-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：US2933677A
公开(公告)日：1960-04-19
申请号：US53079755
申请日：1955-08-26
Applicant: UNIT PROCESS ASSEMBLIES
Inventor： LIEBER SIDNEY U
IPC: G01B7/06
CPC classification number: G01B7/105
-
公开(公告)号：US3456115A
公开(公告)日：1969-07-15
申请号：US3456115D
申请日：1965-10-22
Applicant: UNIT PROCESS ASSEMBLIES
Inventor： LIEBER SIDNEY U , HAY WILLIAM D
IPC: G01N23/203 , G01T1/18 , G21F5/02 , H01J35/16
CPC classification number: G01N23/203
-
3.发明授权Workpiece support and mask assemblies for radiation backscatter measuring instruments 失效辐射背板测量仪器的工作支持和面罩组件
公开(公告)号：US3421000A
公开(公告)日：1969-01-07
申请号：US3421000D
申请日：1965-10-22
Applicant: UNIT PROCESS ASSEMBLIES
Inventor： LIEBER SIDNEY U , HAY WILLIAM D
IPC: G01N23/203 , G01Q30/04 , H01J1/52
CPC classification number: G01N23/203
-
公开(公告)号：US3496359A
公开(公告)日：1970-02-17
申请号：US3496359D
申请日：1966-02-09
Applicant: UNIT PROCESS ASSEMBLIES
Inventor： WEINSTOCK JACQUES J , WADE DONALD E , LIEBER SIDNEY U , HAY WILLIAM D
IPC: G01N23/203 , G01T1/16 , H01J39/00
CPC classification number: G01N23/203
-
公开(公告)号：US3271572A
公开(公告)日：1966-09-06
申请号：US21932262
申请日：1962-08-24
Applicant: UNIT PROCESS ASSEMBLIES
Inventor： LIEBER SIDNEY U , JEROME LEINER
IPC: G01N23/203 , G01R23/09 , G01R23/10
CPC classification number: G01R23/09 , G01N23/203 , G01R23/10
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.009 seconds)
