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公开(公告)号:TWI416869B
公开(公告)日:2013-11-21
申请号:TW099100505
申请日:2010-01-11
发明人: 吉凌瀚 彼得B , GILLINGHAM, PETER B.
IPC分类号: H03H11/24
CPC分类号: H03K3/012 , H01L2924/0002 , H03K19/0005 , H03K19/00361 , H04L25/0278 , H01L2924/00
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公开(公告)号:TW201346914A
公开(公告)日:2013-11-16
申请号:TW102119228
申请日:2009-06-29
发明人: 金金吉 , KIM, JIN-KI , 派翠 威廉 , PETRIE, WILLIAM
IPC分类号: G11C16/10
CPC分类号: G11C16/10 , G11C7/1006 , G11C11/5628 , G11C11/5642 , G11C16/26 , G11C29/00 , G11C2211/5646 , G11C2211/5647
摘要: 一種多重位元格(Multiple-bit per Cell、MBC)非揮發記憶體裝置、方法、及系統,其中用於寫入資料至記憶體陣列/自記憶體陣列讀取資料的控制器藉由以下方式控制資料極性:選擇性反轉資料字以最大化將在(M-1)虛擬頁內程式化的位元數,及選擇性反轉資料字以最小化將在第M虛擬頁中程式化的位元數,其中M是每記憶體格中的位元數。在反轉資料字時設定對應的極性控制旗標。在從M個虛擬頁讀取時,根據對應的極性旗標選擇性反轉資料。減少最高臨限電壓程式化狀態的數目。這使得程式化記憶體格臨限電壓分布更緊密、減少功率消耗、減少程式化時間、及提高元件可靠性。
简体摘要: 一种多重比特格(Multiple-bit per Cell、MBC)非挥发内存设备、方法、及系统,其中用于写入数据至内存数组/自内存数组读取数据的控制器借由以下方式控制数据极性:选择性反转数据字以最大化将在(M-1)虚拟页内进程化的比特数,及选择性反转数据字以最小化将在第M虚拟页中进程化的比特数,其中M是每内存格中的比特数。在反转数据字时设置对应的极性控制旗标。在从M个虚拟页读取时,根据对应的极性旗标选择性反转数据。减少最高临限电压进程化状态的数目。这使得进程化内存格临限电压分布更紧密、减少功率消耗、减少进程化时间、及提高组件可靠性。
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3.在堆疊的積體電路中使用斷開的穿矽介層 USING INTERRUPTED THROUGH-SILICON-VIAS IN INTEGRATED CIRCUITS ADAPTED FOR STACKING 失效
简体标题: 在堆栈的集成电路中使用断开的穿硅介层 USING INTERRUPTED THROUGH-SILICON-VIAS IN INTEGRATED CIRCUITS ADAPTED FOR STACKING公开(公告)号:TW201126673A
公开(公告)日:2011-08-01
申请号:TW099128089
申请日:2010-08-23
申请人: 莫斯艾得科技有限公司
发明人: 吉凌瀚 彼得B
IPC分类号: H01L
CPC分类号: H01L25/0657 , G11C5/02 , G11C5/06 , H01L21/02697 , H01L21/82 , H01L23/481 , H01L23/5286 , H01L23/544 , H01L24/03 , H01L24/16 , H01L2223/54433 , H01L2223/5444 , H01L2224/0401 , H01L2224/06181 , H01L2225/06513 , H01L2225/0652 , H01L2225/06527 , H01L2225/06541 , H01L2225/06548 , H01L2225/06562 , H01L2924/01055 , H01L2924/01078 , H01L2924/14 , H03K17/00 , H01L2924/00
摘要: 在用於互連積體電路堆疊中的積體電路(IC)中,除了連續穿矽介層(TSVs),還提供斷開的穿矽介層。斷開的穿矽介層提供除了在堆疊的積體電路間常見並行路徑之訊號路徑。如此容許利用穿矽介層實施積體電路識別方案及其他功能,而不需要堆疊中交替積體電路之角旋轉。
简体摘要: 在用于互连集成电路堆栈中的集成电路(IC)中,除了连续穿硅介层(TSVs),还提供断开的穿硅介层。断开的穿硅介层提供除了在堆栈的集成电路间常见并行路径之信号路径。如此容许利用穿硅介层实施集成电路识别方案及其他功能,而不需要堆栈中交替集成电路之角旋转。
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公开(公告)号:TWI443658B
公开(公告)日:2014-07-01
申请号:TW098143317
申请日:2009-12-17
发明人: 片 洪凡 , PYEON, HONG-BEOM
IPC分类号: G11C11/406 , G11C11/4094
CPC分类号: G11C11/412 , G11C7/1006 , G11C7/1009 , G11C7/20 , G11C8/08 , G11C8/10 , G11C16/08 , G11C16/10 , G11C2216/14
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公开(公告)号:TW201423937A
公开(公告)日:2014-06-16
申请号:TW103105621
申请日:2010-08-23
发明人: 吉凌瀚 彼得B , GILLINGHAM, PETER B.
IPC分类号: H01L23/488 , H01L23/52 , H01L21/70
CPC分类号: H01L25/0657 , G11C5/02 , G11C5/06 , H01L21/02697 , H01L21/82 , H01L23/481 , H01L23/5286 , H01L23/544 , H01L24/03 , H01L24/16 , H01L2223/54433 , H01L2223/5444 , H01L2224/0401 , H01L2224/06181 , H01L2225/06513 , H01L2225/0652 , H01L2225/06527 , H01L2225/06541 , H01L2225/06548 , H01L2225/06562 , H01L2924/01055 , H01L2924/01078 , H01L2924/14 , H03K17/00 , H01L2924/00
摘要: 在用於互連積體電路堆疊中的積體電路(IC)中,除了連續穿矽介層(TSVs),還提供斷開的穿矽介層。斷開的穿矽介層提供除了在堆疊的積體電路間常見並行路徑之訊號路徑。如此容許利用穿矽介層實施積體電路識別方案及其他功能,而不需要堆疊中交替積體電路之角旋轉。
简体摘要: 在用于互连集成电路堆栈中的集成电路(IC)中,除了连续穿硅介层(TSVs),还提供断开的穿硅介层。断开的穿硅介层提供除了在堆栈的集成电路间常见并行路径之信号路径。如此容许利用穿硅介层实施集成电路识别方案及其他功能,而不需要堆栈中交替集成电路之角旋转。
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公开(公告)号:TWI390192B
公开(公告)日:2013-03-21
申请号:TW097141907
申请日:2008-10-30
发明人: 陳宗仁 , CHEN, CHUNG ZEN
IPC分类号: G01K7/32
CPC分类号: G11C7/04 , G11C11/406 , G11C11/40626 , G11C11/4074 , G11C2211/4068
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7.具有熱釘架之多晶片封裝與組裝方法 MULTI-CHIP PACKAGE WITH THERMAL FRAME AND METHOD OF ASSEMBLING 审中-公开
简体标题: 具有热钉架之多芯片封装与组装方法 MULTI-CHIP PACKAGE WITH THERMAL FRAME AND METHOD OF ASSEMBLING公开(公告)号:TW201205738A
公开(公告)日:2012-02-01
申请号:TW100113667
申请日:2011-04-20
申请人: 莫斯艾得科技有限公司
发明人: 舒茲 羅蘭
IPC分类号: H01L
CPC分类号: H01L23/367 , H01L24/48 , H01L25/0657 , H01L2224/32145 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2225/0651 , H01L2225/06562 , H01L2225/06589 , H01L2924/00014 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/00 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
摘要: 本發明揭示一種半導體裝置,其包括一基板具有複數個基板接合墊布置在其一接合表面上。複數個半導體晶粒係堆疊在該基板之該接合表面上以形成一晶粒堆疊。每個晶粒具有複數個晶粒接合墊沿著其至少一個接合邊緣配置。每個晶粒的其餘邊緣為非接合邊緣。複數個接合引線各自將該等晶粒接合墊之一者電連接至該等基板接合墊之一者。至少一個導熱層布置在兩個相鄰的半導體晶粒之間。至少一個導熱側向部分與至少一層導熱材料熱接觸。每個導熱側向部分沿著該晶粒堆疊之一非接合邊緣配置。
简体摘要: 本发明揭示一种半导体设备,其包括一基板具有复数个基板接合垫布置在其一接合表面上。复数个半导体晶粒系堆栈在该基板之该接合表面上以形成一晶粒堆栈。每个晶粒具有复数个晶粒接合垫沿着其至少一个接合边缘配置。每个晶粒的其余边缘为非接合边缘。复数个接合引线各自将该等晶粒接合垫之一者电连接至该等基板接合垫之一者。至少一个导热层布置在两个相邻的半导体晶粒之间。至少一个导热侧向部分与至少一层导热材料热接触。每个导热侧向部分沿着该晶粒堆栈之一非接合边缘配置。
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公开(公告)号:TWI381388B
公开(公告)日:2013-01-01
申请号:TW098102467
申请日:2009-01-22
发明人: 片洪凡 , PYEON, HONG BEOM , 金金吉 , KIM, JIN-KI
IPC分类号: G11C16/30
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9.具有柱連結的多晶片封裝 MULTI-CHIP PACKAGE WITH PILLAR CONNECTION 审中-公开
简体标题: 具有柱链接的多芯片封装 MULTI-CHIP PACKAGE WITH PILLAR CONNECTION公开(公告)号:TW201205760A
公开(公告)日:2012-02-01
申请号:TW100113345
申请日:2011-04-18
申请人: 莫斯艾得科技有限公司
发明人: 舒茲 羅蘭
IPC分类号: H01L
CPC分类号: H01L25/50 , H01L21/4853 , H01L23/49811 , H01L24/05 , H01L24/16 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/73 , H01L24/81 , H01L24/92 , H01L25/0657 , H01L2224/0401 , H01L2224/04042 , H01L2224/05554 , H01L2224/05556 , H01L2224/16105 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/49175 , H01L2224/73207 , H01L2224/73265 , H01L2224/8114 , H01L2224/81192 , H01L2224/81193 , H01L2224/81194 , H01L2224/92127 , H01L2225/0651 , H01L2225/06517 , H01L2225/06551 , H01L2225/06562 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01079 , H01L2924/014 , H01L2924/12042 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
摘要: 本發明揭示一種半導體裝置,其具有:一基板,其具有布置在其一接合表面上的第一複數個基板接合墊。複數個半導體晶粒係布置在該基板上。該複數個晶粒的每個晶粒具有沿著其至少一個第一邊緣配置的第一複數個晶粒接合墊。複數個接合柱從該等基板接合墊實質上垂直地延伸。每個接合柱將該第一複數個基板接合墊之一者電連接至該第一複數個晶粒接合墊之一對應者。本發明亦揭示一種組裝一半導體裝置的方法。
简体摘要: 本发明揭示一种半导体设备,其具有:一基板,其具有布置在其一接合表面上的第一复数个基板接合垫。复数个半导体晶粒系布置在该基板上。该复数个晶粒的每个晶粒具有沿着其至少一个第一边缘配置的第一复数个晶粒接合垫。复数个接合柱从该等基板接合垫实质上垂直地延伸。每个接合柱将该第一复数个基板接合垫之一者电连接至该第一复数个晶粒接合垫之一对应者。本发明亦揭示一种组装一半导体设备的方法。
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10.在堆疊多晶片封裝中穿矽介層之重組態 RECONFIGURING THROUGH SILICON VIAS IN STACKED MULTI-DIE PACKAGES 失效
简体标题: 在堆栈多芯片封装中穿硅介层之重组态 RECONFIGURING THROUGH SILICON VIAS IN STACKED MULTI-DIE PACKAGES公开(公告)号:TW201126682A
公开(公告)日:2011-08-01
申请号:TW099128670
申请日:2010-08-26
申请人: 莫斯艾得科技有限公司
发明人: 舒茲 羅蘭
IPC分类号: H01L
CPC分类号: H01L25/0657 , G11C29/808 , H01L23/481 , H01L25/18 , H01L2225/06513 , H01L2225/06527 , H01L2225/06541 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要: 控制在堆疊多晶粒積體電路封裝中之穿矽介層(TSV),而在封裝於正常任務模式之現場操作時,顯露不同的連接組態。可重新組態穿矽介層連接,而以不同於例如晶粒工廠預設連接之方式,來連接受影響的晶粒。可改變穿矽介層與晶粒原生電路之輸入及/或輸出的連接。晶粒可與互連堆疊中多個晶粒之介面中斷連接,或可將原本與此類介面不連接之晶粒連接到此介面。
简体摘要: 控制在堆栈多晶粒集成电路封装中之穿硅介层(TSV),而在封装于正常任务模式之现场操作时,显露不同的连接组态。可重新组态穿硅介层连接,而以不同于例如晶粒工厂默认连接之方式,来连接受影响的晶粒。可改变穿硅介层与晶粒原生电路之输入及/或输出的连接。晶粒可与互连堆栈中多个晶粒之界面中断连接,或可将原本与此类界面不连接之晶粒连接到此界面。
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