公开(公告)号：US20090310869A1

公开(公告)日：2009-12-17

申请号：US12323955

申请日：2008-11-26

申请人： Frank Thiel ,  Bjorn Popilka ,  Gerrit Kocherscheidt

发明人： Frank Thiel ,  Bjorn Popilka ,  Gerrit Kocherscheidt

IPC分类号： G06K9/46 ,  B29D11/00

CPC分类号： G01B11/2513 ,  G01B2210/52 ,  G06T7/521 ,  G06T7/55 ,  G06T7/73 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/30208

摘要： A system, apparatus, method, and computer program product for evaluating an object disposed on an upper surface of an object holder. At least one first frame representing a captured portion of the object is acquired, while the object holder is positioned at each of multiple locations. At least one second frame representing a captured portion of at least one other surface of the object holder is acquired, while the object holder is positioned at each of the locations. At least one spatial characteristic associated with the captured portion of the object is determined based on at least one of the acquired frames. Values of multiple optical markers captured in each second frame are determined, where at least two of the optical markers have different characteristics. At least one of coordinates associated with the values and an orientation of the captured portion of the at least one other surface are determined.

摘要翻译： 一种用于评估设置在物体保持器的上表面上的物体的系统，装置，方法和计算机程序产品。 获取表示对象的拍摄部分的至少一个第一帧，而对象保持器位于多个位置中的每一个处。 当物体保持器位于每个位置时，获取表示物体保持器的至少一个其他表面的捕获部分的至少一个第二框架。 基于所获取的帧中的至少一个来确定与对象的所捕获的部分相关联的至少一个空间特征。 确定在每个第二帧中捕获的多个光学标记的值，其中至少两个光学标记具有不同的特性。 确定与值的相关联的坐标中的至少一个和至少一个其他表面的所捕获部分的取向。

公开(公告)号：US20060024927A1

公开(公告)日：2006-02-02

申请号：US10899596

申请日：2004-07-27

申请人： Ranadeep Dutta ,  Frank Thiel

发明人： Ranadeep Dutta ,  Frank Thiel

IPC分类号： H01L21/425

CPC分类号： H01L29/66272 ,  H01L21/82285

摘要： The present invention is generally directed to a method of forming a p-well in an integrated circuit device. In one illustrative embodiment, the method comprises forming a first layer of epitaxial material above an active layer of a substrate, forming a first doped region in the first layer of epitaxial material, forming a second layer of epitaxial material above the first layer of epitaxial material, forming a second doped region in the second layer of epitaxial material, and performing at least one heat treating process.

摘要翻译： 本发明一般涉及在集成电路器件中形成p阱的方法。 在一个说明性实施例中，该方法包括在衬底的有源层上方形成外延材料的第一层，在第一外延材料层中形成第一掺杂区，在外延材料的第一层之上形成第二层外延材料 在所述第二外延材料层中形成第二掺杂区，并进行至少一个热处理工艺。

公开(公告)号：US09860520B2

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：US13948665

申请日：2013-07-23

申请人： Daniel Michaeli ,  Frank Thiel

发明人： Daniel Michaeli ,  Frank Thiel

IPC分类号： H04N13/02 ,  H04N9/47 ,  H04N7/18 ,  A62B1/04 ,  A61B5/00 ,  G01B11/245 ,  G01B11/25 ,  A61B1/247 ,  G02B21/00 ,  G02B23/24

CPC分类号： H04N13/289 ,  A61B1/247 ,  A61B5/0068 ,  A61B5/0071 ,  A61B5/0088 ,  G01B11/245 ,  G01B11/25 ,  G02B21/0028 ,  G02B23/2407 ,  G02B23/2415

摘要： A system and apparatus for obtaining images of an object, a method for operating an optical camera system to obtain images of the object, and a computer program that operates in accordance with the method. The system includes an optical system and at least one processing system. The optical system is arranged to capture at least one first image of the object while the optical system operates in an imaging mode, and is also arranged to capture at least one second image of the object while the optical system operates in a diagnostic mode. The at least one processing system is arranged to combine the first and second images.

公开(公告)号：US09456754B2

公开(公告)日：2016-10-04

申请号：US14236517

申请日：2012-08-01

申请人： Gerrit Kocherscheidt ,  Anders Adamson ,  Björn Popilka ,  Frank Thiel

发明人： Gerrit Kocherscheidt ,  Anders Adamson ,  Björn Popilka ,  Frank Thiel

IPC分类号： G06K9/00 ,  A61B5/00 ,  G06T7/00 ,  A61C9/00

CPC分类号： A61B5/0088 ,  A61B5/0064 ,  A61B5/0068 ,  A61C9/0046 ,  A61C9/006 ,  G06T7/0012 ,  G06T7/33 ,  G06T2207/10024 ,  G06T2207/10028 ,  G06T2207/30036

摘要： A method and apparatus for forming an overall image of an object from a plurality of images. Each image includes three-dimensional data and color data and is segmented based on the color data to identify a first region with hard tissue and a second region with soft tissue. For each image, first and second weighting factors may be assigned. Points in the second region with a larger distance to a corresponding proximate part of the first region may have a smaller second weighting factor than a point with a smaller distance to a corresponding proximate part of the first region. The second weighting factor may be variable, with its value dependent upon a value of a first area section corresponding to the first region.

摘要翻译： 一种用于从多个图像形成对象的整体图像的方法和装置。 每个图像包括三维数据和颜色数据，并且基于颜色数据被分割以识别具有硬组织的第一区域和具有软组织的第二区域。 对于每个图像，可以分配第一和第二加权因子。 具有距离第一区域的对应的近似部分的较大距离的第二区域中的点可以具有比具有与第一区域的对应的近似部分更小的距离的点的较小的第二加权因子。 第二加权因子可以是可变的，其值取决于对应于第一区域的第一区域区域的值。

公开(公告)号：US09212898B2

公开(公告)日：2015-12-15

申请号：US14343495

申请日：2012-09-10

申请人： Matus Banyay ,  Frank Thiel

发明人： Matus Banyay ,  Frank Thiel

IPC分类号： G01B11/14 ,  G01B11/02 ,  G02B21/00 ,  G02B27/48 ,  G01B11/06 ,  G01B11/25 ,  A61C9/00 ,  A61C19/04

CPC分类号： G01B11/02 ,  A61C9/0066 ,  A61C19/04 ,  G01B11/0608 ,  G01B11/2513 ,  G02B21/0072 ,  G02B27/48

摘要： The invention relates to a method and a device for three-dimensional measurement of an object. The device includes a laser source for generating an illumination beam, a focusing optics for focusing the illumination beam on at least one measuring point on a surface of the object to be measured, a detector for detecting an observation beam reflected by the surface of the object, a confocal observation optics which allows only the observation beam that is focused on the surface of the object to pass through to the detector. The laser source includes multiple coherent laser elements, the laser elements simultaneously emitting illumination beams that are focused on multiple measuring points on the surface of the object, so that the laser elements are arranged to reduce the speckle effect in the 3D-image data generated by the measurement.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于物体的三维测量的方法和装置。 该装置包括用于产生照明光束的激光源，用于将照明光束聚焦在被测量物体的表面上的至少一个测量点上的聚焦光学元件，用于检测被物体表面反射的观察光束的检测器 ，共聚焦观察光学元件，其仅允许聚焦在物体表面上的观察光束通过检测器。 激光源包括多个相干激光元件，激光元件同时发射聚焦在物体表面上的多个测量点上的照明光束，使得激光元件被布置成减少由3D图像数据产生的3D图像数据中的斑点效应 测量。

公开(公告)号：US20140365140A1

公开(公告)日：2014-12-11

申请号：US14372255

申请日：2013-01-28

申请人： Björn Popilka ,  Volker Wedler ,  Anders Adamson ,  Frank Thiel

发明人： Björn Popilka ,  Volker Wedler ,  Anders Adamson ,  Frank Thiel

IPC分类号： A61B6/00 ,  G06T7/00 ,  G06T19/20

CPC分类号： A61B6/582 ,  A61B5/1077 ,  A61B5/1079 ,  A61B2560/0233 ,  A61C9/006 ,  A61C9/0066 ,  A61C13/34 ,  A61C19/04 ,  G01B21/042 ,  G06T7/80 ,  G06T7/85 ,  G06T19/20 ,  G06T2207/30036 ,  G06T2207/30204 ,  G06T2219/2004 ,  G09B23/283

摘要： The invention relates to a reference object (3) and a method for checking a measuring system (1), wherein a plurality of three-dimensional recordings (4, 8) of a reference object are recorded from different recording directions (5) by means of the measuring system (1). The reference object (3) has a closed shape, wherein each of the three-dimensional recordings (4) is registered with at least the preceding recording (4). In the case of a faulty calibration and/or in the case of a faulty registration, the individual recordings (4, 8) are deformed compared to the actual shape of the reference object (3), so that the deformation continues when assembling the individual three-dimensional recordings (4) to form an overall recording (54) and the generated overall recording (54) deviates in its dimensions from the dimensions of the reference object (3) as a result thereof. At least one object region (10) of the reference object (3) is measured twice, at the beginning of a circuit and at the end of the circuit, wherein a distance (55) is determined in the overall recording (54) between a first position of the object region (10) in a first recording at the beginning of the circuit and a second position of the object region (10) in a second recording at the end of the circuit.

摘要翻译： 本发明涉及一种参考对象（3）和一种用于检查测量系统（1）的方法，其中通过装置从不同的记录方向（5）记录参考对象的多个三维记录（4,8） 的测量系统（1）。 参考对象（3）具有闭合形状，其中每个三维记录（4）至少记录在前一记录（4）上。 在错误校准的情况下和/或在错误配准的情况下，与参考对象（3）的实际形状相比，各个记录（4,8）变形，使得当组装个体时变形继续 三维记录（4）形成整体记录（54），并且所产生的整体记录（54）的尺寸与其参考对象（3）的尺寸偏离。 参考对象（3）的至少一个对象区域（10）被测量两次，在电路的开始处和电路的末端，其中在整个记录（54）中确定距离（55） 物体区域（10）在电路开始处的第一记录中的第一位置和物体区域（10）在电路末端的第二记录中的第二位置。

公开(公告)号：US20140313524A1

公开(公告)日：2014-10-23

申请号：US14343495

申请日：2012-09-10

申请人： Matus Banyay ,  Frank Thiel

发明人： Matus Banyay ,  Frank Thiel

IPC分类号： G01B11/02 ,  A61C19/04

CPC分类号： G01B11/02 ,  A61C9/0066 ,  A61C19/04 ,  G01B11/0608 ,  G01B11/2513 ,  G02B21/0072 ,  G02B27/48

摘要： The invention relates to a method and a device (20) for three-dimensional measurement of an object (6) using a confocal microscopy method comprising a laser source (21) for generating an illumination beam (3), a focusing optics (4) for focusing the illumination beam (3) on at least one measuring point (5, 23) on a surface of the object (6) to be measured, a detector (10) for detecting an observation beam (9) reflected by the surface of the object (6), a confocal observation optics (7), which allows only the observation beam (9) that is focused on the surface of the object (6) to pass through to the detector (10). The laser source (21) comprises multiple coherent laser elements (22), the laser elements (22) simultaneously emitting illumination beams (3) that are focused on multiple measuring points (5, 23) on the surface of the object (6), so that the laser elements (22) are arranged to reduce the speckle effect in the 3D-image data generated by the measurement.

摘要翻译： 本发明涉及一种使用共聚焦显微镜方法对物体（6）进行三维测量的方法和装置（20），所述共聚焦显微镜方法包括用于产生照明光束（3）的激光源（21），聚焦光学器件（4） 用于将所述照明光束（3）聚焦在待测量物体（6）的表面上的至少一个测量点（5,23）上;检测器（10），用于检测由所述待测物体的表面反射的观察光束（9） 物体（6），仅允许聚焦在物体（6）的表面上的观察光束（9）通过到检测器（10）的共聚焦观察光学器件（7）。 激光源（21）包括多个相干激光元件（22），激光元件（22）同时发射聚焦在物体（6）表面上的多个测量点（5,23）上的照明光束（3） 使得激光元件（22）被布置成减少由测量生成的3D图像数据中的斑点效应。

公开(公告)号：US08160334B2

公开(公告)日：2012-04-17

申请号：US12780511

申请日：2010-05-14

申请人： Frank Thiel ,  Joachin Pfeiffer

发明人： Frank Thiel ,  Joachin Pfeiffer

IPC分类号： G06K9/00

CPC分类号： G01B11/2513 ,  A61C9/006 ,  A61C13/0004 ,  G01B11/2518

摘要： A method for optically measuring an object by means of an optical recording apparatus includes a triangulation method. A first shutter means is used to produce a first pattern and to project the first pattern as a first projection beam onto the object to be measured. At least one further shutter means is used to produce a further pattern and to project the further pattern as a further projection beam onto the object to be measured. The first pattern and the further pattern are passed back from the object as observation beams and are recorded by at least one recording means in order to obtain a three-dimensional data record of the object. The projected first pattern and the further pattern are recorded at the same time in at least one triangulation recording using the at least one recording means.

摘要翻译： 通过光学记录装置光学测量物体的方法包括三角测量方法。 第一快门装置用于产生第一图案并且将第一图案作为第一投影光束投影到待测量对象上。 使用至少一个另外的快门装置来产生另外的图案并且将另外的图案作为另外的投影光束投射到待测量的对象上。 第一图案和另外的图案作为观察光束从物体返回，并且由至少一个记录装置记录，以便获得对象的三维数据记录。 使用至少一个记录装置在至少一个三角测量记录中同时记录投影的第一图案和另外的图案。

公开(公告)号：US07126239B2

公开(公告)日：2006-10-24

申请号：US10149729

申请日：2001-09-19

申请人： Stephan Bentele-Calvör ,  Torsten Grotendiek ,  Klaus Mindner ,  Frank Thiel ,  Sabine Aust ,  Andrea Link

发明人： Stephan Bentele-Calvör ,  Torsten Grotendiek ,  Klaus Mindner ,  Frank Thiel ,  Sabine Aust ,  Andrea Link

IPC分类号： B60B21/16

CPC分类号： B60R21/013 ,  B60R2021/01006 ,  B60R2021/01322

摘要： A method for triggering at least one restraint means, triggering signals from peripheral acceleration sensors being released by signals from centrally situated acceleration sensors. In this context, a release threshold is raised in the case of a detected misuse behavior, or the release for the triggering signals is blocked.

摘要翻译： 用于触发至少一个约束装置的方法，触发来自外围加速度传感器的信号由来自位于中心的加速度传感器的信号释放。 在这种情况下，在检测到的滥用行为的情况下提高释放阈值，或者触发信号的释放被阻止。