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1.

发明授权
Method of examining the quality of electron-optical images and devices for carrying out this method 失效
标题翻译：检查电子光学图像质量的方法和进行该方法的装置

公开(公告)号：US2986634A

公开(公告)日：1961-05-30

申请号：US78658159

申请日：1959-01-13

申请人： PHILIPS CORP

发明人： LE POOLE JAN BART

IPC分类号： A01K97/11 , H01J37/21

CPC分类号： H01J37/21

2.

发明授权
X-ray shadow microscope 失效
标题翻译： X光阴影显微镜

公开(公告)号：US3030506A

公开(公告)日：1962-04-17

申请号：US82925259

申请日：1959-07-24

申请人： PHILIPS CORP

发明人： LE POOLE JAN BART

IPC分类号： G01Q30/06 , G21K7/00 , H01J35/14

CPC分类号： H01J35/14 , G21K7/00

3.

发明授权
Method of examining the quality of electron-optical images and devices for carrying out this method 失效

公开(公告)号：US2873378A

公开(公告)日：1959-02-10

申请号：US51672755

申请日：1955-06-20

申请人： PHILIPS CORP

发明人： LE POOLE JAN BART

IPC分类号： A01K97/11 , H01J37/21

CPC分类号： H01J37/21

4.

发明授权
Electron-optical system with a magnetic focussing lens having a cooling means 失效
标题翻译：具有具有冷却装置的磁性聚焦透镜的电子 - 光学系统

公开(公告)号：US3394254A

公开(公告)日：1968-07-23

申请号：US46098165

申请日：1965-06-03

申请人： PHILIPS CORP

发明人： LE POOLE JAN BART

IPC分类号： H01J37/141

CPC分类号： H01J37/141

5.

发明授权
Electron microscope having a four-pole electron-optical lens assembly and a scanning line-like electron beam 失效
标题翻译：具有四极电子光学透镜组件和扫描线状电子束的电子显微镜

公开(公告)号：US3389252A

公开(公告)日：1968-06-18

申请号：US46137965

申请日：1965-06-04

申请人： PHILIPS CORP

发明人： LE POOLE JAN BART

IPC分类号： H01J37/04 , H01J37/28

CPC分类号： H01J37/28 , H01J37/04

$Electron-diffracting device$

6.

发明授权
Electron-diffracting device 失效
标题翻译：电子衍射装置

公开(公告)号：US3078368A

公开(公告)日：1963-02-19

申请号：US6737660

申请日：1960-11-04

申请人： PHILIPS CORP

发明人： LE POOLE JAN BART , JOHANNES KRAMER

IPC分类号： H01J37/21 , H01J37/22

CPC分类号： H01J37/224 , H01J37/21