公开(公告)号：US06364016B1

公开(公告)日：2002-04-02

申请号：US09697060

申请日：2000-10-26

申请人： Eldon D. Dalrymple ,  Larry S. Eoff ,  Baireddy R. Reddy ,  David L. Brown ,  Paul S. Brown

发明人： Eldon D. Dalrymple ,  Larry S. Eoff ,  Baireddy R. Reddy ,  David L. Brown ,  Paul S. Brown

IPC分类号： E21B4322

CPC分类号： C09K8/508

摘要： Improved methods of treating water and hydrocarbons producing subterranean formations to reduce the water permeabilities of the formations without substantially reducing the hydrocarbons permeabilities thereof are provided. The methods basically comprise introducing into the formation a chemical which does not resist water flow and attaches to adsorption sites on surfaces within the porosity of the formation but slowly washes off the sites as another fluid flows through the treated formation. Thereafter, a water flow resisting polymer is introduced into the formation so that it flows deeply into the porosity of the formation before the previously introduced chemical washes off and attaches to the adsorption sites as the chemical washes off.

摘要翻译： 提供了改进的处理水和生产地下地层的烃的方法，以减少地层的水渗透性，而基本上不降低烃的渗透性。 这些方法基本上包括向地层中引入不能抵抗水流的化学物质，并且附着在地层孔隙中的表面上的吸附位点，但随着另一种流体流过经处理的地层而缓慢地洗出位点。 此后，将水流阻聚性聚合物引入地层，使其在先前引入的化学物质洗掉之前深深地流入地层的孔隙中，并随着化学物质洗脱而附着在吸附位置。

公开(公告)号：US6137570A

公开(公告)日：2000-10-24

申请号：US107391

申请日：1998-06-30

申请人： Yung-Ho Chuang ,  J. Joseph Armstrong ,  David L. Brown ,  Jason Z. Lin ,  Bin-Ming Benjamin Tsai

发明人： Yung-Ho Chuang ,  J. Joseph Armstrong ,  David L. Brown ,  Jason Z. Lin ,  Bin-Ming Benjamin Tsai

IPC分类号： G01B11/30 ,  G01N21/95 ,  G01N21/956 ,  H01L21/66 ,  G01N21/00

CPC分类号： G01N21/9501 ,  G01N21/95607 ,  G01N21/95623 ,  G03F7/7065 ,  G01N21/4788 ,  G01N21/95692

摘要： Disclosed is a method and apparatus for using far field scattered and diffracted light to determine whether a collection of topological features on a surface (e.g., a semiconductor wafer) conforms to an expected condition or quality. This determination is made by comparing the far field diffraction pattern of a surface under consideration with a corresponding diffraction pattern (a "baseline"). If the baseline diffraction pattern and far field diffraction pattern varies by more than a prescribed amount or in characteristic ways, it is inferred that the surface features are defective. The method may be implemented as a die-to-die comparison of far field diffraction patterns of two dies on a semiconductor wafer. The portion of the far field scattered and diffracted light sensitive to a relevant condition or quality can also be reimaged to obtain an improved signal-to-noise ratio.

摘要翻译： 公开了一种使用远场散射和衍射光来确定表面（例如，半导体晶片）上的拓扑特征的集合是否符合预期状态或质量的方法和装置。 通过将考虑的表面的远场衍射图与相应的衍射图案（“基线”）进行比较来进行该确定。 如果基线衍射图案和远场衍射图案变化超过规定量或以特征方式，则推断表面特征是有缺陷的。 该方法可以实现为半导体晶片上的两个管芯的远场衍射图案的管芯与管芯的比较。 对于相关条件或质量敏感的远场散射和衍射光的部分也可以被重新成像以获得改善的信噪比。

公开(公告)号：USD413625S

公开(公告)日：1999-09-07

申请号：US81553

申请日：1998-01-06

申请人： David L. Brown ,  Penelope C. Yao ,  Henry Y. Chin

设计人： David L. Brown ,  Penelope C. Yao ,  Henry Y. Chin

公开(公告)号：USD409235S

公开(公告)日：1999-05-04

申请号：US67479

申请日：1997-03-10

申请人： Henry Y. Chin ,  Penelope C. Yao ,  David L. Brown

设计人： Henry Y. Chin ,  Penelope C. Yao ,  David L. Brown

公开(公告)号：USD408849S

公开(公告)日：1999-04-27

申请号：US81554

申请日：1998-01-06

申请人： Henry Y. Chin ,  Penelope C. Yao ,  David L. Brown

设计人： Henry Y. Chin ,  Penelope C. Yao ,  David L. Brown

公开(公告)号：USD407112S

公开(公告)日：1999-03-23

申请号：US82468

申请日：1998-01-22

申请人： Henry Y. Chin ,  Penelope C. Yao ,  David L. Brown

设计人： Henry Y. Chin ,  Penelope C. Yao ,  David L. Brown

公开(公告)号：USD403351S

公开(公告)日：1998-12-29

申请号：US67475

申请日：1997-03-10

申请人： Penelope C. Yao ,  David L. Brown ,  Henry Y. Chin

设计人： Penelope C. Yao ,  David L. Brown ,  Henry Y. Chin

公开(公告)号：US5633272A

公开(公告)日：1997-05-27

申请号：US473884

申请日：1995-06-07

申请人： John J. Talley ,  David L. Brown ,  Srinivasan Nagarajan ,  Jeffery S. Carter ,  Richard M. Weier ,  Michael A. Stealey ,  Paul W. Collins ,  Roland S. Rogers, deceased ,  Karen Seibert

发明人： John J. Talley ,  David L. Brown ,  Srinivasan Nagarajan ,  Jeffery S. Carter ,  Richard M. Weier ,  Michael A. Stealey ,  Paul W. Collins ,  Roland S. Rogers, deceased ,  Karen Seibert

IPC分类号： A61P29/00 ,  C07D261/08 ,  C07D261/10 ,  C07D261/12 ,  C07D261/18 ,  C07D413/04 ,  C07D261/06 ,  A61K31/42 ,  C07D261/14

CPC分类号： C07D261/10 ,  C07D261/08 ,  C07D261/12 ,  C07D261/18 ,  C07D413/04

摘要： A class of substituted isoxazolyl compounds is described for use in treating inflammation and inflammation-related disorders. Compounds of particular interest are defined by Formula II ##STR1## wherein R.sup.1 is selected from hydroxyl, lower alkyl, carboxyl, lower carboxyalkyl, lower aminocarbonylalkyl, lower alkoxycarbonylalkyl, lower aralkyl, lower alkoxyalkyl, lower aralkoxyalkyl, lower alkylthioalkyl, lower aralkylthioalkyl, lower alkylaminoalkyl, lower aryloxyalkyl, lower arylthioalkyl, lower haloalkyl, lower hydroxylalkyl, cycloalkyl, cycloalkylalkyl, and aralkyl; wherein R.sup.3 is selected from cycloalkyl, cycloalkenyl, aryl, and heteroaryl; wherein R.sup.3 is optionally substituted at a substitutable position with one or more radicals independently selected from lower alkylsulfinyl, lower alkyl, cyano, carboxyl, lower alkoxycarbonyl, lower haloalkyl, hydroxyl, lower hydroxyalkyl, lower haloalkoxy, amino, lower alkylamino, lower arylamino, lower aminoalkyl, nitro, halo, lower alkoxy, aminosulfonyl, and lower alkylthio; and wherein R.sup.4 is selected from lower alkyl, hydroxyl and amino; or a pharmaceutically-acceptable salt thereof.

摘要翻译： 描述了一类用于治疗炎症和炎症相关疾病的取代的异恶唑基化合物。 特别感兴趣的化合物由式II其中R1选自羟基，低级烷基，羧基，低级羧基烷基，低级氨基羰基烷基，低级烷氧基羰基烷基，低级芳烷基，低级烷氧基烷基，低级芳烷氧基烷基，低级烷硫基烷基，低级芳烷硫基烷基，低级 低级芳氧基烷基，低级芳基硫代烷基，低级卤代烷基，低级羟基烷基，环烷基，环烷基烷基和芳烷基; 其中R 3选自环烷基，环烯基，芳基和杂芳基; 其中R 3在可取代的位置任选被一个或多个独立地选自低级烷基亚磺酰基，低级烷基，氰基，羧基，低级烷氧基羰基，低级卤代烷基，羟基，低级羟烷基，低级卤代烷氧基，氨基，低级烷基氨基，低级芳基氨基，低级 氨基烷基，硝基，卤素，低级烷氧基，氨基磺酰基和低级烷硫基; 并且其中R 4选自低级烷基，羟基和氨基; 或其药学上可接受的盐。

公开(公告)号：US5359831A

公开(公告)日：1994-11-01

申请号：US79642

申请日：1993-06-18

申请人： David L. Brown ,  Henry A. Holzwarth

发明人： David L. Brown ,  Henry A. Holzwarth

IPC分类号： A61B17/06 ,  A61B19/02 ,  B65D73/00 ,  B65D75/36 ,  B65B63/04 ,  B65B31/00

CPC分类号： B65D75/36 ,  A61B17/06133 ,  A61B17/06138 ,  B65D73/0092 ,  B65D75/366 ,  A61B2017/06142 ,  A61B2017/06147 ,  A61B2050/3004 ,  B65D2575/365

摘要： A molded suture retainer is provided for retaining and storing sutures. Both absorbable and nonabsorbable sutures fabricated from natural or synthetic materials can be advantageously retained and stored therein. The retainer is characterized by a wide spiraling oval passageway with minimal convolutions covered by a cover sheet. The length of the passageway is preferably proportional to 1/3 to 1/2 the overall length of the suture to be retained therein. Recesses are provided for receiving package stabilizing agents and/or needle parks. Sutures packaged in accordance with the invention exhibit fewer kinks and bends than prior packaged sutures.

摘要翻译： 提供模制缝合线保持器用于保持和存储缝合线。 由天然或合成材料制成的可吸收和不可吸收的缝合线可以有利地保留并存储在其中。 保持器的特征在于具有宽的螺旋形椭圆形通道，具有由盖板覆盖的最小卷积。 通道的长度优选与要保留在其中的缝合线的总长度的1/3至1/2成比例。 提供了用于接收包装稳定剂和/或针园的凹槽。 根据本发明包装的缝合线比现有的包装缝合线显示出较少的扭结和弯曲。

公开(公告)号：US5282533A

公开(公告)日：1994-02-01

申请号：US628567

申请日：1990-12-17

申请人： Henry A. Holzwarth ,  David L. Brown

发明人： Henry A. Holzwarth ,  David L. Brown

IPC分类号： A61B17/06 ,  A61B19/02 ,  B65D69/00

CPC分类号： A61B17/06061 ,  A61B50/20 ,  A61B50/22 ,  A61B17/06138

摘要： A suture display rack and procedure kit is provided which, upon folding, presents a plurality of stacked suture packages for seriatim review. The suture display rack is a substantially U-shaped structure with a floor portion and two opposing sidewall portions. A longitudinal fold line is provided in the floor portion parallel to the planes formed by the side walls such that, upon folding, the side wall portions may be brought into the same horizontal plane to form the base for the suture display rack. The suture packages may be loosely held in the rack or alternatively hinged to a side wall or contained in sheaths for ease of review and removal. The suture display rack may be securely adhered to a desired surface or may be set up in a portable manner.

摘要翻译： 提供了一种缝线展示架和程序套件，其在折叠时呈现多个堆叠的缝合包，用于严格审查。 缝线显示架是具有地板部分和两个相对的侧壁部分的大致U形结构。 纵向折叠线设置在平行于由侧壁形成的平面的地板部分中，使得在折叠时，侧壁部分可以进入相同的水平面以形成用于缝合线显示架的基座。 缝合包装可以松散地保持在架子中或者可选地铰接到侧壁或包含在护套中以便于查看和移除。 缝线显示架可以牢固地粘附到所需的表面上，或者可以以便携式方式设置。