACILITIES 审中-公开
    用于测量来自二氧化碳分馏设备的小泄漏的方法和设备

    公开(公告)号：EP3321656A1

    公开(公告)日：2018-05-16

    申请号：EP17201494.6

    申请日：2017-11-14

    Applicant: Aerodyne Research, Inc.

    Inventor： Nelson, Jr., David D. ,  Herndon, Scott C.

    IPC: G01M3/20 ,  G01M3/38 ,  G01N33/00 ,  G01N21/05 ,  G01N21/39 ,  G01N21/27

    CPC classification number: G01M3/38 ,  G01M3/202 ,  G01N21/05 ,  G01N21/27 ,  G01N21/39 ,  G01N33/0036 ,  G01N33/004 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12 ,  Y02A50/243 ,  Y02A50/244

    Abstract: In one embodiment, a CO 2 leak detection instrument detects leaks from a site (e.g., a CO 2 sequestration facility) using rapid concentration measurements of CO 2 , O 2 and optionally water concentration that are achieved, for example, using laser spectroscopy (e.g. direct absorption laser spectroscopy) . Water vapor in the sample gas may not be removed, or only partially removed. The sample gas may be collected using a multiplexed inlet assembly from a plurality of locations. CO 2 and O 2 concentrations may be corrected based on the water concentration. A resulting dataset of the CO 2 and O 2 concentrations is analyzed over time intervals to detect any changes in CO 2 concentration that are not anti-correlated with O 2 concentration, and to identify a potential CO 2 leak in response thereto. The analysis may include determining eddy covariance flux measurements of sub-surface potential carbon.

    Abstract translation: 在一个实施例中，CO 2泄漏检测仪器利用例如使用激光光谱法（例如，直接吸收激光光谱仪（例如，直接吸收激光光谱仪））获得的CO 2，O 2和任选的水浓度的快速浓度测量来检测来自现场（例如CO 2封存设施） ）。 样气中的水蒸气可能不会被去除，或者只被部分去除。 样气可以使用来自多个位置的多路复用入口组件来收集。 CO2和O2浓度可根据水的浓度进行校正。 根据时间间隔分析所产生的CO 2和O 2浓度数据集，以检测与O 2浓度不反相关的CO 2浓度的任何变化，并识别响应于此的潜在CO 2泄漏。 该分析可以包括确定表面下潜在碳的涡流协方差通量测量。

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