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    Methods of characterizing compositions
    3.
    发明申请
    Methods of characterizing compositions 审中-公开
    表征组合物的方法

    公开(公告)号：US20070110214A1

    公开(公告)日：2007-05-17

    申请号：US11525930

    申请日：2006-09-25

    申请人： Simon Bates

    发明人： Simon Bates

    IPC分类号： G01N23/223

    CPC分类号： G01N23/207 ,  G01N23/2076 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

    摘要： The present invention is directed to methods for characterizing the structure of compositions such as amorphous, crystalline, and combinations thereof. The methods are directed to analyzing pairwise distribution function plots of the components of the compositions and comparing them to the pairwise distribution function plot of the composition.

    摘要翻译： 本发明涉及用于表征组合物的结构的方法，例如无定形，结晶及其组合。 该方法旨在分析组合物组分的成对分布函数图并将其与组合物的成对分布函数图进行比较。

    System and method for matching diffraction patterns
    4.
    发明授权
    System and method for matching diffraction patterns 有权
    用于匹配衍射图案的系统和方法

    公开(公告)号：US07372941B2

    公开(公告)日：2008-05-13

    申请号：US10635113

    申请日：2003-08-06

    申请人： Igor Ivanisevic ,  Simon Bates ,  David E. Bugay ,  Barbara C. Stahly ,  Donald R. Hallenbeck

    发明人： Igor Ivanisevic ,  Simon Bates ,  David E. Bugay ,  Barbara C. Stahly ,  Donald R. Hallenbeck

    IPC分类号： G01N23/20

    CPC分类号： G01N23/2055

    摘要： A method of analyzing patterns. The method comprises: receiving a first diffraction pattern; receiving a second diffraction pattern; receiving a third diffraction pattern; determining a similarity between the first and second diffraction patterns; determining a similarity between the first and third diffraction pattern; determining a similarity between the second and third diffraction pattern; and performing hierarchical cluster analysis on the first and second diffraction pattern based on the determined similarity.

    摘要翻译： 分析模式的方法。 该方法包括：接收第一衍射图; 接收第二衍射图案; 接收第三衍射图; 确定所述第一和第二衍射图案之间的相似度; 确定第一和第三衍射图案之间的相似度; 确定第二和第三衍射图案之间的相似度; 以及基于所确定的相似度对所述第一和第二衍射图案执行层次聚类分析。

    Method for Indexing Crystalline Solid Forms
    6.
    发明申请
    Method for Indexing Crystalline Solid Forms 审中-公开
    索引结晶固体形式的方法

    公开(公告)号：US20070270397A1

    公开(公告)日：2007-11-22

    申请号：US10577239

    申请日：2004-10-27

    申请人： Simon Bates ,  Igor Ivanisevic ,  Barbara Stahly

    发明人： Simon Bates ,  Igor Ivanisevic ,  Barbara Stahly

    IPC分类号： A01N43/00

    CPC分类号： G01N23/207

    摘要： Crystalline solid forms may be characterized by their unit cell parameters through a process known as indexing. An embodiment of the invention searches for the unit cell parameters of a crystalline solid form using a Monte-Carlo algorithm that incorporates certain rules to reduce search space. Another embodiment refines the results of the search to identify the correct unit cell parameters of the crystalline solid form. These methods may be automated, conveniently requiring little interaction from the user. The indexing method of the invention may be applied, for example, to distinguish between different crystalline solid forms of a substance.

    摘要翻译： 结晶固体形式可以通过称为分度的方法通过其单元电池参数来表征。 本发明的实施例使用包含某些规则以减少搜索空间的蒙特卡罗算法搜索结晶固体形式的晶胞参数。 另一个实施方案提炼出结晶固体形式的正确的晶胞参数的搜索结果。 这些方法可以是自动的，方便地要求用户几乎没有交互。 本发明的分度方法可以用于例如区分物质的不同结晶固体形式。

    System and Method for Matching Diffraction Patterns
    8.
    发明申请
    System and Method for Matching Diffraction Patterns 有权
    用于匹配衍射图案的系统和方法

    公开(公告)号：US20080120051A1

    公开(公告)日：2008-05-22

    申请号：US11935965

    申请日：2007-11-06

    申请人： Igor IVANISEVIC ,  Simon Bates ,  David E. Bugay ,  Barbara C. Stahly ,  Donald R. Hallenbeck

    发明人： Igor IVANISEVIC ,  Simon Bates ,  David E. Bugay ,  Barbara C. Stahly ,  Donald R. Hallenbeck

    IPC分类号： G01R13/02

    CPC分类号： G01N23/2055

    摘要： A method of analyzing patterns. The method comprises: receiving a first diffraction pattern; receiving a second diffraction pattern; receiving a third diffraction pattern; determining a similarity between the first and second diffraction patterns; determining a similarity between the first and third diffraction pattern; determining a similarity between the second and third diffraction pattern; and performing hierarchical cluster analysis on the first and second diffraction pattern based on the determined similarity.

    摘要翻译： 分析模式的方法。 该方法包括：接收第一衍射图; 接收第二衍射图案; 接收第三衍射图; 确定所述第一和第二衍射图案之间的相似度; 确定第一和第三衍射图案之间的相似度; 确定第二和第三衍射图案之间的相似度; 以及基于所确定的相似度对所述第一和第二衍射图案执行层次聚类分析。

    Analysis and Screening of Solid Forms Using the Atomic Pair Distribution Function
    9.
    发明申请
    Analysis and Screening of Solid Forms Using the Atomic Pair Distribution Function 审中-公开
    使用原子对分布函数分析和筛选固体形式

    公开(公告)号：US20070243620A1

    公开(公告)日：2007-10-18

    申请号：US10590204

    申请日：2005-02-24

    申请人： Simon Bates ,  Igor Ivanisevic

    发明人： Simon Bates ,  Igor Ivanisevic

    IPC分类号： G01N23/20 ,  G06F19/00 ,  G11C17/00

    CPC分类号： G01N23/207

    摘要： A method that comprises providing a PDF trace of a first sample of a substance, providing a PDF trace of a second sample of the substance, and comparing the PDF traces to determine whether the substance of the first sample and the substance of the second sample have the same or different solid forms. This embodiment may be used, for example, to distinguish one solid form of a compound from another, to screen for new solid forms of a compound, or to determine whether a disordered crystalline compound has the same solid form as another crystalline sample of the compound.

    摘要翻译： 一种方法，其包括提供物质的第一样品的PDF踪迹，提供所述物质的第二样品的PDF踪迹，以及比较所述PDF踪迹以确定所述第一样品的物质和所述第二样品的物质是否具有 相同或不同的固体形式。 该实施方案可用于例如将化合物的一种固体形式与另一种固体形式区分开，以筛选化合物的新固体形式，或者确定无序结晶化合物是否与化合物的另一结晶样品具有相同的固体形式 。

    Antennas
    10.
    发明授权
    Antennas 有权
    天线

    公开(公告)号：US08599072B2

    公开(公告)日：2013-12-03

    申请号：US12136240

    申请日：2008-06-10

    申请人： Christopher Reed ,  Simon Bates ,  Graham Dolman ,  David Adams ,  William Waddoup ,  Dean Kitchener

    发明人： Christopher Reed ,  Simon Bates ,  Graham Dolman ,  David Adams ,  William Waddoup ,  Dean Kitchener

    IPC分类号： H01Q1/24

    CPC分类号： H01Q1/246

    摘要： A broadband antenna structure has an electrically conductive enclosure with a closed end, over which a non-electrically conductive cover is placed. A radiating portion of an antenna feed layer comprising a conductive patch antenna element is placed in between the enclosure and the cover. The patch antenna element design is inherently broader band than that of conventional cavity-backed slot-radiating antennas, which are constrained in bandwidth by the need to keep the cavity formed in the enclosure small. The dielectric constant of the dielectric material of the cover reduces the required size of the conductive antenna element. The broadband antenna structure may be connected with an electronic device to form an antenna arrangement in which a portion of the antenna feed layer extends through an opening in a surface of an antenna housing, the portion being within an electronic device enclosure of the electronic device.

    摘要翻译： 宽带天线结构具有带有封闭端的导电外壳，在其上放置非导电盖。 包括导电贴片天线元件的天线馈电层的辐射部分放置在外壳和盖之间。 贴片天线元件设计固有地比传统的腔背隙隙辐射天线的宽带宽，这些天线元件通过需要将形成在外壳中的腔体保持在较小的范围内而受到带宽的约​​束。 盖的电介质材料的介电常数降低了导电天线元件所需的尺寸。 宽带天线结构可以与电子设备连接以形成天线布置，其中天线馈送层的一部分延伸穿过天线壳体的表面中的开口，该部分在电子设备的电子设备外壳内。