半導體裝置結構
    11.
    发明专利
    半導體裝置結構 审中-公开
    半导体设备结构

    公开(公告)号:TW201830579A

    公开(公告)日:2018-08-16

    申请号:TW106119613

    申请日:2017-06-13

    Abstract: 本發明實施例提供半導體裝置結構與其形成方法。半導體裝置結構包含介電層。半導體裝置結構亦包含閘極堆疊結構於介電層中。半導體裝置結構更包含半導體線,且閘極堆疊結構圍繞部份的半導體線。此外,半導體裝置結構包含接點電極於介電層中,且接點電極電性連接至半導體線。接點電極與閘極堆疊結構自半導體線朝相反方向延伸。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明实施例提供半导体设备结构与其形成方法。半导体设备结构包含介电层。半导体设备结构亦包含闸极堆栈结构于介电层中。半导体设备结构更包含半导体线,且闸极堆栈结构围绕部份的半导体线。此外,半导体设备结构包含接点电极于介电层中,且接点电极电性连接至半导体线。接点电极与闸极堆栈结构自半导体线朝相反方向延伸。

    產生積體電路佈局圖的方法
    14.
    发明专利
    產生積體電路佈局圖的方法 审中-公开
    产生集成电路布局图的方法

    公开(公告)号:TW202018867A

    公开(公告)日:2020-05-16

    申请号:TW108137929

    申请日:2019-10-21

    Abstract: 一種產生積體電路佈局圖的方法,包括在第一列中佈置具有第一單元高度的第一單元及在鄰接第一列的第二列中佈置具有高度小於第一單元高度之第二單元高度的第二單元。第一列及第二列沿第一方向延伸及相對於佈線網格佈置,佈線網格包括沿第一方向的第一佈線軌跡及沿垂直於第一方向之第二方向的第二佈線軌跡。在沿第二佈線軌跡延伸的每個第一單元內放置第一單元引腳。在每個第二單元中的選定通孔佈局點上方放置第二單元引腳。至少一個第二單元引腳沿相應第二佈線軌跡延伸跨過相應第二單元的邊界且延伸至鄰接相應第二單元的相應第一單元中。

    Abstract in simplified Chinese: 一种产生集成电路布局图的方法,包括在第一列中布置具有第一单元高度的第一单元及在邻接第一列的第二列中布置具有高度小于第一单元高度之第二单元高度的第二单元。第一列及第二列沿第一方向延伸及相对于布线网格布置,布线网格包括沿第一方向的第一布线轨迹及沿垂直于第一方向之第二方向的第二布线轨迹。在沿第二布线轨迹延伸的每个第一单元内放置第一单元引脚。在每个第二单元中的选定通孔布局点上方放置第二单元引脚。至少一个第二单元引脚沿相应第二布线轨迹延伸跨过相应第二单元的边界且延伸至邻接相应第二单元的相应第一单元中。

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