System and method for determining maximum operational parameters used in maskless applications
    1.
    发明授权
    System and method for determining maximum operational parameters used in maskless applications 有权
    用于确定无掩模应用中使用的最大操作参数的系统和方法

    公开(公告)号:US07145636B2

    公开(公告)日:2006-12-05

    申请号:US11022925

    申请日:2004-12-28

    IPC分类号: G03B27/42 G03B27/54

    CPC分类号: G03F7/70508 G03F7/70291

    摘要: A lithographic method and apparatus used to pattern an object. An illumination source supplies a beam of radiation. A pattern generator forms a pattern to pattern a beam of radiation using the pattern data. A projection system projects the patterned beam onto a target portion of a substrate supported by a stage during an exposure operation. A control module determines a respective maximum operational parameter for the illumination source, the pattern generator, and/or the stage.

    摘要翻译: 用于对对象进行图案化的光刻方法和装置。 照明源提供辐射束。 图案生成器使用图案数据形成用于对辐射束进行图案化的图案。 在曝光操作期间,投影系统将图案化的光束投射到由支撑的基板的目标部分上。 控制模块确定照明源,图案发生器和/或台的各自的最大操作参数。

    Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing a datapath having a balanced calculation load
    3.
    发明申请
    Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing a datapath having a balanced calculation load 有权
    利用具有平衡计算负荷的数据路径的平版印刷设备和设备制造方法

    公开(公告)号:US20070009146A1

    公开(公告)日:2007-01-11

    申请号:US11167918

    申请日:2005-06-28

    IPC分类号: G06K9/00 G06F17/50

    CPC分类号: G03F7/70508 G03F7/70291

    摘要: A lithography apparatus with a data-path for converting a representation of a requested dose pattern to a sequence of control data suitable for controlling an array of individually controllable elements. The data path comprises a plurality of data manipulation devices and a calculation load controller for balancing a calculation load between the data manipulation devices. A device manufacturing method using elements of the lithography apparatus, and a flat panel display and integrated circuit device manufactured using the method.

    摘要翻译: 一种具有数据路径的光刻设备,用于将请求的剂量图案的表示转换为适于控制单独可控元件的阵列的一系列控制数据。 数据路径包括多个数据操作装置和用于平衡数据操纵装置之间的计算负荷的计算负载控制器。 使用光刻设备的元件的器件制造方法,以及使用该方法制造的平板显示器和集成电路器件。

    System and method for determining maximum operational parameters used in maskless applications
    5.
    发明授权
    System and method for determining maximum operational parameters used in maskless applications 有权
    用于确定无掩模应用中使用的最大操作参数的系统和方法

    公开(公告)号:US07791710B2

    公开(公告)日:2010-09-07

    申请号:US11546905

    申请日:2006-10-13

    IPC分类号: G03B27/32 G03B27/42 G03B27/54

    CPC分类号: G03F7/70508 G03F7/70291

    摘要: A lithographic method and apparatus for determining operational parameters of a maskless lithography tool. In an embodiment, an amount of data in a datapath of the maskless lithography system is reduced. A maximum value of at least one operational parameter of the maskless lithography system is determined responsive to the reduced amount of data in the datapath.

    摘要翻译: 一种用于确定无掩模光刻工具的操作参数的光刻方法和装置。 在一个实施例中,减少了无掩模光刻系统的数据通路中的数据量。 响应于数据路径中的数据量的减少来确定无掩模光刻系统的至少一个操作参数的最大值。