公开(公告)号：US20080208507A1

公开(公告)日：2008-08-28

申请号：US12115768

申请日：2008-05-06

申请人： PEILIN SONG ,  Tian Xia ,  Alan J. Weger ,  Franco Stellari ,  Stanislav V. Polonsky

发明人： PEILIN SONG ,  Tian Xia ,  Alan J. Weger ,  Franco Stellari ,  Stanislav V. Polonsky

IPC分类号： G01R31/02

CPC分类号： G01R31/318538 ,  G01R31/311

摘要： A mechanism for diagnosing broken scan chains based on leakage light emission is provided. An image capture mechanism detects light emission from leakage current in complementary metal oxide semiconductor (CMOS) devices. The diagnosis mechanism identifies devices with unexpected light emission. An unexpected amount of light emission may indicate that a transistor is turned off when it should be turned on or vice versa. All possible inputs may be tested to determine whether a problem exists with transistors in latches or with transistors in clock buffers. Broken points in the scan chain may then be determined based on the locations of unexpected light emission.

摘要翻译： 提供了一种基于泄漏光发射来诊断断层扫描链的机构。 图像捕获机构检测互补金属氧化物半导体（CMOS）器件中的泄漏电流的发光。 诊断机制识别具有意外发光的设备。 意外的发光量可能表明当它应该被打开时晶体管被关闭，反之亦然。 可以测试所有可能的输入以确定锁存器中的晶体管或时钟缓冲器中的晶体管是否存在问题。 然后可以基于意外光发射的位置来确定扫描链中的断点。

公开(公告)号：US07426448B2

公开(公告)日：2008-09-16

申请号：US10771218

申请日：2004-02-03

申请人： Peilin Song ,  Tian Xia ,  Alan J. Weger ,  Franco Stellari ,  Stanislav V. Polonsky

发明人： Peilin Song ,  Tian Xia ,  Alan J. Weger ,  Franco Stellari ,  Stanislav V. Polonsky

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G01R31/318538 ,  G01R31/311

摘要： A mechanism for diagnosing broken scan chains based on leakage light emission is provided. An image capture mechanism detects light emission from leakage current in complementary metal oxide semiconductor (CMOS) devices. The diagnosis mechanism identifies devices with unexpected light emission. An unexpected amount of light emission may indicate that a transistor is turned off when it should be turned on or vice versa. All possible inputs may be tested to determine whether a problem exists with transistors in latches or with transistors in clock buffers. Broken points in the scan chain may then be determined based on the locations of unexpected light emission.

摘要翻译： 提供了一种基于泄漏光发射来诊断断层扫描链的机构。 图像捕获机构检测互补金属氧化物半导体（CMOS）器件中的泄漏电流的发光。 诊断机制识别具有意外发光的设备。 意外的发光量可能表明当它应该被打开时晶体管被关闭，反之亦然。 可以测试所有可能的输入以确定锁存器中的晶体管或时钟缓冲器中的晶体管是否存在问题。 然后可以基于意外光发射的位置来确定扫描链中的断点。

公开(公告)号：US07788058B2

公开(公告)日：2010-08-31

申请号：US12115768

申请日：2008-05-06

申请人： Peilin Song ,  Tian Xia ,  Alan J. Weger ,  Franco Stellari ,  Stanislav V. Polonsky

发明人： Peilin Song ,  Tian Xia ,  Alan J. Weger ,  Franco Stellari ,  Stanislav V. Polonsky

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G01R31/318538 ,  G01R31/311

摘要： A mechanism for diagnosing broken scan chains based on leakage light emission is provided. An image capture mechanism detects light emission from leakage current in complementary metal oxide semiconductor (CMOS) devices. The diagnosis mechanism identifies devices with unexpected light emission. An unexpected amount of light emission may indicate that a transistor is turned off when it should be turned on or vice versa. All possible inputs may be tested to determine whether a problem exists with transistors in latches or with transistors in clock buffers. Broken points in the scan chain may then be determined based on the locations of unexpected light emission.

摘要翻译： 提供了一种基于泄漏光发射来诊断断层扫描链的机构。 图像捕获机构检测互补金属氧化物半导体（CMOS）器件中的泄漏电流的发光。 诊断机制识别具有意外发光的设备。 意外的发光量可能表明当它应该被打开时晶体管被关闭，反之亦然。 可以测试所有可能的输入以确定锁存器中的晶体管或时钟缓冲器中的晶体管是否存在问题。 然后可以基于意外光发射的位置来确定扫描链中的断点。

公开(公告)号：US06909295B2

公开(公告)日：2005-06-21

申请号：US10669305

申请日：2003-09-24

申请人： Stanislav V. Polonsky ,  Alan J. Weger ,  Moyra K. Mc Manus

发明人： Stanislav V. Polonsky ,  Alan J. Weger ,  Moyra K. Mc Manus

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R31/26 ,  G01R31/303 ,  G06F19/00 ,  H01L21/00

CPC分类号： G01R31/025 ,  G01R31/2621

摘要： Disclosed are a method and system for analyzing leakage current luminescence in CMOS circuits. The method comprises the steps of collecting light emission data from each of a plurality of CMOS circuits, and separating the CMOS circuits into first and second groups. For the first group of CMOS circuits, the emission data from the CMOS circuits are analyzed, based on the presence or absence of leakage light from the CMOS circuits, to identify logic states for the CMOS circuits. For the second group of CMOS circuits, the emission data from the CMOS circuits are analyzed, based on modulation of the intensity of the light from the CMOS circuits, to determine values for given parameters of the circuits. These parameters may be, for example, temperature, cross-talk or power distribution noise.

摘要翻译： 公开了一种用于分析CMOS电路中的漏电流发光的方法和系统。 该方法包括以下步骤：从多个CMOS电路中的每一个收集发光数据，并将CMOS电路分离成第一和第二组。 对于第一组CMOS电路，基于来自CMOS电路的泄漏光的存在或不存在来分析来自CMOS电路的发射数据，以识别CMOS电路的逻辑状态。 对于第二组CMOS电路，基于来自CMOS电路的光的强度的调制来分析来自CMOS电路的发射数据，以确定电路的给定参数的值。 这些参数可以是例如温度，串扰或功率分配噪声。

公开(公告)号：US07078694B2

公开(公告)日：2006-07-18

申请号：US10202301

申请日：2002-07-24

申请人： Stanislav V. Polonsky ,  Roger H. Koch ,  Moyra K. McManus

发明人： Stanislav V. Polonsky ,  Roger H. Koch ,  Moyra K. McManus

IPC分类号： H01L27/18

CPC分类号： G01J1/44 ,  G01J1/00

摘要： A system and method for providing spatial, temporal, energy-resolving detection of single photons using superconducting transmission lines.

摘要翻译： 使用超导传输线提供单光子的空间，时间，能量分辨检测的系统和方法。