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1.積體電路結構的形成方法 METHOD OF FORMING INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURE 审中-公开
Simplified title: 集成电路结构的形成方法 METHOD OF FORMING INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURE公开(公告)号:TW201137942A
公开(公告)日:2011-11-01
申请号:TW099141867
申请日:2010-12-02
Applicant: 台灣積體電路製造股份有限公司
IPC: H01L
CPC classification number: H01L29/66795 , H01L21/02532 , H01L21/02636 , H01L21/823431 , H01L21/823821 , H01L29/785
Abstract: 積體電路結構的形成方法包含提供晶圓,其包含基底與基底之主要表面上的半導體鰭片,以及進行沈積步驟,在半導體鰭片的上表面與側壁上磊晶生長磊晶層,其中磊晶層包含半導體材料。然後,進行蝕刻步驟,移除一部份的磊晶層,在半導體鰭片的上表面與側壁上留下磊晶層的剩餘部分。
Abstract in simplified Chinese: 集成电路结构的形成方法包含提供晶圆,其包含基底与基底之主要表面上的半导体鳍片,以及进行沉积步骤,在半导体鳍片的上表面与侧壁上磊晶生长磊晶层,其中磊晶层包含半导体材料。然后,进行蚀刻步骤,移除一部份的磊晶层,在半导体鳍片的上表面与侧壁上留下磊晶层的剩余部分。
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公开(公告)号:TWI420573B
公开(公告)日:2013-12-21
申请号:TW099141867
申请日:2010-12-02
Inventor: 蘇建彰 , SU, CHIEN CHANG , 郭紫微 , KWOK, TSZ-MEI , 林憲信 , LIN, HSIEN HSIN , 宋學昌 , SUNG, HSUEH CHANG , 白易芳 , PAI, YI FANG , 陳冠宇 , CHEN, KUAN YU
IPC: H01L21/20 , H01L21/306 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/66795 , H01L21/02532 , H01L21/02636 , H01L21/823431 , H01L21/823821 , H01L29/785
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公开(公告)号:TW201725658A
公开(公告)日:2017-07-16
申请号:TW105131737
申请日:2016-09-30
Inventor: 奧野泰利 , OKUNO, YASUTOSHI , 陳振隆 , CHEN, CHENG LONG , 張孟淳 , CHANG, MENG CHUN , 王菘豊 , WANG, SUNG LI , 白易芳 , PAI, YI FANG , 鬼木悠丞 , ONIKI, YUSUKE
IPC: H01L21/768 , H01L23/535 , H01L29/04 , H01L29/161 , H01L29/165 , H01L29/24 , H01L29/66 , H01L29/78
CPC classification number: H01L29/7848 , H01L21/76805 , H01L21/76895 , H01L21/76897 , H01L23/485 , H01L23/535 , H01L29/045 , H01L29/161 , H01L29/165 , H01L29/24 , H01L29/665 , H01L29/66795 , H01L29/7851
Abstract: 一種形成半導體結構的方法包括以下操作:(i)在基板上形成鰭式結構;(ii)從鰭式結構磊晶生長磊晶結構;(iii)形成圍繞磊晶結構的犧牲結構;(iv)形成覆蓋犧牲結構的介電層;(v)形成穿過介電層的開口以部分地曝露犧牲結構;(vi)移除犧牲結構的一部分以曝露磊晶結構的一部分;以及(vii)形成與磊晶結構的曝露部分接觸的接觸結構。本文亦揭示一種半導體結構。
Abstract in simplified Chinese: 一种形成半导体结构的方法包括以下操作:(i)在基板上形成鳍式结构;(ii)从鳍式结构磊晶生长磊晶结构;(iii)形成围绕磊晶结构的牺牲结构;(iv)形成覆盖牺牲结构的介电层;(v)形成穿过介电层的开口以部分地曝露牺牲结构;(vi)移除牺牲结构的一部分以曝露磊晶结构的一部分;以及(vii)形成与磊晶结构的曝露部分接触的接触结构。本文亦揭示一种半导体结构。
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