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公开(公告)号:JP6204190B2
公开(公告)日:2017-09-27
申请号:JP2013505178
申请日:2011-04-15
发明人: ビンセント・リンダー , デイビッド・スタインミラー , ジェイソン・テイラー
CPC分类号: B01L3/502715 , B01L3/5027 , B01L3/50273 , B01L3/502738 , B01L3/502746 , G01N21/05 , G01N21/59 , G01N21/64 , G01N21/76 , G01N33/54313 , G01N33/54366 , G01N33/57434 , B01L2200/025 , B01L2200/026 , B01L2200/027 , B01L2200/028 , B01L2200/0673 , B01L2200/0684 , B01L2200/143 , B01L2200/146 , B01L2200/147 , B01L2300/021 , B01L2300/023 , B01L2300/027 , B01L2300/04 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0867 , B01L2300/12 , B01L2300/14 , B01L2300/16 , B01L2300/168 , B01L2300/1827 , B01L2300/1894 , B01L2400/0475 , B01L2400/049 , B01L2400/0666 , B01L2400/082 , B01L7/52 , G01N2201/02 , G01N2201/0612 , G01N2201/062 , G01N2201/0621 , G01N2201/0697 , G01N2333/96433 , Y10T137/0324 , Y10T436/12
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公开(公告)号:JP6158795B2
公开(公告)日:2017-07-05
申请号:JP2014515906
申请日:2012-06-11
申请人: ケーエルエー−テンカー コーポレイション
IPC分类号: G01N21/956 , H01L21/66 , H01S3/00 , G01N21/84
CPC分类号: H01S3/0057 , G01N21/21 , G01N21/9501 , G02B27/281 , G02B27/283 , G02B27/286 , G02B5/0816 , G02B5/3083 , H01S3/083 , G01N2201/06113 , G01N2201/0683 , G01N2201/0697
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公开(公告)号:JP2017116555A
公开(公告)日:2017-06-29
申请号:JP2017030675
申请日:2017-02-22
申请人: シンギュレックス・インコーポレイテッド , Singulex Inc
发明人: RICHARD A LIVINGSTON
IPC分类号: G01N21/64
CPC分类号: G01N21/6428 , B01L3/5085 , B01L2300/0654 , B01L2300/0829 , G01N15/14 , G01N15/1434 , G01N15/1456 , G01N15/1463 , G01N21/00 , G01N21/01 , G01N21/64 , G01N21/645 , G01N33/53 , G01N2015/0038 , G01N2015/1447 , G01N2015/1452 , G01N2201/02 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/0697
摘要: 【課題】生物医学研究、医学的診断、予後診断、モニタリングおよび処置の選択、バイオテロの検出などの分野において、試料中の粒子を低濃度で高感度検出できる試料分析システムを提供する。【解決手段】単一分子分析器であって、(a)試料を含む試料容器に電磁放射線を与えるための電磁放射線源110;(b)電磁放射線源110からの電磁放射線126を、試料中の測定領域に向けるためのシステム;(c)測定領域を試料の少なくとも一部を通って移動させ、それによって可動測定領域を形成するための移動システム;および(d)分子が存在する場合に、測定領域における単一分子から放射される電磁放射線126を検出するための検出器184であって、検出器184が操作可能であるように測定領域に接続され、単一分子は、閾値レベルより大きい光子のビンにおける計数によって検出される、検出器184を含む。【選択図】図1A
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公开(公告)号:JPWO2015162921A1
公开(公告)日:2017-04-13
申请号:JP2016514721
申请日:2015-04-22
申请人: 株式会社ニコン
CPC分类号: G01N21/6458 , G01N21/6428 , G01N2021/6439 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697 , G01N2201/12 , G02B21/0032 , G02B21/0056 , G02B21/0072 , G02B21/06 , G02B21/16 , G02B21/36 , G02B21/367
摘要: 空間周波数Kの正弦波状照度分布を有し、かつ蛍光物質を励起準位へ移行させるための光周波数ω1を有した励起光で蛍光試料を空間変調する第1空間変調部と、空間周波数Kの正弦波状照度分布を有し、かつ励起中の前記蛍光物質を基底準位へ移行させるための光周波数ω2を有した誘導光で前記蛍光試料を空間変調する第2空間変調部と、前記励起光と前記誘導光とに応じて前記蛍光試料で発生する自然放出光による前記蛍光試料の画像を、変調画像として取得する撮像部とを備える。
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公开(公告)号:JP2017058352A
公开(公告)日:2017-03-23
申请号:JP2015186070
申请日:2015-09-18
申请人: シスメックス株式会社
CPC分类号: G01N15/147 , G01N15/1434 , G01N15/1436 , G01N15/1475 , G01N21/05 , G01N21/6428 , G01N21/6456 , G01N2015/0065 , G01N2015/1006 , G01N2015/1445 , G01N2015/1472 , G01N2021/6439 , G01N2201/0612 , G01N2201/0697 , G01N2201/12
摘要: 【課題】高精度な画像を撮像できる粒子撮像装置および粒子撮像方法を提供する。 【解決手段】粒子撮像装置10は、粒子を含む試料を流すためのフローセル40と、光源20と、光源20から出射された光から、フローセル40に対しライトシート11を形成するための照射光学系30と、粒子から生じた光を集光するための集光光学系50と、集光光学系50により集光された光を受光するための撮像素子60と、を備える。ライトシート11のシート面は、光源20から出射された光が入射するフローセル40の外側面40aに対して垂直である。また、ライトシート11のシート面は、試料の流れ方向に対して垂直ではなく所定の角度で傾いている。 【選択図】図1
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公开(公告)号:JP6100229B2
公开(公告)日:2017-03-22
申请号:JP2014245762
申请日:2014-12-04
申请人: シンギュレックス・インコーポレイテッド ,
发明人: リチャード・エイ・リビングストン
IPC分类号: G01N21/64
CPC分类号: G01N21/6428 , B01L3/5085 , G01N15/14 , G01N15/1434 , G01N15/1456 , G01N15/1463 , G01N21/00 , G01N21/01 , G01N21/64 , G01N21/645 , G01N33/53 , B01L2300/0654 , B01L2300/0829 , G01N2015/0038 , G01N2015/1447 , G01N2015/1452 , G01N2201/02 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/0697
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公开(公告)号:JPWO2014156670A1
公开(公告)日:2017-02-16
申请号:JP2015508278
申请日:2014-03-13
申请人: 株式会社村田製作所
IPC分类号: G01N21/01 , G01N21/3586
CPC分类号: G01N21/3586 , G01N21/01 , G01N2201/02 , G01N2201/06113 , G01N2201/068 , G01N2201/0697 , G01N2201/12
摘要: 被測定物が保持された空隙配置構造体に電磁波を照射して、前記空隙配置構造体で散乱された電磁波の特性を検出することにより、前記被測定物の有無または量を測定するための空隙配置構造体であって、互いに対向する一対の主面と、該一対の主面を貫通するように形成された複数の空隙部とを有し、所定の間隔で整列配置された少なくとも2つの前記空隙部を有する同一形状の単位構造体が、前記主面の方向に2次元的かつ周期的に複数連結されてなる空隙配置構造体であり、前記単位構造体は、第1の空隙部と、該第1の空隙部とは異なる形状を有する第2の空隙部とを含み、かつ、前記主面を平面視したときの前記単位構造体の全体形状が、前記空隙配置構造体の主面と直交する所定の仮想面に対して鏡映対称とならない形状であることを特徴とする、空隙配置構造体。
摘要翻译: 通过照射的电磁波,以在其上测量的目的是通过检测由所述空隙配置结构散射的电磁波的特性保持,空隙地设置的结构中,用于测量物体的存在或量的间隙要被测量 配置结构,彼此面对的一对主表面,以及多个形成为贯穿一对主面的空隙中,至少两个对准的布置的以预定间隔 具有间隙部分的相同形状的单元结构是二维和周期性空隙地设置的结构,其包括多个连接在所述主表面的方向上,该单元结构,第一间隙部分, 和具有形状与所述第一间隙部分不同的第二间隙部分,和在俯视单元结构的整体形状查看主表面,空隙排列结构的主面 该形状不会成为镜像对称相对于一预定的虚拟平面垂直 症状,空隙布置结构。
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公开(公告)号:JP6081380B2
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:JP2013558740
申请日:2013-02-14
申请人: オリンパス株式会社
IPC分类号: G02B21/36
CPC分类号: G01N21/17 , G01J1/44 , G02B21/002 , G02B21/0084 , G02B21/16 , G02B23/24 , G01J2001/4242 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697
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公开(公告)号:JP6075963B2
公开(公告)日:2017-02-08
申请号:JP2012068686
申请日:2012-03-26
申请人: オリンパス株式会社
IPC分类号: G01N21/64
CPC分类号: G02B21/0076 , A61B6/037 , A61B6/0478 , A61B6/501 , G01N21/6458 , G01T1/2985 , G01N2021/6421 , G01N2021/6471 , G01N2201/068 , G01N2201/0697
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公开(公告)号:JP2017026665A
公开(公告)日:2017-02-02
申请号:JP2015141964
申请日:2015-07-16
申请人: オリンパス株式会社
IPC分类号: G02B21/00
CPC分类号: G02B21/367 , G01N21/41 , G02B21/02 , G02B21/24 , G06T11/206 , G06T11/60 , G01N2201/06113 , G01N2201/0638 , G01N2201/0697 , G01N2201/12
摘要: 【課題】サンプル内の任意の部位の屈折率を算出する技術を提供する。 【解決手段】顕微鏡システム1は、顕微鏡装置と、演算装置20を備える。顕微鏡装置は、対物レンズ110と、球面収差を補正する補正環111を有する。演算装置20は、複数の設定目標値に基づいて、サンプルS内の注目位置におけるサンプルSの屈折率を算出する。複数の設定目標値の各々は、観察対象面が対物レンズ110の光軸方向に異なるサンプルS内の位置にあるときに顕微鏡装置で発生した球面収差量に対応する補正環111の設定値である。 【選択図】図1
摘要翻译: 到用于计算样品中的任何位点的折射率的技术。 一种显微镜系统1包括显微镜装置,算术单元20。 显微镜装置包括:物镜110,校正环111以校正球面像差。 计算单元20中,基于多个设定的目标值,计算出试样S的折射率在感兴趣的样品S.中的位置 每多个设定目标值的是目标观测表面对应于在位置时的物镜110的光轴的不同取样s由显微镜装置产生的球面像差的量的校正环111的设定值 。 点域1
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