여기서, R 1 ~R 13 은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 치환기를 나타내고, R 1 ~R 13 중 적어도 하나는 알코올성 히드록실기를 함유하는 치환기를 나타내도록 제공되고; Z는 단일 결합 또는 2가 연결기를 나타내고; X - 는 프로톤 억셉터 관능기를 함유하는 음이온을 나타낸다. 신규 술포늄 화합물을 함유하는 레지스트 조성물, 레지스트 조성물을 이용한 패턴 형성 방법, 신규 술포늄 화합물
摘要:
본 발명은 (a) 화학 증폭형 레지스트 조성물로 막을 형성하는 공정, (b) 상기 막을 광에 노광하는 공정, (c) 상기 노광된 막을 유기 용제를 포함하는 현상액을 사용해서 현상하는 공정, 및 (d) 상기 현상된 막을 유기 용제를 포함하고 현상액의 비중보다 큰 비중을 갖는 린스액을 사용해서 린싱하는 것을 포함하는 패턴형성방법이다.
摘要:
에칭 내성 및 후노광 지연(PED) 시간 시 안정성이 우수한 감활성광선성 또는 감방사선성 수지 조성물 및 그것을 사용한 패턴형성방법을 제공한다. 상기 조성물은 산의 작용시 분해되어 알콜성 히드록실기를 생성하는 기를 포함하는 반복단위를 포함하는 수지와, 활성광선 또는 방사선에 노광시 pKa≥-1.5의 산을 발생하는 화합물을 포함한다.
摘要:
(i) 화학증폭형 레지스트 조성물로 막을 형성하는 공정; (ii) 상기 막을 노광하는 공정; 및 (iii) 유기용제를 포함하는 현상액을 사용해서 상기 노광막을 현상하는 공정을 포함하는 패턴형성방법으로서, 상기 화학증폭형 레지스트 조성물은 (A) 수지, (B) 활성광선 또는 방사선의 조사시 특정 산을 발생할 수 있는 화합물, (C) 가교제, 및 (D) 용제를 포함하는 패턴형성방법.
摘要:
(A) 하기 일반식(1)으로 표시되는 산분해성 반복단위를 갖고 산의 작용에 의해 네가티브 현상액에서의 용해도가 감소할 수 있는 수지를 포함하는 네거티브톤 현상용 레지스트 조성물을 제공한다.
일반식(1) 중, Xa 1 은 수소 원자, 알킬기, 시아노기 또는 할로겐 원자를 나타내고, Ry 1 ~Ry 3 은 각각 독립적으로 알킬기 또는 시클로알킬기를 나타내고, Ry 1 ~Ry 3 중 2개 이상이 서로 결합해서 환 구조를 형성해도 좋고, Z는 2가의 연결기를 나타낸다.
摘要:
A resist composition containing a sulfonium compound, a method for forming a pattern by using the composition, and a novel sulfonium compound used in the composition are provided to improve sensitivity, resolution, roughness and exposure latitude. A resist composition comprises a sulfonium compound represented by the formula I, wherein R1 to R13 are independently H or a substituent, but at least one of them is a substituent containing an alcoholic hydroxyl group; Z is a single bond or a divalent connecting group; and X- is an anion containing a proton acceptor functional group.