空隙配置構造体およびそれを用いた測定方法
    77.
    发明专利
    空隙配置構造体およびそれを用いた測定方法 有权
    空隙设置的结构及测量方法使用相同的

    公开(公告)号:JPWO2014156670A1

    公开(公告)日:2017-02-16

    申请号:JP2015508278

    申请日:2014-03-13

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/3586

    摘要: 被測定物が保持された空隙配置構造体に電磁波を照射して、前記空隙配置構造体で散乱された電磁波の特性を検出することにより、前記被測定物の有無または量を測定するための空隙配置構造体であって、互いに対向する一対の主面と、該一対の主面を貫通するように形成された複数の空隙部とを有し、所定の間隔で整列配置された少なくとも2つの前記空隙部を有する同一形状の単位構造体が、前記主面の方向に2次元的かつ周期的に複数連結されてなる空隙配置構造体であり、前記単位構造体は、第1の空隙部と、該第1の空隙部とは異なる形状を有する第2の空隙部とを含み、かつ、前記主面を平面視したときの前記単位構造体の全体形状が、前記空隙配置構造体の主面と直交する所定の仮想面に対して鏡映対称とならない形状であることを特徴とする、空隙配置構造体。

    摘要翻译: 通过照射的电磁波,以在其上测量的目的是通过检测由所述空隙配置结构散射的电磁波的特性保持,空隙地设置的结构中,用于测量物体的存在或量的间隙要被测量 配置结构,彼此面对的一对主表面,以及多个形成为贯穿一对主面的空隙中,至少两个对准的布置的以预定间隔 具有间隙部分的相同形状的单元结构是二维和周期性空隙地设置的结构,其包括多个连接在所述主表面的方向上,该单元结构,第一间隙部分, 和具有形状与所述第一间隙部分不同的第二间隙部分,和在俯视单元结构的整体形状查看主表面,空隙排列结构的主面 该形状不会成为镜像对称相对于一预定的虚拟平面垂直 症状,空隙布置结构。

    顕微鏡システム、屈折率算出方法、及び、プログラム
    80.
    发明专利
    顕微鏡システム、屈折率算出方法、及び、プログラム 审中-公开
    显微镜系统,折射率的计算方法,以及程序

    公开(公告)号:JP2017026665A

    公开(公告)日:2017-02-02

    申请号:JP2015141964

    申请日:2015-07-16

    IPC分类号: G02B21/00

    摘要: 【課題】サンプル内の任意の部位の屈折率を算出する技術を提供する。 【解決手段】顕微鏡システム1は、顕微鏡装置と、演算装置20を備える。顕微鏡装置は、対物レンズ110と、球面収差を補正する補正環111を有する。演算装置20は、複数の設定目標値に基づいて、サンプルS内の注目位置におけるサンプルSの屈折率を算出する。複数の設定目標値の各々は、観察対象面が対物レンズ110の光軸方向に異なるサンプルS内の位置にあるときに顕微鏡装置で発生した球面収差量に対応する補正環111の設定値である。 【選択図】図1

    摘要翻译: 到用于计算样品中的任何位点的折射率的技术。 一种显微镜系统1包括显微镜装置,算术单元20。 显微镜装置包括:物镜110,校正环111以校正球面像差。 计算单元20中,基于多个设定的目标值,计算出试样S的折射率在感兴趣的样品S.中的位置 每多个设定目标值的是目标观测表面对应于在位置时的物镜110的光轴的不同取样s由显微镜装置产生的球面像差的量的校正环111的设定值 。 点域1