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    集積回路のセキュアなデバッグの可能化
    5.
    发明专利
    集積回路のセキュアなデバッグの可能化 有权
    使集成电路的安全调试

    公开(公告)号：JP2016535906A

    公开(公告)日：2016-11-17

    申请号：JP2016539449

    申请日：2014-08-06

    申请人： テレフオンアクチーボラゲット エルエム エリクソン(パブル) ,  テレフオンアクチーボラゲット エルエム エリクソン(パブル)

    发明人： スヴェンソン、ペータル

    IPC分类号： G06F21/62 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3185 ,  G06F11/22 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

    CPC分类号： F16K25/04 ,  B01J8/0015 ,  B01J2208/00548 ,  B01J2208/00787 ,  F16K3/02 ,  F16K27/044 ,  G01R31/31719 ,  G01R31/318588

    摘要： 本開示の発明は、テスト動作モード及びセキュアミッション動作モードを有する集積回路(300)のセキュアなデバッグを可能にする。当該集積回路は、処理ユニット(340)と、テスト動作モードを制御可能にするテストインタフェース(312)と、テスト動作モードにおいて及びセキュアミッション動作モードにおいてアクセス可能なオンチップメモリ(350)と、テスト動作モードにおいてアクセス不能な1つ以上の保護されるリソース(360、364、370)とを有する。処理ユニットは、テスト動作モードにおいて、テストインタフェースを通じて認証オブジェクト(401)を受信し(401)、受信される認証オブジェクトをオンチップメモリ内に記憶する(401)ように構成される。処理ユニットは、セキュアミッション動作モードへのリセット後に、ブート手続(362)を実行して、認証オブジェクトがオンチップメモリ内で利用可能であることを判定(501)し、認証オブジェクトを認証(502)し、成功裏の認証の後に、より多くの保護されるリソースを、集積回路の外部のデバッグホスト(310)にとってアクセス可能にする(503a、503b)ように、さらに構成される。【選択図】図5

    摘要翻译： 本公开的发明允许安全调试具有测试操作模式和安全传输操作模式的集成电路（300）。 该集成电路包括一个处理单元（340），所述测试接口（312），其允许控制所述测试操作模式，并且可以在试运行模式和安全传输的操作模式（350），测试操作访问片上存储器 和资源（360364370）要保护的模式无法访问一个或多个。 处理单元，在试运行模式，接收通过测试接口（401）的认证对象（401），存储被作为配置的片外存储器（401）接收到的认证对象。 处理单元，所述安全传输操作模式的复位后，执行引导过程（362），确定（501）认证对象是可用的片上存储器，认证所述认证对象（502） 并且，在成功认证之后，那些更保护的资源，要对集成电路（310）（503A，503B），其进一步被配置的外部调试主机访问。 点域5